Научная статья на тему 'Структура методики измерения параметров вибраций по следу размытия изображения круглой метки'

Структура методики измерения параметров вибраций по следу размытия изображения круглой метки Текст научной статьи по специальности «Прочие технологии»

CC BY
121
35
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по прочим технологиям , автор научной работы — Григорьев А. В., Данилова Е. А., Бростилов С. А., Наумова И. Ю., Лапшин Э. В.

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Текст научной работы на тему «Структура методики измерения параметров вибраций по следу размытия изображения круглой метки»

Министерство образования и науки РФ

Правительство Пензенской области Академия информатизации образования Академия проблем качества РФ Российская академия космонавтики им. К.Э.Циолковского Российская инженерная академия Вычислительный центр РАН им. А.А.Дородницына Институт испытаний и сертификации ВВТ ОАО «Радиотехнический институт имени академика А.Л.Минца» ОАО «УПКБ ДЕТАЛЬ», ОАО «РУБИН» ОАО «НИИФИ», ОАО «ПНИЭИ», ФГУП ФНПЦ «ПО СТАРТ», НИКИРЭТ, ЗАО «НИИФИиВТ» ОАО «ППО ЭЛЕКТРОПРИБОР», ОАО «РАДИОЗАВОД» Пензенский филиал ФГУП НТЦ «АТЛАС» ОАО «ТЕХПРОММАШ», МИЭМ НИУ ВШЭ, Евразийский Национальный университет им. Л.Н. Гумилева Сургутский институт мировой экономики и бизнеса «ПЛАНЕТА» Пензенский государственный университет

АадижУ{%шсж

ТРУДЫ

МЕЖДУНАРОДНОГО СИМПОЗИУМА

НАДЕЖНОСТЬ И КАЧЕСТВО

II то^

ПЕНЗА 2015

УДК 621.396.6:621.315.616.97:658:562 Т78

Труды Международного симпозиума «НАДЕЖНОСТЬ И КАЧЕСТВО»:

T78 в 2 т. - Пенза : ПГУ, 2015. - 2 том - 384 с.

ISBN 978-94170-818-5(т.1) ISBN 978-94170-818-8

В сборник трудов включены доклады юбилейного ХХ-го Международного симпозиума «Надежность и качество», проходившего с 25 по 31 мая 2015 г. в городе Пензе.

Рассмотрены актуальные проблемы теории и практики повышения надежности и качества; эффективности внедрения инновационных и информационных технологий в фундаментальных научных и прикладных исследованиях, образовательных и коммуникативных системах и средах, экономике и юриспруденции; методов и средств анализа и прогнозирования показателей надежности и качества приборов, устройств и систем, а также анализа непараметрических моделей и оценки остаточного ресурса изделий двойного назначения; ресурсосбережения; проектирования интеллектуальных экспертных и диагностических систем; систем управления и связи; интерактивных, телекоммуникационных сетей и сервисных систем; экологического мониторинга и контроля состояния окружающей среды и биологических объектов; исследования физико-технологических процессов в науке, технике и технологиях для повышения качества выпускаемых изделий радиопромышленности, приборостроения, аэрокосмического и топливно-энергетического комплексов, электроники и вычислительной техники и др.

Оргкомитет благодарит за поддержку в организации и проведении Международного симпозиума и издании настоящих трудов Министерство образования и науки РФ, Правительство Пензенской области, Академию проблем качества РФ, Российскую академию космонавтики им. К. Э. Циолковского, Российскую инженерную академию, Академию информатизации образования, Вычислительный центр РАН им. А. А. Дородницына, Институт испытаний и сертификации ВВТ, ОАО «Радиотехнический институт имени академика А.Л. Минца», ОАО «УПКБ ДЕТАЛЬ», ОАО «НИИФИ», ФГУП «ПНИЭИ», ОАО «РУБИН», ОАО «РАДИОЗАВОД», ОАО «ППО ЭЛЕКТРИПРИБОР», ФГУП «ПО «СТАРТ», НИКИРЭТ - филиал ФГУП «ПО «СТАРТ», Пензенский филиал ФГУП НТЦ «АТЛАС», ОАО «ТЕХПРОММАШ», МИЭМ НИУ ВШЭ, Евразийский Национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Сургутский институт мировой экономики и бизнеса «ПЛАНЕТА»,Пензенский государственный университет.

