CC BY
3
Сушников Виктор Александрович, канд. техн. наук, доцент, Россия, Санкт-Петербург, Санкт Петербургский политехнический университет Петра Великого,
Черненькая Людмила Васильевна, д-р техн. наук, профессор, Россия, Санкт-Петербург, Санкт Петербургский политехнический университет Петра Великого,
Черненький Андрей Владимирович, канд. экон. наук, доцент, Andrey@qmd.spbstu.ru, Россия, Санкт-Петербург, Санкт Петербургский политехнический университет Петра Великого
SELF-ASSESSMENT OF THE ORGANIZA TION AS A TOOL FOR ACHIEVING SUSTAINABLE SUCCESS IN
THE ORGANIZATION
V.A. Sushnikov, L.V. Chernenkaya, A.V. Chernenkii
The article shows the relevance of achieving sustainable success for the organization. As a tool for improving activities, it is proposed to use self-assessment, which allows analyzing the real state of the organization's activities, identifying weaknesses, and identifying possible correlating measures. The features of the most widely used models are considered: the EFQM business excellence models, the E. Deming Japanese Quality Award models, the M. Baldridge US National Quality Award models, and the Government of the Russian Federation quality award models. Their comparative analysis is carried out, and recommendations for use are given.
Key words: self-assessment of the organization, quality management systems, quality management models, Total quality management, national quality awards.
Sushnikov Viktor Alexandrovich, candidate of technical sciences, docent, Russia, St. Petersburg, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University,
Chernenkaya Liudmila Vasilievna, doctor of technical science, professor, Russia, St. Petersburg, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University,
Chernenkii Andrei Vladimirovich, candidate of economic sciences, docent, Andrey@qmd.spbstu.ru, Russia, St. Petersburg, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University
УДК 658.562:621.9
DOI: 10.24412/2071-6168-2023-4-459-464
ЧЕТВЕРТАЯ И ПЯТАЯ МОДЕЛИ ПЛАНОВ НЕПРЕРЫВНОГО СТАТИСТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ
В.Б. Морозов, А.С. Горелов
Представлены планы статистического непрерывного выборочного контроля CSP-4 и CSP-5. Проведен сравнительный анализ планов CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-4, CSP-5.
Ключевые слова: непрерывный выборочный контроль, частота контроля, объем накопителя, предельный средний уровень дефектности.
Первый план статистического непрерывного приемочного контроля модели CSP-1 был разработаны в США Доджем. [1].
В Тульском политехническом институте разработаны план автоматизированного выборочного контроля модели ACSP-1 [2] и комбинированный план CCSP-1[3].
Дерман, Джонс и Либерман создали две модификации плана CSP-1, названные CSP-4 и CSP-5
[4].
При использовании четвертой модели CSP-4 контроль начинается со сплошной проверки продукции в ходе производственного процесса, начиная с первого выпускаемого изделия. Такая проверка
производится до тех пор, пока через контроль не пройдет подряд Z1 годных изделий. После этого начи-
f
нается выборочный контроль с частотой J , продолжающийся до тех пор, пока снова не будет обнаружен дефект. Сразу возобновляется сплошная проверка, которая продолжается до тех пор, пока не будет
выполнено требование прохождения через контрольное устройство подряд Z1 годных изделий. Одновременно из потока без контроля выводится объем _ 1 изделий межпроверочного периода, предшествовавшего дефектному изделию. Планом предусмотрена замена дефектных изделий, обнаруженных в ходе сплошной и выборочной проверки. Общий объем изделий уменьшается за счет вывода без контроля межпроверочного периода.
Средний выходной уровень дефектности при использовании плана CSP-4 составляет [4]:
_ (1 - /) др'1 +1 / + р'1 +1 -/р'1 +1
где д - входной уровень дефектности, р 1 д .
При использовании пятой модели CSP-5 контроль начинается со сплошной проверки продукции в ходе производственного процесса, начиная с первого выпускаемого изделия. Такая проверка производится до тех пор, пока через контроль не пройдет подряд '1 годных изделий. После этого начинается вы/
борочный контроль с частотой , продолжающийся до тех пор, пока снова не будет обнаружен дефект. Сразу возобновляется сплошная проверка, которая продолжается до тех пор, пока не будет выполнено
требование прохождения через контрольное устройство подряд '1 годных изделий. Одновременно из по-
( /-1 -1)
тока выводится объем межпроверочного периода ' , предшествовавшего дефектному изделию.
Выводимый объем подвергается контролю, годные изделия возвращаются в поток. Планом предусмотрена замена дефектных изделий, обнаруженных в ходе сплошной и выборочной проверки, а также внутри проконтролированного межпроверочного периода. Общий объем изделий в результате замены дефектных изделий остается постоянным.
