CC BY
9
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ ПО ДОКЛАДАМ XVIII НАУЧНОЙ ШКОЛЫ-СЬМИНАРА
обусловленной. Решение в результате этого неустойчиво и существует бесконечное множество решении. Г1ре;шагается специальный алгоритм, основанный на регуляри-зационном методе.
Так как аппаратурное уширение. как правило, не известно, для его определения решается обратная задача для эталонного спектра. В данной работе использовапся К-сиектр фтора. Составляющие эталонного спектра, кроме аппаратурной кривой, известны. Спектры эталонного и исследуемого вещества снимаются в одинаковых условиях. Определив параметры функции Гаусса, описывающей аппаратурное уширение. можно решить задачу по исправлению на ширину возбуждающей Kai 2- линии, параметры которой берутся из таблиц, и аппаратурное уширение. чго делает спектр более контрастным Приведены результаты обработки экспериментальных данных.
РЕНТГЕНОВСКАЯ ЭМИССИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ С РАЗРЕШЕНИЕМ ПО ГЛУБИНЕ
А. С. ШУЛАКОВ
НИИ физики Санкт-Петербургского государственного университета.
Санкт-Петербург
В докладе рассмотрены вопросы, езязанные с глубиной генерации и выхода характеристического рентгеновского излучения, возбуждаемого электронным ударом. Найдены способы теоретического описания зависимости глубины формирования излучения от энергии первичных электронов для двухслойных и многослойных структур, позволяющие организовать количественное изучение распределений химического и фазового состава по глубине. Приводятся результаты теоретического и экспериментального исследований ряда модельных и натуральных систем. Показано, что с помощью
\ i
простых приемов можно обеспечить высокую поверхностную чувствительность рентгеновской эмиссионной спектроскопии, сравнимую с поверхностной чувствительностью фотоэмиссионной спектроскопии.
РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ И ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ ПОВЕРХНОСТИ РАЗДЕЛА ТИТАН-ГАЗ: эксперимент и теория
М.В. КУЗНЕЦОВ, Е.В. ШАЛАЕВА. H.H. МЕДВЕДЕВА, А.Л. ИВАНОВСКИЙ
Институт химии твердого тела УрО РАН, Екатеринбург
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) является сегодня одним из наиболее универсальных методов изучения поверхности и процессов, протекающих на поверхности твердых тел. К достоинствам РФЭС относят, в частности, чувствительность данного метода к поверхности, возможность качественного и количественного анализа практически всех элементов периодической таблицы, информативность в установлении
ХИМИЧЕСКАЯ ФИЗИКА И МЕЗОСКОПИЯ ТОМ 2, № 2
23!
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ ПО ДОКЛАДАМ XVIII НАУЧНОЙ ШКОЛЫ-СЕМИНАРА
химического состояния атомов на поверхности и электронной структуры валентной зоны химических соединений. Современным направлением в развитии РФЭС является структурный аспект применения данного метода. Здесь выделяют две возможности: установление структурных характеристик из анализа тонкой структуры энергетических потерь фото - или Оже-электронов эмиссии по типу EXAFS, а также анализ угловых зависимостей, вызванных интерференцией упруго рассеянных электронов на ближайшем окружении атома-эмиттера - так называемая, фотоэлектронная дифракция (РФД). Таким образом, современная электронная спектроскопия приобретает вполне законченный гармоничный вид, позволяя одновременно изучать состав, структуру и химическую связь поверхности твердых тел.
В настоящей работе приведен ряд примеров использования спектральных и структурных возможностей методов РФЭС и РФД для комплексного анализа адсорбции легких газов (N0, СО, N2 и 02) на поверхности Ti(OOOl). При этом выделяется четыре основных аспекта проводимых исследований:
• анализ кинетики диссоциативной хемосорбции газов на поверхности титана,
• установление структурной локализации адатомов на поверхности Ti(OOOl);
• теоретическое моделирование РФД в приближении однократного
рассеяния фотоэлектронов;
• феноменологическое моделирование кинетики адсорбции;
• квантовохимические расчеты предполагаемых адсорбционных структур.
В результате совместного применения РФЭС и РФД удалось разделить процессы хемосорбции атомов О. N и С на поверхности титана от диффузии адатомов в поверхностные слои, а, в случае системы 0/Ti(0001 ), реконструкции поверхностных слоев титана и роста оксидных фаз. Для всех систем NO,CC),02,N2/Ti(0001) исследована кинетика хемосорбции, предложен механизм процессов, построена и рассчитана феноменологическая модель поверхностных реакций. Для чистой грани Ti(OOOl), адсорбционных систем N2,O2,NO,CC)/Ti(0001 ) впервые выполнены квантовохимические расчеты электронной структуры, релаксации поверхности, полной энергии системы и карт зарядовой плотности поверхностных слоев первопринципным линейным методом muffin-tin орбиталей в версии полного потенциала (J1MT0 ПП). Работа выполнена при поддержке РФФИ, грант 98-03-33194а.
XPS IN WOOD CHEMISTRY
A.V.SHCHUKAREV
Department of Inorganic Chemistry, Umea University Umea, SWEDEN
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) was used to study the wood fibers surface composition. Ail measurements were performed at living hybrid aspen {Populus tremula tremuloides) wood grown in green-house and bended during growth.