Сборник статей зарегистрирован в Российском индексе научного цитирования (РИНЦ) с 2005 г.

Р е д а к ц и о н н а я к о л л е г и я :

Юрков Н. К. - главный редактор Трусов В. А. - ответственный секретарь Баннов В. Я. - ученый секретарь Волчихин В. И., Абрамов О. В., Авакян А. А., Дивеев А.И., Иофин А. А., Каштанов В. А., Майстер В. А., Острейковский В.А., Петров Б. М., Писарев В. Н., Роберт И. В., Романенко Ю. А., Северцев Н. А., Садыков С. С., Садыхов Г. С., Увайсов С. У.

ISBN 978-94170-818-5(т.1) ISBN 978-94170-818-8

© Оргкомитет симпозиума, 2015 © ФГБОУ ВПО «Пензенский государственный университет», 2015

ЛИТЕРАТУРА

1. Волков С.В., Захарова О.О., Колдов А.С., Чапаев В.С. Система автоматического контроля и управления параметрами объекта. // Надежность и качество. : Труды международного симпозиума: в 2-х т. / Под ред.Н.К. Юркова. - Пенза: Изд- во ПГУ, 2014 - 2т., стр. 91-93.

2. Волков С.В., Дудоров М.Ю., Колдов А.С., Чапаев В.С. GSM-телеметрия. // Надежность и качество.: Труды международного симпозиума: в 2-х т. / Под ред.Н.К. Юркова. - Пенза: Изд- во ПГУ, 2013 - 2т., стр. 57-5 9.

3. Меркульев А.Ю. Программные комплексы и системы проектирования печатных плат / Меркульев А.Ю., Сивагина Ю.А., Кочегаров И.И., Баннов В.Я., Юрков Н.К. // Современные информационные технологии. 2014. № 19 (19). С. 119-128.

4. Волков С.В., Бахмутский А.А., Сазыкин П.А. Принципы построения систем контроля удаленных объектов на базе GSM-канала // Надежность и качество. Труды международ. симпоз. В 2-х томах. Том 2. - Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2007. - С. 12 - 14.

5. Волков С.В., Бахмутский А.А., Сазыкин П.А. Аппаратный GSM контроль // Новые технологии в образовании, науке и экономике. Труды XVII-го Междунар. Симп. - М.: Инф-изд. центр Фонда поддержки вузов, 2007. - С. 21 - 27.

6. Кочегаров И.И. Системы удалённого рабочего стола при работе с конструкторскими САПР / Кочегаров И.И., Трусов В.А. // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2009. Т. 2. С. 406-407.

7. Волков С.В. Компенсация аддитивных периодических помех в измерительных преобразователях //Методы, средства и технологии получения и обработки измерительной информации. Сборник научных статей Международной научно-технической конференции - Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2014. - C. 128-131.

8. Волков С.В., Кулапин В.И., Светлов А.В. Современные технические решения и проблемы в обеспечении комплексной безопасности // Надежность и качество сложных систем. 2014. № 4 (8). С. 6168.

9. Индикатор СВЧ излучения / Нечаев И. / Радио, 2004, №12, с. 64-65.

10. Белов А.Г. Обеспечение влагозащитного покрытия печатных узлов датчика протечки / Белов А.Г., Баннов В.Я., Трусов В.А., Кочегаров И.И., Лысенко А.В., Горячев Н.В., Юрков Н.К. // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2014. Т. 2. С. 151-154.

11. Радиоприёмные устройства: Учебник для вузов под редакцией Н.Н.Фомина - М.: Радио и связь, 1996.

12. http://www.cypress.com/?docID=4 6322.

13. Журавлев, С. П. Построение интеграционных связей в комплексной системе безопасности /С. П. Журавлев, П. П. Журавлев // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. -2008. -№ 4. -С. 116-125.

14. Байдаров С.Ю., Комаров В.В., Паршуков М.Ю., Светлов А.В. Методика обработки результатов измерений параметров операционного усилителя // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. - 2011. -№ 4. -С. 128-140.

УДК 004.932.2

Григорьев А.В., Данилова Е.А., Бростилов С.А., Наумова И.Ю., Лапшин Э.В., Баранов А.А.