Средний выходной уровень дефектности при использовании плана CSP-5 составляет [4]:
_ _ (1 - /) др'1+1 д ~ ■ ■
/ + р'1 -/р'1
Особенностью планов CSP-4 и CSP-5 является наличие действий с прошедшими через контрольный пункт, но непроконтролированными изделиями, которые находились в потоке между последними выборочно контролируемыми. Такие действия не использовались в других американских планах (CSP-1, CSP-2, CSP-3).
В отечественном плане CCSP-1 используется сочетание сплошного контроля '1 изделий, выбо-/-1
рочный контроль каждого изделия и действия с накопителем непроконтролированных изделий объемом '2 . Объем '2 подбирается при назначении плана CCSP-1 одновременно с объемом сплошного контроля '1 с цель обеспечения необходимого предела среднего выходного уровня дефектности . Рассмотрим все возможные варианты использования планов CSP-4, CSP-5, CCSP-1.
1. С заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и в накопленном объеме.
Средний выходной уровень дефектности д определится:
_ Б - Бс - Б0 д _-с--
N
где N - средний объем контролируемой совокупности изделий, Б - среднее число дефектных изделий в совокупности, Бс - среднее число удаленных и замененных на годные при сплошном и выборочном контроле дефектных изделий, Б° - среднее число проконтролированных, удаленных из накопленного объема и замененных дефектных изделий.
2. Без замены дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и при контроле накопленного объема.
_ Б - Бс - Б0 д _----
N -Бс-Бо
3. Без замены дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и при выводе из потока без контроля накопленного объема.
_ Б - Бс - Б0 д _----
N -Бс-N0
где Nо - объем удаленного без контроля накопленного объема.
4. С заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и при выводе из потока без контроля накопленного объема.
_ Б - Бс - Б0 д _----
N - N0 460
В полном объеме действий по первому варианту могут работать планы CSP-5 и СCSP-1, по четвертому варианту - планы CSP-4 и СCSP-1, по второму и третьему варианту - план CCSP-1. Проведем сравнительный анализ планов CSP-1, АCSP-1, CCSP-1, CSP-4, CSP-5.
Рассмотрим зависимости среднего выходного уровня дефектности ^ для планов CSP-1, АCSP-1, CCSP-1, CSP-5 по первому варианту. Для плана CSP-5
N = и + V
где и - математическое ожидание числа изделий, контролируемых при сплошном контроле до перехода к выборочному, V - математическое ожидание числа изделий, контролируемых во время выборочного контроля до перехода к сплошному.
и=Ч1 V = -1- ,
др'1 , /д , О = N4 , Вс = д(и + /V) , Д, = д(/ -1)
В период V входит последняя проконтролированная выборочным контролем единица, оказавшаяся дефектной.
На рис.1 представлены зависимости среднего уровня дефектности д после контроля для планов
CSP-1, ACSP-1, ^Р-1, CSP-5 при значениях: / = 0,01, '11= 52 , '13= 48 , '14= 49 , '2.2= 430 , '2.3 = 110.
Планы обеспечивают одинаковый предел среднего выходного уровня дефектности д^ = 0,050. Оценим среднюю трудоемкость при проведении контроля. Средняя доля проконтролированных изделий р определится:
р=и/
и + V - для плана CSP-1,
/V + '2
р=-
V - для плана ACSP-1,
р = и + /V + '2
р
и + V - для плана ^Р-1,
и + /V + (/-1 -1)
и + V - для плана CSP-5 .
На рис.2 представлены зависимости средней доли проконтролированных изделий для планов
для планов CSP-1, ACSP-1, ^Р-1, CSP-5 при значениях: /=0,01, '11 = 52 , '13= 48 , '1.4= 49 , '2.2= 430 , '2.3= 110.
ч
0,05 0,04 0,03 0,02
0.05 0,06 0.07 0.08 0,М 0.10 0.11 Ц
Рис. 1. Зависимости среднего уровня дефектности после контроля от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-5(4) в случае контроля с заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и в накопленном объеме
3 4
ч2
0,03 0,06 0,07 0.08 ода 0,10 0,11
Рис. 2. Зависимости средней доли проконтролированных изделий от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-5(4) в случае контроля с заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и в накопленном объеме
Рассмотрим зависимости среднего выходного уровня дефектности 1, CCSP-1, CSP-4 по четвертому варианту. Для плана CSP-4
N = и + V
Я
для планов CSP-1, АCSP-
и =
V =± ,
др'1 /д Б = N я Вс = д (и + /V) О = д (/ х-1)
В период V входит последняя проконтролированная выборочным контролем единица, оказавшаяся дефектной.
