CC BY
1
2. RedCheck - система контроля защищенности и соответствия стандартам ИБ [Электронный ресурс] URL: https://www.redcheck.ru (дата обращения: 20.05.2024).
3. Positive Technologies - лидер результативной кибербезопасности [Электронный ресурс] URL: https://www.ptsecurity.com/ru-ru/products/xspider (дата обращения: 20.05.2024).
4. Система комплексного анализа защищенности "Сканер-ВС" [Электронный ресурс] URL: https://scaner-vs.ru (дата обращения: 20.05.2024).
Фролов Андрей Юрьевич, студент, benzoandrey@yandex. ru, Россия, Тула, Тульский государственный университет,
Пальчун Екатерина Николаевна, канд. техн. наук, доцент, kat.protiv@list. ru, Россия, Тула, Тульский государственный университет
COMPARATIVE ANALYSIS OF VULNERABILITY SCANNERS FOR SOFTWARE A UDITING AND INFRASTRUCTURES IN CONDITIONS OF IMPORT SUBSTITUTION
A. Y. Frolov, E.N. Palchun
The article discusses vulnerability scanners for auditing software and infrastructure. In conditions when previously used products have become unavailable due to sanctions, an urgent task is to study the market for new solutions. The effectiveness of a vulnerability scanner highly depends on its functionality and economic feasibility. The article analyzes various software products and evaluates their advantages and disadvantages. The object of the study is commercial companies engaged in software development. The subject of the study is vulnerability scanners used to audit program code and infrastructure.
Key words: vulnerability scanners, threat analysis, comparative analysis, information security.
Frolov Andrey Yurievich, student, benzoandrey@yandex. ru, Russia, Tula, Tula State University,
Palchun Ekaterina Nikolaevna, candidate of technical sciences, docent, kat.protiv@list. ru, Russia, Tula, Tula State University
УДК 778.38
Б01: 10.24412/2071-6168-2024-4-233-234
ИССЛЕДОВАНИЕ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ВЫСОКОЧАСТОТНОГО РАЗЪЁМА МЕТОДОМ ДВУХ ДЛИН ВОЛН
Е.Е. Майоров, А.В. Арефьев, Ю.М. Бородянский, Р.Б. Гулиев, И.С. Таюрская
Настоящая работа посвящена исследованию рельефа поверхности элементов высокочастотного разъёма методом двух длин волн. Метод двух длин волн является высокоинформативным, высокоточным и достоверным инструментом получения информации о рельефе поверхности предмета, поэтому работа перспективна и актуальна. В работе определена цель и поставлена задача, а также представлены объект и метод исследования. Приведены схема воспроизведения контурной карты рельефа и технические характеристики экспериментальной установки. Получены контурные карты рельефа поверхности и определены такие важные величины, как размах и среднеквадратическое отклонение для каждой поверхности. Приведены зависимости разности глубин между двумя соседними контурами от перемещения исследуемых поверхностей элементов высокочастотного разъема в направлении х и у.
Ключевые слова: фигурная шайба, экспериментальная голографическая установка, штырёк, поверхность, метод двух длин волн, голографический метод.
В настоящее время огромное внимание уделяется современным оптическим методам контроля геометрических параметров исследуемых поверхностей [1]. Исследуемые поверхности предметов контролируют в широком диапазоне измерений от 0,001 мкм до 106 мкм [2]. Под геометрическими параметрами поверхности предмета понимают: для микрорельефа поверхности - среднеквадратическое отклонение профиля, интервал корреляции и автокорреляционная функция; для макрорельефа поверхности - абсолютное значение высоты профиля поверхности, относительные высоты различных участков и углы наклона поверхности относительно базовой плоскости [3].
Существует широкий класс методов и технических средств измерения рельефа поверхности предмета, такие как механические, оптические методы и т.д. [4]. Для решения поставленной задачи применим оптический метод, в частности, один из голографических методов получения контурных карт рельефа поверхности - метод двух длин волн (двухчастотный метод) [5]. Определим контурную карту рельефа как двумерное изображение трехмерного предмета, представляющее собой совокупность линий пересечения поверхности объекта эквидистантными плоскостями, которые перпендикулярны линии наблюдения [6-8].