ФГБОУ ВПО «Пензенский государственный университет», Пенза, Россия

СТРУКТУРА МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ВИБРАЦИЙ ПО СЛЕДУ РАЗМЫТИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ КРУГЛОЙ МЕТКИ

Структура методики представлена на рис. 1.

Рисунок 1 - Структура методики бесконтактного измерения параметров вибраций Исходные данные для измерения параметров вибраций представлены на входах 1...5 (табл. 1).

Входы структуры и исходные данные Таблица 1

Порядковый номер входа Данные

Обозначение Наименование

1 Sq Площадь метки

2 ha Изображение метки на исходной позиции при отсутствии вибраций

3 b1 Изображение метки при приближении к ней регистрирующего устройства на расстояние Ли1 при отсутствии вибраций

4 Az1 Расстояние, на которое приближается регистрирующее устройство к метке при калибровочных измерениях

5 hsv След вибрационного размытия изображения метки

Данные, которые являются для данной методики выходными, то есть результатами реализации методики, представлены на выходах структуры 1...4 (табл. 2). Выходы структуры и результаты реализации методики Таблица 2

Порядковый номер выхода Данные

Обозначение Наименование

1 Ax Проекция вектора амплитуды виброперемещения на ось абсцисс

2 Проекция вектора амплитуды виброперемещения на ось ординат

3 Az Проекция вектора амплитуды виброперемещения на ось аппликат

4 A Модуль вектора амплитуды виброперемещения

Наименования структурных блоков представлены в табл. 3

Структурные блоки методики Таблица 3

Порядковый номер блока Наименование

1 Блок анализа изображения метки при отсутствии вибраций

2 Блок анализа следа вибрационного размытия изображения метки

В блоке 1 анализа изображения метки при отсутствии вибраций осуществляются предварительные калибровочные измерения геометрических параметров изображения метки и их анализ с целью выработки констант для предметного анализа следа вибрационного размытия этой метки. В блоке 2 анализа следа вибрационного размытия изображения метки осуществляется измерение геометрических параметров следа вибрационного размытия

Калибровка системы при отсутствии вибраций имеет целью определить константы по табл. 4. Эти константы будут необходимы при измерениях на следе вибрационного размытия изображения метки и анализе результатов этих измерений. По окончании калибровочных измерений эти константы будут представлены на выходах блока анализа изображения метки при отсутствии вибраций.

Калибровочные измерения производятся в два этапа. На первом этапе осуществляется регистрация, обработка и анализ изображения метки на исходной позиции при отсутствии вибраций. «На исходной позиции» это значит, что расстояние от плоскости изображения до регистрирующего устройства такое же, каким оно будет при измерениях при наличии вибраций. На втором этапе калибровочных измерений расстояние от плоскости изображения до регистрирующего устройства уменьшают на величину Ли1 и снова осуществляют регистрацию, обработку и анализ изображения метки.

В статье [1] поставлена задача повышения эффективности передающих антенн СВЧ диапазона за счёт учёта и компенсации влияния внешних воздействий. В работе [2] опубликованы результаты математического моделирования влияния вибраций на излучение антенны.

Задача модернизации антенн с учётом влияния вибрационных воздействий не может быть решена без разработки современных бесконтактных точных средств измерения параметров вибраций.

Задача измерения величин и направлений вибраций актуальна при исследовании динамических характеристик технических систем [3]. Знание этих характеристик необходимо для реализации методик многофакторного обеспечения их надежности [4].

Способы измерения вибраций, с помощью которых данная задача может быть решена, предложены в [5,6]. Эти способы бесконтактного измерения величин и направлений виброперемещений исследуемого объекта в заданных контрольных точках эффективны при измерении вибраций любых объектов, в частности, при измерении вибраций зданий и сооружений, машин и механизмов. Весьма значимый эффект от внедрения данных способов ожидается в области измерения вибраций узлов и модулей радиоэлектронной аппаратуры.

