CC BY
3
УДК 658.562:621.9
DOI: 10.24412/2071-6168-2023-4-450-454
КРИТИЧНЫЕ ПЛАНЫ НЕПРЕРЫВНОГО СТАТИСТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ
В.Б. Морозов, А.С. Горелов
Рассмотрен "критичный" план статистического непрерывного выборочного контроля изделий, разработанный Беляевым Ю.К. Проведен анализ плана по сравнению с аналогичными планами.
Ключевые слова: непрерывный выборочный контроль, частота контроля, предельный средний уровень дефектности.
Для автоматизации статистического контроля "потока" продукции могут быть использованы методы непрерывного выборочного контроля. Периодическая выборка изделий или проб из "потока" позволяет равномерно загружать контрольное устройство, оперативно получать результат контроля и при необходимости проводить наладку оборудования [1].
Первый план статистического непрерывного приемочного контроля модели CSP-1 был разработан в США Доджем. [2].
В Тульском государственном университете разработаны план автоматизированного выборочного контроля модели ACSP-1 [1] и комбинированный план CCSP-1[3].
При использовании плана CSP-1 контрольное устройство линии начинает сплошную проверку продукции в ходе производственного процесса, начиная с первого выпускаемого изделия. Такая проверка производится до тех пор, пока через контрольное устройство не пройдет подряд /^ годных изделий. После этого начинается выборочный контроль с частотой f , продолжающийся до тех пор, пока снова не будет обнаружен дефект. Сразу возобновляется сплошная проверка, которая продолжается до тех пор, пока не будет выполнено требование прохождения через контрольное устройство подряд /^ годных изделий.
При одностадийном плане АCSP-1 в автоматической линии контролируют каждое f 1 изделие. При этом текущая последовательность /^ изделий, выпущенных линией, находится в накопителе.
При появлении среди выборочно контролируемых изделий дефектной объем накопителя отбраковывается или разбраковывается, а линия налаживается.
При использовании первой модели плана CCSP-1 контрольное устройство линии начинает сплошную проверку продукции в ходе производственного процесса, начиная с первого выпускаемого изделия. Такая проверка производится до тех пор, пока через контрольное устройство не пройдет подряд /3 годных изделий. После этого начинается выборочный контроль с частотой f. При этом текущая
последовательность /4 изделий, выпущенных линией, находится в накопителе. При появлении среди
выборочно контролируемых изделий дефектной объем накопителя отбраковывается или разбраковывается, а линия налаживается. После наладки начинается сплошная проверка, которая продолжается до тех пор, пока не будет изготовлено подряд /3 годных изделий.
Критичные планы непрерывного выборочного контроля [4] разработаны выдающимся русским математиком Юрием Константиновичем Беляевым (род. 31.08.1932г.), работавшим в МГУ, в настоящее время являющимся профессором-пенсионером (professor emeritus) университета в Швеции. Беляев Ю.К. не специализировался в области планов контроля, эту задачу он математически решил как одну из многих разнообразных, им успешно решеных.
Критичные планы обладают повышенной чувствительностью к ухудшению качества продукции. Эти планы предусматривают проведение контроля в двух режимах. Во время выборочного контроля
отбирают каждое f 1 изделие. При обнаружение дефектного изделия переходят к сплошному контролю. При этом объем последующих контрольных операций при обнаружении каждого очередного дефектного изделия возрастает на /5 единиц. После окончания сплошного контроля вновь возвращаются к
выборочному, контролируя при этом каждое f 1 изделие.
Для критичных планов, как и для плана CSP-1, возрастание объема сплошного контроля происходит за счет произведенных новых изделий, а не за счет контроля пропущенных в межпроверочный период, то есть при окончательных отказах бракованные изделия проходят дальше в "потоке". Этого недостатка лишены планы АCSP-1 и CCSP-1.