Метод двух длин волн является высокоинформативным, высокоточным и достоверным инструментом получения информации о рельефе поверхности предмета [9-12]. Данный метод позволяет проводить исследования статистических процессов, получать информацию как в количественной, так и в качественной интерпретации, а также воспроизводитьтрехмерную картину изучаемой поверхности предмета [13-15].
Поэтому может представлять интерес исследование рельефа поверхностей элементов высокочастотного разъема экспериментальной голографической установкой.
233
Цель работы состояла в том, чтобы исследовать рельеф поверхностей фигурной шайбы и штырька голо-графическим методом - методом двух длин волн.
Постановка задачи. С помощью экспериментальной голографической установки исследовать рельеф поверхности элементов высокочастотного разъема. Получить размах и среднеквадратическое отклонение в микрометрах, а также зависимость разности глубин между двумя соседними контурами (цена полосы) от перемещения исследуемого образца по координатам х и у.
Объекты и метод исследования. Объектом исследования были поверхности элементов высокочастотного разъема. Элементы были покрыты техническим серебром толщиной 9,12 мкм. Изготовлены элементы из алюминия.
Для исследования рельефа поверхности использовалась экспериментальная голографическая установка, схема которой представлена на рисунке 1.
P - объект; R - опорный (восстанавливающий) источник; Н - голограмма
Схема экспериментальной голографической установки для получения контуров рельефа с помощью метода двух длин волн представлена на рис. 1. На поверхность падает излучение источника S. Опорная волна формируется источником R. На одной и той же фотопластинке Н последовательно регистрируются две голограммы неподвижного объекта P. Причем первая экспозиция производится на длине волны Xi, вторая - X2. Восстановление изображений производится опорным пучком с длиной волны fa. При интерференции волн, соответствующих этим изображениям, получаются интерференционные контуры рельефа поверхности.
В эксперименте два восстановленных изображения были смещены одно относительно другого и отличаться по масштабу, что приводило к смещению соответствующих точек микроструктуры изображений, что вызывало, с одной стороны, деформацию контурных полос, с другой - смещение поверхности их локализации относительно поверхности объекта.
В работе использовались плоские опорная и восстанавливающая волны. Для компенсации поперечного смещения изображений используют опорные волны, направление распространения которых связаны соотношением
¿i sin «2 = ¿2 sinai,
где ai и a2 - углы, которые опорные пучки составляют с осью Z.
Разность глубин Azi между двумя соседними контурами (цена полосы) равна
= ¿¿2
1 2 &-¿2)
Как следует из этой формулы, чувствительность метода определяется разностью ¿i - ¿2 . В эксперименте для реализации метода использовались различные пары линий генерации лазера. Ксеноновый лазер X = 595,6 нм и X = 539,5 нм.
Технико-эксплуатационные характеристики экспериментальной установки:
-погрешность измерений - 0, 056мкм;
- числовая апертура объектива - 0,3;
- пределы перемещения интерференционной головки по 3-м осям, мм - ± i0;
- приемник изображения - фотокамера «Canon»;
- источник света - лазер ЛГ-79-i;
- длина волны излучения, мкм - 0,63;
- габаритные размеры, мм - 750x450x550.
Экспериментальные результаты. На экспериментальной голографической установке были получены контурные карты рельефа поверхности фигурной шайбы и штырька высокочастотного разъема. На рисунке 2 приведены контурные карты рельефа поверхностей элементов.
С целью восстановления контура рельефа поверхности использовалась компьютерная программа обработки Holograms. Определялись такие важные величины, как размах (R) и среднеквадратическое отклонение (а) в микрометрах.
Для рельефа поверхности фигурной шайбы:
R = 0,934210 мкм, а = 0,451012 мкм.
Для рельефа поверхности штырька:
R = 0,810131 мкм, а= 0,381317 мкм.
Программа выводила на монитор компьютера графические зависимости разности глубин между двумя соседними контурами (цена полосы) от перемещения исследуемого образца по координатам x и у. Шаг измерений был равным 50 мкм по х и у. На рисунке 3 представлены экспериментальные данные.