Оба эти способа характеризуются четырьмя основными этапами:

1) нанесением на исследуемый объект при отсутствии вибраций светоотражающих или флюоресцирующих меток круглой формы;

2) регистрацией изображений меток при отсутствии вибраций и определением геометрических параметров этих изображений;

изображения метки и их предметный анализ с целью определения параметров вибраций. На входах 1... 4 представлены исходные данные блока 1 анализа изображения метки при отсутствии вибраций (табл. 1). На основе этих исходных данных блок 1 анализа изображения метки при отсутствии вибраций формирует выходные параметры. Эти выходные параметры представлены на выходах блока 1 (табл. 4).

3) регистрацией следов размытия изображений меток при наличии вибраций и определением геометрических параметров этих следов;

4) сравнительным анализом геометрических параметров изображений меток при отсутствии вибраций и следов размытия этих изображений при наличии вибраций с целью определения модулей и направлений векторов амплитуды виброперемещения контрольных точек исследуемого объекта.

Измерение координат центра тяжести изображения области связанных элементов осуществляется способом, предложенным в [7]. След вибрационного размытия метки должен быть представлен в виде бинарного изображения. Преобразование исходного полутонового следа вибрационного размытия метки в бинарное изображение традиционным уровнево-пороговым методом приводит к недопустимо большим погрешностям преобразования. Это связано с тем, что след вибрационного размытия имеет размытые границы. Поэтому бинаризация следа вибрационного размытия метки осуществляется структурно-разностным методом. Сущность и современное состояние развития этого метода представлено в публикациях [8-11] Методологические основы обработки изображений, применяемые для формирования и маркировки сегментов и кластеров, изложены в публикациях [12-14].

Изображение круглой метки, разделенное на пиксели, представляет собой многоугольник. На рис. 2 представлена диаграмма дискретных расстояний пикселей изображения круглой метки, если радиус этого изображения равен пяти.

5 5 5 5 5

5 4 4 4 4 4 5

5 4 4 3 3 3 4 4 5

5 4 4 2 2 2 2 2 4 4 5

5 4 3 2 1 1 1 2 3 4 5

5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5

5 4 3 2 1 1 1 2 3 4 5

5 4 4 2 2 2 2 2 4 4 5

5 4 4 3 3 3 4 4 5

5 4 4 4 4 4 5

5 5 5 5 5

Рисунок 2 - Диаграмма дискретных расстояний

Порядковые номера выходов и выходные параметры блока анализа изображения метки при отсутствии вибраций Таблица 4

Порядковый номер выхода Данные

Обозначение Наименование

1 рху Коэффициент пропорциональности в формуле (2.2), мкм/пикс

2 3 сО Абсцисса центра тяжести изображения метки, пикс

3 ■1с0 Ордината центра тяжести изображения метки, пикс

4 1о Радиус изображения метки при отсутствии вибраций, пикс

5 Р^ Коэффициент пропорциональности формуле (2.5), мкм/пикс

пикселей от центра в изображении круглой метки, радиус которого равен пяти пикселям

Расстояние от центра тяжести изображения (пиксель с цифрой «0») до некоторого конкретного пикселя определяется теоремой Пифагора:

г11им = round(«/¿L., + ) ,

цим V у цим ^цим' '

(1)

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.

где ггим — расстояние от центра тяжести изображения метки до центра пикселя, измеренное в единицах стороны пикселя и округленное до целого числа; round — оператор округления; iциж и j^ — соответственно, ордината и абсцисса пикселя в системе отсчета, связанной с центром тяжести изображения метки — целые числа. Расстояние от центра круга до любой точки в пределах этого круга не может превышать радиуса этого круга. Из этого следует, что для любого пикселя, принадлежащего изображению круглой метки должно выполняться условие:

(2)

r < R ,

цим _ щим '

где йцим — радиус изображения круглой метки, измеренный в единицах стороны пикселя.

Таким образом, контур изображения круглой метки при отсутствии вибраций, радиус которого равен пяти пикселям, представляет собой многоугольник по рис. 3.

рисунок J

контур> изоор>ажуни,ч кр>углои мутки

при отсутствии вибраций и йциж=5пикс.