Беляев Ю.К. вывел формулу средней доли контролируемых изделий для критичных планов:
F-_f_
1-(1- f) /5 q
450
Формула справелива при д /5 < 1 . Из формулы следует, что при достижении д = 1 происходит переход от выборочного к сплошному контролю изделий.
Таким образом, критичность планов состоит в том, что засорение потока дефектной продукцией полностью прекращается при определенном значении д , которое должно быть больше приемочного
(реально существующего) уровня дефектности. Это значение д может быть меньше или равно браковочному уровню дефектности.
Для планов Доджа и плана CCSP-1 нет перехода на сплошной контроль.
Для плана ACSP-1 переход на сплошной контроль или удаление недопустимо засоренной части продукции начинается с величины:
1 -/ /2 /
Выведем формулы для нахождения среднего уровня выходной дефектности критичного плана (обозначим его CSP-k).
В случае контроля с заменой дефектных изделий средний выходной уровень дефектности д определится:
Б - Бс
д =--
N
Для плана CSP-k:
7, и =
1 -/5 д /д
N = и + V и =_г1_, V = — , Б = N д, Бс = д(и + /V),
q = д (1 - . / . г )
/ - г5 д + /5 / д
В случае контроля без замены дефектных изделий средний выходной уровень дефектности q определится:
Б - Бс
д =--
N - Б -
Для плана CSP-k:
д = д (1 - . /-/1 )
/ - г5 д + /5 / д -/д
Рассмотрим зависимости среднего выходного уровня дефектности <7 для планов CSP-1, АCSP-1 и CCSP-1 и CSP-k.
На рис.1 представлены зависимости среднего уровня дефектности после контроля для планов CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-k в случае контроля с заменой дефектных изделий и разбраковкой накопителя при значениях: / = 0,01, /1 = 47 (для плана CSP-1) , /^ =450 (для плана АCSP-1) , /3 =38 , /4 =200 (для плана СCSP-1), /5 =15 (для плана CSP-k).
Планы гарантируют одинаковый предел среднего выходного уровня дефектности =0,054. План CSP-k переходит на сплошной контроль при д =0,0667. План ACSP-1 переходит на сплошной контроль при д =0,22.
При малых значениях д все планы обеспечивают приблизительно одинаковое снижение выходного уровня дефектности д .
На рис.2 представлены зависимости средней доли проконтролированных изделий для планов для планов CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-k в случае контроля с заменой дефектных изделий и разбраковкой накопителя при значениях: / = 0,01, /1 = 47 (для плана CSP-1) , /'2 =450 (для плана АCSP-1) , /'3 =38 ,
/4 =200 (для плана СCSP-1), /5 =15 (для плана CSP-k).
Зависимости показывают, что план CSP-k имеет преимущество (меньший объем контроля) при значениях д < 0,064, но объем контроля резко растет при приближении к критическому значению
д =0,0667.
На рис. 3 представлены зависимости среднего уровня дефектности после контроля для планов CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-k в случае контроля без замены дефектных изделий с разбраковкой накопи-
теля при значениях: / = 0,01, ¡1 = 45 (для плана CSP-1) , ¡2 =450 (для плана АCSP-1) , ¿3=37 , /4 =200 (для плана СCSP-1), ¡5 =15 (для плана CSP-k).
ч
0,050 0.040
0.030 0,020
0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 0.10 0.11
Рис. 1. Зависимости среднего уровня дефектности после контроля от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-к (4)в случае контроля с заменой дефектных изделий и разбраковкой накопителя
Рис. 2. Зависимости средней доли проконтролированных дефектных изделий от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-к (4) в случае контроля с заменой дефектных изделий и разбраковкой накопителя
Планы гарантируют одинаковый предел среднего выходного уровня дефектности qL =0,057. При малых значениях q все планы обеспечивают приблизительно одинаковое снижение выходного уровня дефектности q .