234
а)
Рис. 2. Контурные карты рельефа поверхности: а - фигурная шайба; б - штырёк
3
2,5 -2 "
* 1,5
4
1
0,5 + 0
а) -1
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
х, мкм
3 2,5 2
* 1,5
4
1
0,5
0 0
-+-
-+-
-+-
-+-
-+-
-+-
-+-
-+-
а) - 2
-+-
ч
100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
у, мкм
Рис. 3. Зависимости разности глубин между двумя соседними контурами от перемещения исследуемой поверхности элементов высокочастотного разъема: а - фигурная шайба: 1 - по координате х; 2 - по координате у; б - штырек: 1 - по координате х; 2 - по координате у
235
б) - 1
3
2,5 -2 --
Î 1,5 -4------
1
0,5 -0 -I-1-1-1-1-1-1-1-1-1-1
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
x, мкм
б) - 2
100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
y, мкм
Рис. 3. Зависимости разности глубин между двумя соседними контурами от перемещения исследуемой поверхности элементов высокочастотного разъема: а - фигурная шайба: 1 - по координате x;
2 - по координате y; б - штырек: 1 - по координате x; 2 - по координате y
Полученные экспериментальные результаты показывают, что оба элемента имеют чистоту поверхности, удовлетворяющую эксплуатационным требованиям. Графические зависимости имеют плавные кривые, нет больших впадин и бугорков. Экспериментально определено, что фигурная шайба имеет пятый класс чистоты поверхности, а штырёк шестой класс чистоты поверхности.
Заключение. Проведены измерения рельефа поверхности элементов высокочастотного разъема экспериментальной голографической установкой. Получены контурные карты поверхностей и рассчитан размах и среднеквадратическое отклонение для каждой поверхности в отдельности. Приведены зависимости разности глубин между двумя соседними контурами от перемещения исследуемой поверхности элементов в направлении x и y. Экспериментальные результаты могут представлять интерес для оптического приборостроения и радиотехники.
Список литературы
1.Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука. 1970. 855 с.
2.Kirillovsky V.K. Diffraction Reference Wavefront Laser Interferometer // SPIE. The International Society for Optical Engineering Proceed. «Miniature and Microoptics: Fabrication and System Applications». 1992. Vol. 5. (1751). P. 197-200.
3.Ландсберг Г.С. Оптика. М.: Наука. 1976. 926 с.
4.Малакара Д. Оптический производственный контроль: пер. с англ. под ред. Соснова А.Н. М.: Машиностроение. 1985. 340 с.
5.Креопалова Г.В., Лазарева Н.Л., Пуряев Д.Т. Оптические измерения. М.: Машиностроение. 1987. 264 с.
6.Афанасьев В.А. Оптические измерения. М.: Недра. 1968. 263 с
7. Левин Б.М. Оптические методы определения характера профиля поверхностей // ОМП. 1938. №10 - 11.
С. 37 - 41.
8.Курлов В.В., Коцкович В.Б., Майоров Е.Е., Пушкина В.П., Таюрская И.С. Экспериментальное исследование разработанной интерференционной системы для измерений поверхности объектов сложной формы // Известия тульского государственного университета. Технические науки. 2020. № 8. C. 179-189.
9.Цыганкова Г.А., Майоров Е.Е., Черняк Т.А., Константинова А.А., Машек А.Ч., Писарева Е.А. Исследование разработанного интерферометра поперечного сдвига для настройки интерференционных полос при обработке интерферограмм // Приборы. 2021. № 2. С. 20-25.
3
2,5 2
* 1,5 ,
1
0,5 0
0
10. Хохлова М.В., Дагаев А.В., Майоров Е.Е., Арефьев А.В., Гулиев Р.Б., Громов О.В. Исследование оптико-электронной системы при обработке голографических пластин // Международный научно-исследовательский журнал. 2021. № 8 (110). С. 103-108. DOI: 10.23670/IRJ.2021.110.8.015.
11. Хохлова М.В., Дагаев А.В., Майоров Е.Е., Арефьев А.В., Гулиев Р.Б., Громов О.В. Интерференционная система измерения геометрических параметров отражающих поверхностей // Международный научно-исследовательский журнал. 2021. № 6 (108). С. 184-189. DOI: 10.23670/IRJ.2021.108.6.029.