I л 3 4 5 б " s 9 10 11 11 13 14 и 16 i' i* 13

1 0 0 I.I 0 0 0 0 0 0 I.I 0 0 0 0 0 0 0 0 0

2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

3 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

4 0 (1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

5 0 0 0 0 0 0 0 I 1 1 I 1 0 0 0 0 0 0 0

6 0 0 0 0 0 0 i 1 1 1 1 1 i о 0 0 ii 0 0

7 0 (1 0 0 0 i l 1 1 1 1 1 i "T| 0 0 ii 0 0

S 0 (.1 и 0 i l l 1 1 1 1 1 l l T 0 0 0 0

9 0 0 0 0 i l l 1 1 1 1 I l l i 0 0 0 0

lie 0 0 0 0 i l i I 1 1 I 1 i i i 0 0 0 0

11 0 0 0 0 i l l 1 1 1 1 L l l i 0 0 0 0

12 0 (j и 0 i l l 1 1 1 1 1 l l i 0 0 0 0

Li 0 0 0 0 0 i i I 1 1 I 1 i 0 0 0 0 0

14 0 0 0 0 0 i- i 1 1 1 1 1 i о 0 0 II 0 0

li 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 L 0 о 0 0 0 0 0

lfi 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 и 0 0

Г 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 II 0 0

IS 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 II 0 0

IS1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

Любое цифровое изображение — это матрица. Каждый элемент этой матрицы соответствует определенному пикселю. Если изображение цветное, то элемент матрицы характеризуется минимум тремя компонентами, каждый из которых интенсивность определенной цветовой составляющей, например, в базисе RGB. Элемент матрицы цифрового монохромного изображения характеризуется одним числом, соответствующим общей интенсивности. Элемент матрицы цифрового бинарного изображения характеризуется одним из двух чисел: либо это единица («1»), либо это ноль («0»).

Дискретные координаты элементов этой матрицы: дискретная абсцисса — порядковый номер j столбца матрицы, в которой элемент расположен; дискретная ордината — порядковый номер i строки матрицы, в которой элемент расположен (рис. 4).

При уменьшении расстояния между регистрирующим устройством и плоскостью изображения изображение объекта увеличивается. Диаграмма дискретных расстояний пикселей изображения круглой метки, радиус которого равен семи пикселям, представлена на рис. 5.

7

7 б 7 6 6 7 6 5

5 5 5

5

6 6 7

7 6

7 7 б б 5 5

I

1 1

2

3

4

5 5 5

6 6 6 ill

ell 5 6 6 7 4 5 6 6 7 4 4 5 6 7 2 4 4 5 6 2 3^456 2 3 4 5 6 2 3 4 5 6 2 4 4 5с, 44567 4 5 6 6 7

5 6 6

6 11

1

Рисунок 5 - Диаграмма дискретны:: расстояний пикселей от центра в изображении круглой метки, радиус которого равен семи пикселям

Таким образом, контур изображения круглой метки при отсутствии вибраций, радиус которого равен пяти пикселям, представляет собой многоугольник по рис. 6.

рисунок 4

ъинар>ная матр>ица изоор>ажуния Dq. Rцим=5пикс

Рисунок Ь - Контур) изооражения круглой метки при отсутствии вибраций и йциж=7пикс.

1. Yurkov N.K., Gorbalysov M.S., Yakimov der the Influence of External Actions. // tions, and computer science: Proceedings of 24 2012. P. 186-187.

ЛИТЕРАТУРА

A.N. The improving of the Radar Detection System unModern problems of radioengeneering, telecommunicate International Conference TCSET'2012 February 21-

2. Shishulin D.N., Yurkov N.K., Yakimov A.N. Research of the Vibration Effects on the Mirror Antenna's Radiation Using ANSYS // Modern problems of radioengeneering, telecommunications, and computer science: Proceedings of the International Conference TCSET'2014 25 February — 1 March, 2014. P. 135.

3. Горячев Н.В. Исследование и разработка средств и методик анализа и автоматизированного выбора систем охлаждения радиоэлектронной аппаратуры / Горячев Н.В., Танатов М.К., Юрков Н.К. // Надежность и качество сложных систем. 2013. № 3. С. 70-75.

4. Кочегаров И.И. Программный пакет моделирования механических параметров печатных плат / Кочегаров И.И., Таньков Г.В. // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2011. Т. 2. С. 334-337.

5. Патент 2535237 РФ, МПК G01H9/00. Способ измерения вибраций / Држевецкий А.Л., Юрков Н.К., Григорьев А.В., Затылкин А.В., Кочегаров И.И., Кузнецов С.В., Држевецкий Ю.А., Деркач В.А. -№ 2013128327/28; заявл. 20.06.2013.