0,045
0,035
0.025
2
3
4 Р
0.05 0.06 0.07 0.0Е 0.09 0.10 О.П
щ
Рис. 3. Зависимости среднего уровня дефектности после контроля от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-к (4)в случае контроля без замены дефектных изделий с разбраковкой накопителя
На рис.4 представлены зависимости средней доли проконтролированных изделий для планов CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-k в случае контроля без замены дефектных изделий с разбраковкой накопителя при значениях: / = 0,01, ¡1 = 45 (для плана CSP-1) , ¡2 =450 (для плана АCSP-1) ,
¡3 =37 , ¡4 =200 (для плана СCSP-1), /5 =15 (для плана CSP-k).
Зависимости показывают аналогичные тенденции, что и в случае контроля с заменой дефектных изделий и разбраковкой накопителя.
План CSP-k вместе с планом CSP-1 снижает q по сравнению с q в меньшей степени, чем планы ACSP-1 и CCSP-1. При малых значениях q наибольшее снижение q дает план ACSP-1, однако
ACSP-1 обладает наибольшим средним объемом контроля (что компенсируется удобством автоматизации процедуры контроля). План CCSP-1 занимает по обеим характеристикам промежуточное положение между CSP-1 и ACSP-1.
F
0,40 030 0,20 0.10 о
0,05 0,06 0,07 0,08 0,09 0,10 ij
Рис. 4. Зависимости средней доли проконтролированных дефектных изделий от уровня дефектности до контроля для планов CSP-1 (1), ACSP-1 (2), CCSP-1 (3), CSP-k (4) в случае контроля без замены дефектных изделий с разбраковкой накопителя
В заключении следует отметить, что план CSP-k не использовался при создании документов статистического контроля (стандартов, методик и т.п.). Достоинство плана состоит в простоте и изящности формулы средней доли контролируемых изделий, выведенной Беляевым Ю.К. По сравнению с ней формулы Доджа, содержащие степенные зависимости, определяют значительную трудоемкость анализа планов. В то же время, саму процедуру использования плана CSP-k с постоянным добавлением объема сплошного контроля технически трудно реализовать.
В целом, современные расчетные возможности позволяют сравнить при конкретном использовании все известные планы непрерывного выборочного контроля и выбрать из них оптимальный по комплексной методике оценки плана [5].
Список литературы
1. Горелов А.С., Морозов В.Б., Саввина Е.А. Методологические основы автоматизированного статистического контроля качества продукции: учебник. Тула: Изд-во ТулГУ, 2020. 332 с.
2. Dodge H.F., Romig H.G. Single Sampling and Double Sampling Inspection Tables // Bell Sys. Tech. Jour., Vol. XX , 1941. P. 1-61.
3. Морозов В.Б., Горелов А.С. План CCSP-1 непрерывного статистического контроля. // Известия Тульского государственного университета. Технические науки, 2021. Вып. 12. С. 368 - 372.
4. Беляев Ю.К. Вероятностные методы выборочного контроля. М.: Наука, 1975. 408 с.
5. Морозов В.Б., Горелов А.С., Саввина Е.А. Аналитическая методика выбора планов непрерывного статистического контроля качества. // Известия Тульского государственного университета. Технические науки. 2022. Вып. 10. С. 530-533.
Морозов Владимир Борисович, канд. техн. наук, доцент, qtay@rambler.ru, Россия, Тула, Министерство образования Тульской области,
Горелов Александр Стефанович, канд. техн. наук, доцент, asgorelov@rambler.ru, Россия, Тула, Тульский государственный университет
CRITICAL PLANS FOR CONTINUOUS STATISTICAL CONTROL V.B. Morozov, A.S. Gorelov
The "critical" plan of statistical continuous selective control ofproducts developed by Belyaev Yu.K. is considered. The analysis of the plan in comparison with similar plans is carried out.
Key words: continuous selective control, frequency of control, maximum average level of defective-
ness.
