CC BY
37
Секция «Проектирование и технология электронных сетей»
УДК 519.216.3:629.7.054
И. С. Федоткин Научный руководитель - М. Н. Пиганов Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С. П. Королева, Самара
ИНДИВИДУАЛЬНОЕ ПРОГНОЗИРОВАНИЕ СТАБИЛЬНОСТИ КОМПОНЕНТОВ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ МЕТОДОМ ПОТЕНЦИАЛЬНЫХ ФУНКЦИЙ
Рассмотрены вопросы повешения надежности радиоэлектронных средств (РЭС) за счет отбраковки потенциально ненадежных электрорадиоизделий по результатам индивидуального прогнозирования их будущего состояния.
Для индивидуального прогнозирования был выбран метод потенциальных функций. Данный метод включает в себя следующие этапы [1].
1. Обучающий эксперимент - испытание обучающей выборки в течение времени /пр. В процессе измеряются значения всех информативных параметров и прогнозируемого параметра, затем проводится сравнение измеренного значения параметра с граничным значением и определяется фактическая принадлежность классу К или фактическое значение прогнозируемого параметра.
2. Обучение - обработка результатов обучающего эксперимента в соответствии с выбранным оператором прогнозирования. Определяются принадлежность к классу Кя найденному с помощью алгоритма прогнозирования.
3. Экзамен - проверка соответствия прогнозирования состояния каждого экземпляра фактическому, известному по данным обучающего эксперимента. Эффективность распознавания оценивали по величинам вероятностей правильных решений, ошибочных решений, рисков потребителей и изготовителя, априорной вероятности принятия решения об отнесении экземпляра к годным по результатам прогноза.
4. Прогнозирование - определение принадлежности к классу К вновь предъявленного экземпляра по совокупности значений информативных параметров каждого экземпляра.
Метод потенциальных функций позволяет проводить индивидуальное прогнозирование когда признаки имеют сильное проникновение друг в друга.
Данный метод реализован в программном комплексе «Прогнозирование-2» [2]. Этот комплекс позволяет при наличии данных обучения провести обучающий эксперимент, выбрать информативные параметры, задать граничные значения, провести подсчет математического ожидания, провести нормировку, провести классификацию по двум классам (годные и негодные) и, собственно, само прогнозирование качества. В данной работе получены операторы индивидуального прогнозирования для оценки качества критичных элементов. Разработана рабочая методика прогнозирования.
Библиографический список
1. Пиганов М. Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М. : Новые технологии, 2002.
2. Пиганов М. Н., Тюлевин С. В. Прогнозирование надежности радиоэлектронных средств // Науч.-техн. ведомости СПб ГПУ. Серия «Информатика. Телекоммуникации. Управление». СПб., 2009. Вып. 1. С. 175-182.
© Федоткин И. С., Пиганов М. Н., 2010
УДК 004.7
М. Е. Якобсон Научный руководитель - С. П. Саханский Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, Красноярск
ЗАДАНИЕ СКОРОСТИ ВЫТЯГИВАНИЯ ПРИ ВЫРАЩИВАНИИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ
Предложен алгоритм формирования задания скорости вытягивания на установке выращивания монокристаллов кремния, по способу Чохральского, который позволяет автоматизировать процесс ввода программного задания скорости в микропроцессорную систему управления.
Выращивание монокристаллов кремния из тигля с расплавом в последние годы получило широкое распространение. Повышение требований к свойствам кристаллов вызывает необходимость полного исклю-
чения воздействия оператора на процесс выращивания за счет его полной автоматизации на базе ЭВМ.
Используя линейную аппроксимацию параметров на узловых участках выращивания кристалла