На рис.3 представлены зависимости среднего уровня дефектности после контроля для планов CSP-1, ACSP-1, ^Р-1, CSP-5 при значениях:
/ = 0,01, '11 = 47 , '1-3 = 46 , '1.4= 50 , '2.2= 482 , '2.3 = 210 .
Рис. 3. Зависимости среднего уровня дефектности после контроля от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-5(4) в случае контроля с заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и при выводе из потока
без контроля накопленного объема
Планы обеспечивают одинаковый предел среднего выходного уровня дефектности = 0,053. Оценим среднюю трудоемкость при проведении контроля. Средняя доля проконтролированных изделий Р определится:
Р =
и + /V
и + V - для плана CSP-1,
и + /V
Р =
/V
V - для плана ACSP-1,
и + /V
- для плана CSP-5 .
Р =
и + V - для плана ^Р-1, и + V На рис.4 представлены зависимости средней доли проконтролированных изделий для планов для
планов CSP-1, ACSP-1, ^Р-1, CSP-5 при значениях: ./ = 0,01, '11= 47, '13= 46, '14= 50, '22= 482, '2.3 = 210.
Т7
0,71
0,51
4 \ 1
~Ч2
0,06
0.07
0.09
0,10
0,11
Рис.4. Зависимости средней доли проконтролированных изделий от уровня дефектности до контроля для планов СБР-1 (1), ЛСБР-1 (2), ССБР-1 (3), СБР-5(4) в случае контроля с заменой дефектных изделий при сплошном контроле, выборочном контроле и при выводе из потока
без контроля накопленного объема
Как показывают расчеты, вывод межпроверочного периода без контроля увеличивает
д
для
плана CSP-4 по сравнению с CSP-1. Таким образом, основной эффект проемочного контроля - снижение
д по сравнению с д не достигается.
Эффект разбраковки накопленной части изделий хорошо проявляется при объеме этой части больше межпроверочного периода (в чистом виде реализован в плане ACSP-1 и в комбинации со сплошным контролем в плане CCSP-1).
Причиной создания планов CSP-4 и CSP-5 является желание предохранить поток от засорения сплошным браком при окончательных отказах. Планы приемочного контроля (в частности планы непрерывного приемочного контроля) предназначены для управления средним выходным уровнем дефектности после контроля при использовании статистической процедуры (разбраковки или отбраковки по результатам выборочного контроля). Статистическая процедура реализуется при неокончательных отказах.
Точное указание объема накапливаемой части (межпроверочного периода) ограничивает возможность подбора планов CSP-4 и CSP-5 только по величине 12 , в то время как план CCSP-1 подбирается
одновременно по двум значениям (г1 и ), что расширяет возможности технической реализации контрольного оборудования.
Список литературы
1. Dodge H.F. A sampling inspection plan for continuous production // Ann. Math.Stat., Vol.14, 1943. P. 264-279.
2. Горелов А.С., Морозов В.Б., Саввина Е.А. Методологические основы автоматизированного статистического контроля качества продукции: учебник. Тула: Изд-во ТулГУ, 2020. 332 с.
3. Морозов В.Б., Горелов А.С. План CCSP-1 непрерывного статистического контроля. // Известия Тульского государственного университета. Технические науки. 2021. Вып. 12. С. 368 - 372.
4. Derman C., Johns M.V., Lieberman G.J. Continuous Sampling Procedures Without Control // Ann. Math. Stat., Vol.30, 1959. P. 1175-1191.
Морозов Владимир Борисович, канд. техн. наук, доцент, директор департамента, qtay@rambler.ru, Россия, Тула, Министерство образования Тульской области,
Горелов Александр Стефанович, канд. техн. наук, доцент, asgorelov@rambler.ru, Россия, Тула, Тульский государственный университет
THE FOURTH AND FIFTH MODELS OF CONTINUOUS STATISTICAL CONTROL PLANS
V.B. Morozov, A.S. Gorelov
The plans of statistical continuous sampling control CSP-4 and CSP-5 are presented. A comparative analysis of the plans CSP-1, ACSP-1, CCSP-1, CSP-4, CSP-5 was carried out.
Key words: continuous sampling, frequency of monitoring, storage volume, maximum average level of
defect.
Morozov Vladimir Borisovich, candidate of technical sciences, docent, department director, qtay@rambler. ru, Russia, Tula, Ministry of Education of the Tula Region,
Gorelov Alexander Stefanovich, candidate of technical sciences, docent, asgorelov@rambler.ru, Russia, Tula, Tula State University