Morozov Vladimir Borisovich, candidate of technical sciences, docent, qtay@rambler.ru, Russia, Tula, Ministry of Education of the Tula Region,
Gorelov Alexander Stefanovich, candidate of technical sciences, docent, asgorelov@rambler.ru, Russia, Tula, Tula State University
УДК 338.24(075)
DOI: 10.24412/2071-6168-2023-4-454-459
САМООЦЕНКА ОРГАНИЗАЦИИ КАК ИНСТРУМЕНТ ДОСТИЖЕНИЯ УСТОЙЧИВОГО
УСПЕХА ОРГАНИЗАЦИИ
В.А. Сушников, Л.В. Черненькая, А.В. Черненький
В статье показана актуальность достижения организацией устойчивого успеха. В качестве инструмента совершенствования деятельности предложено использовать самооценку, которая позволяет провести анализ реального состояния деятельности организации, выявить слабые стороны и определить возможные корректирующие мероприятия. Рассмотрены особенности наиболее части применяемых моделей: модели делового совершенства EFQM, модели японской премии по качеству Э. Деминга, модели национальной премии США по качеству М. Болдриджа и модели премии Правительства Российской Федерации в области качества. Проведен их сравнительный анализ, даны рекомендации по использованию.
Ключевые слова: самооценка организации, системы менеджмента качества, модели управления качеством, Всеобщее управление качеством, национальные премии в области качества.
Современная экономика нацелена на решение проблемы импортозамещения в кратчайшие сроки. Растут требования потребителей к качеству и конкурентоспособности продукции, стремительно развиваются технологии, усиливается конкуренция на внутреннем рынке. В этих условиях организации должны уделять должное внимание вопросам совершенствования своей деятельности, для чего требуется проводить мониторинг деятельности организации, анализ реального состояния, выявление слабых сторон и возможных корректирующих мероприятий.
ГОСТ Р ИСО 9004-019 «Менеджмент качества. Качество организации. Руководство по достижению устойчивого успеха организации» [1] согласуется с принципами менеджмента качества, приведенными в ГОСТ Р ИСО 9000:2015 «Системы менеджмента качества. Основные положения и словарь» [2], и акцентирует внимание на механизме самооценки [3, 4]. Под самооценкой организации понимаем «всесторонний и систематический анализ деятельности организации и результатов в сравнении с системой менеджмента качества или моделью совершенства» [1].
Совершенствование организации, основанное на системном анализе улучшении деятельности, должно опираться на корректно подобранную методологию и инструменты. Самооценка организации проводится в сравнении с каким-либо эталоном, моделью. К ключевым и наиболее распространенным моделям можно отнести следующие: модель совершенства Европейского фонда управления качеством EFQM (The Euoropean Foundation for Quality Management - Европейский фонд управления качеством) [5, 6], модель японской премии по качеству Э. Деминга [7 - 10], модель национальной премии США по качеству М. Болдриджа [11, 12] и модель премии Правительства Российской Федерации в области качества [13, 14]. Если руководство организации приняло решение провести самооценку, то важно выбрать именно ту модель, которая даст наибольший эффект для достижения целей компании. Обычно используют модели национальных или известных международных премий качества.
Премии по качеству нацелены на стремление к лидерству и на внедрение принципов Всеобщего управления качеством - Total Quality Management (TQM) [15-17], направленных на поддерживание высокого качества продукции и услуг организации.
Модель совершенства EFQM Европейского фонда управления качеством разработана в 1991 году ведущими специалистами Европейским фондом менеджмента качества. Модель учитывает опыт создания моделей самооценки, достоинства и недостатки и в настоящее время является наиболее популярной [18 - 20]. Модель делового совершенства EFQM содержит девять критериев, которые разделены на две группы: «Возможности», описывающие работу предприятия, и «Результаты», показывающие эффект от работы предприятия. Каждый критерий имеет подкритерии и весовые коэффициенты (рис. 1).
454