6. Патент 2535522 РФ, МПК G01H9/00. Способ измерения вибраций / Држевецкий А.Л., Юрков Н.К., Григорьев А.В., Затылкин А.В., Кочегаров И.И., Кузнецов С.В., Држевецкий Ю.А., Деркач В.А. -№ 2013128329/28; заявл. 20.06.2013.

7. Патент 2032218 РФ, МПК G06K9/00. Устройство для селекции изображений объектов / Држевецкий А.Л., Контишев В.Н., Григорьев А.В., Царев А.Г. -№ 4891118/24; заявл. 17.12.1990; опубл. 27.03.1995.

8. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Баннов В.Я., Трусов В.А., Кособоков А.С. Об ограничениях уровнево-пороговой сегментации полутоновых растровых изображений // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2014. Т. 2. С. 18-21.

9. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Баннов В.Я., Трусов В.А., Кособоков А.С. Принцип негативно-контурной классификации растровых элементов полутоновых изображений // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2014. Т. 2. С. 21-24.

10. Григорьев, А.В. Горизонтально-положительный анализ элементов плоского сегмента полутонового растрового изображения [Текст] / А.В. Григорьев, А.Л. Држевецкий, В.Я. Баннов, В.А. Трусов,

A.С. Кособоков // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2014. Т. 2. С. 24-27.

11. Григорьев, А.В. Горизонтально-положительный анализ контурных элементов плоской вершины на протяженном убывающем склоне растровой поверхности [Текст] / А.В. Григорьев, А.Л. Држевецкий,

B.Я. Баннов, В.А. Трусов, А.С. Кособоков // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2014. Т. 2. С. 27-30.

12. Григорьев, А.В. Способ обнаружения и идентификации латентных технологических дефектов печатных плат [Текст] / А.В. Григорьев, А.Л. Држевецкий, Н.К. Юрков // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2013. Т. 1. С. 15-19.

13. Григорьев, А.В. Классификация дефектов бортовой РЭА [Текст] / А.В. Григорьев, Е.А. Данилова, А.Л. Држевецкий // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2013. Т. 1. С. 228231.

14. Кочегаров, И.И. Алгоритм выявления латентных технологических дефектов фотошаблонов и печатных плат методом оптического допускового контроля [Текст] / И.И. Кочегаров, И.В. Ханин, Н.К. Юрков, А.В. Григорьев // Труды международного симпозиума Надежность и качество. 2014. Т. 2. С. 54-57.

УДК 004.932.2

Григорьев А.В., Алмаметов В.Б., Долотин А.И., Царев А.Г., Беликов Г.Г., Гришко А.К. ФГБОУ ВПО «Пензенский государственный университет», Пенза, Россия

МЕТОДИКА КАЛИБРОВКИ СИСТЕМЫ ТРЕХКОМПОНЕНТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ВИБРАЦИЙ НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ГЕОМЕТРИИ СЛЕДА РАЗМЫТИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ КРУГЛОЙ МЕТКИ

Если, например, при приближении регистрирующего устройства на расстояние радиус изображения метки увеличился на два пикселя, то матрица изображения Ь следующая (рис. 1):

6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 IS 19

0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

1 I 1 I

_lu

_I О 0 0

о о о о о о 0 0 0 0 0 0

Рисунок 1 - Бинарная матрица изображения Ьг. Кцим=7пикс

Структура блока анализа изображения метки при отсутствии вибраций представлена на рис. 2.

Функции преобразования структурных блоков блока анализа изображения метки при отсутствии вибраций представлены в табл. 1

Структурные блоки блока анализа изображения метки при отсутствии вибраций Таблица 1

Порядковый номер блока Функция преобразования

1, 4 I J y = j ) i=1J=1

2 I J y = ZZj ■x(i'j) i=1 J=1

3 I j y=ZZi 'x(i'j) i=1 j = 1

5 y-X X VX2

6, 7, 11 y II х 2х

8, 9 y V n

10 y — X2 Х1

В табл. 1 х и у — входное и выходное воздействия блока, соответственно, если этот блок имеет только один вход и (или) только один выход; XI и х2 — воздействия на первом и втором входах блока, соответственно; I и J — количест-

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.