12. Майоров Е.Е., Бородянский Ю.М., Курлов В.В., Таюрская И.С., Пушкина В.П., Гулиев Р.Б. Пространственное микросканирование поверхности плоскопараллельных стеклянных пластинок интерференционным методом // Изв. вузов. Приборостроение. 2023. Т. 66, № 8. С. 688-695. DOI: 10.17586/0021-3454-2023-66-8-688-695.
13. Майоров Е.Е., Арефьев А.В., Афанасьева О.В. К вопросу о контроле движения объекта экспериментальной голографической установкой // Инновационное приборостроение. 2023. Т. 2, № 6. С. 63-69. DOI: 10.31799/2949- 0693-2023-6-63-69.
14. Майоров Е.Е., Курлов В.В., Бородянский Ю.М., Дагаев А.В., Таюрская И.С. Исследование экспериментальной интерференционной установки с пространственным микросканированием для контроля геометрических параметров поверхности // Научное приборостроение. 2024. Т. 34. № 1. C. 19-25.
15. Майоров Е.Е., Костин Г.А., Черняк Т.А., Баранов Н.Е. Применение конаправленной схемы записи ин-терферограмм для определения перемещения объекта голографической интерференционной установкой // Научное приборостроение. 2024. Т. 34. № 1. C. 30-36.
Майоров Евгений Евгеньевич, канд. техн. наук, доцент, majorov_ee@mail. ru, Россия, Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения (ГУАП),
Арефьев Александр Владимирович, канд. физ.-мат. наук, [email protected], Россия, Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения (ГУАП),
Бородянский Юрий Михайлович, канд. техн. наук, доцент, borodyanskyum@gmail. com, Россия, Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича,
Гулиев Рамиз Балахан оглы, канд. техн. наук, [email protected], Россия, Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения (ГУАП),
Таюрская Ирина Соломоновна, канд. экон. наук, доцент, tis_ivesep@mail. ru, Россия, Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский университет технологий управления и экономики
INVESTIGATION OF THE SURFACE RELIEF OF THE ELEMENTS OF A HIGH-FREQUENCY CONNECTOR
USING THE TWO-WAVELENGTH METHOD
E.E. Maiorov, A. V. Arefiev Y.M. Borodyansky, R.B. Guliyev, I.S. Tayurskaya
This work is devoted to the study of the surface relief of the elements of a high-frequency connector using the two-wavelength method. The two-wavelength method is a highly informative, highly accurate and reliable tool for obtaining information about the surface relief of an object, therefore, the work is promising and relevant. The paper defines the purpose and sets the task, as well as presents the object and method of research. The scheme of reproduction of the contour relief map and technical characteristics of the experimental installation are given. Contour maps of the surface relief were obtained and such important values as the span and standard deviation for each surface were determined. The dependences of the depth difference between two adjacent contours on the movement of the studied surfaces of the elements of the high-frequency connector in the x and y directions were given.
Key words: curly washer, experimental holographic installation, pin, surface, two-wavelength method, holographic method.
Maiorov Evgeny Evgenievich, candidate of technical sciences, docent, majorov_ee@mail. ru, Russia, Saint-Petersburg, Saint-Petersburg state university of aerospace instrumentation (GUAP),
Arefiev Alexander Vladimirovich, candidate of physical and mathematical sciences, [email protected], Russia, Saint-Petersburg, Saint-Petersburg state university of aerospace instrumentation (GUAP),
Borodyansky Yuriy Mihailovich, candidate of technical sciences, docent, [email protected], Russia, Saint-Petersburg, The Bonch-Bruevich Saint-Petersburg State University of Telecommunications,
Guliyev Ramiz Balahan oglu, candidate of technical sciences, ramiz63@yandex. ru, Russia, Saint-Petersburg, Saint-Petersburg state university of aerospace instrumentation (GUAP),
Tayurskaya Irina Solomonovna, candidate of economic sciences, docent, tis [email protected], Russia, Saint-Petersburg, Saint-Petersburg University of management technologies and Economics
