Алгоритм формирования трехмерного радиолокационного изображения поверхности Текст научной статьи по специальности «Электротехника, электронная техника, информационные технологии»

Радиолокация и радионавигация

УДК 621.319.26

В. К. Клочко

Рязанский государственный радиотехнический университет

Алгоритм формирования трехмерного радиолокационного изображения поверхности

Предлагается алгоритм, позволяющий на основе имеющейся матрицы двухмерного амплитудного изображения поверхности сформировать матрицу высот. Высоты объектов измеряются по длине радиолокационной тени на границах отсегментированного изображения, а высота поверхности - сканированием луча РЛС по углу места. Приведены результаты моделирования работы алгоритма в системе автоматического распознавания изображений.

Радиолокация, радиолокационное изображение

В радиолокационных системах наблюдения за поверхностью на базе бортовой РЛС с повышенным разрешением по азимуту, работающей в режимах синтезирования апертуры антенны [1] или реального луча с перекрытием диаграммы направленности антенны (ДНА)

[2], образуется двухмерное радиолокационное изображение (РЛИ) поверхности в координатах "дальность - азимут". Однако высота поверхности при этом не определяется, что затрудняет идентификацию изображений объектов при их распознавании, в связи с чем возникает необходимость измерения высоты и формирования трехмерных РЛИ.

Рассмотрим, например, метод получения двухмерного (плоского) РЛИ поверхности

[3] в режиме синтезирования апертуры с помощью узкополосной доплеровской фильтрации. В соответствии с данным методом формируется матрица изображения А, элементы А (/, у) которой представляют амплитуды сигналов отражения, измеренные в полярной

системе координат "радиальная дальность (координата /) - доплеровская частота (координата у)"1). При выводе на экран плоское изображение А обычно дается в прямоугольной сетке координат "дальность-азимут" (Я, ф).

При таком методе формирования РЛИ высоты поверхности и объектов на ней не определяются. Вместе с тем данная информация содержится в изображении А в виде радиолокационной тени (РЛ-тени). Признаком РЛ-тени расположенного на поверхности высотного объекта, отражающего РЛ-сигнал в /-м элементе разрешения дальности при у-м положении луча отражения по азимуту, являются следующие подряд в матрице А элементы у-го столбца А(/ +1,у), А(/ + 2,у), ..., А(/ + п,у), амплитуды сигнала в которых подчине-

1) Значение доплеровской частоты определяется углом отклонения луча РЛС от вектора путевой скорости, который в частном случае переднего обзора в горизонтальной плоскости совпадает с азимутом. 68 © Клочко В. К., 2006

ны закону распределения шумов аппаратуры2-*, причем число таких элементов п зависит от высоты объекта и от его удаления от РЛС.

Идеи формирования трехмерных РЛИ поверхности на основе измерения высоты поверхности и объектов на ней известны в радиолокации [4], однако конкретное алгоритмическое описание этих идей отсутствует. Далее приводится описание алгоритмов получения трехмерного РЛИ поверхности, основанных на измерении высоты в точках (пикселях) изображения, граничащих с РЛ-тенью, а также на определении высоты сканированием луча РЛС с повышением разрешения по углу места.

Алгоритм формирования трехмерного изображения по РЛ-тени.

1. В режиме повышенного разрешения по азимуту формируется матрица РЛИ поверхности А в координатах "дальность - азимут". Для повышения отношения "сигнал/шум" и подавления спекл-шумов используется предварительное осреднение А (¿, у) методом последовательно-временной фильтрации [5], [6].

2. С помощью специальной пороговой обработки матрицы А с несколькими порогами а1 <а 2 < ... < а к формируется матрица контрастностей К {К (¿, у)}, в которой каждому (¿, у) -му элементу присваивается метка соответствующего уровня амплитуды, причем элементам с амплитудой на уровне шумов аппаратуры А (¿, у) < а1 присваивается метка К (¿, у ) = 0, являющаяся признаком РЛ-тени.

3. С помощью алгоритма сегментации ненулевые элементы матрицы К, имеющие одинаковые метки и образующие связные непересекающиеся подмножества, объединяются в сегменты. Элементы каждого сегмента помечаются соответствующей ненулевой меткой М (¿, у), а для нулевых элементов матрицы К оставляется нулевая метка М (¿, у) = 0. Тем самым формируется матрица меток М .

4. Для каждого у-го столбца матрицы М просматриваются ¿-е элементы, начиная с / = 1, и выделяются последовательности следующих подряд элементов с нулевыми метками М(/0,у), М(¿0 +1,у), ..., М(¿0 + п,у).

5. Так как выделенная нулевая последовательность может принадлежать как тени, так и фону со слабым отражением, то на основе вычисленного среднего значения дополнительно принимается решение о принадлежности последовательности амплитуд А (¿0, у),

А (¿0 +1, у), ..., А (¿0 + п, у) шуму аппаратуры, подчиненному модели

А (¿, у ) = 2 , (1)

где 2 е N (0, аШ) - случайная величина, распределенная по нормальному закону с нулевым средним и дисперсией аШ. В противном случае принимается решение о принадлежности этой последовательности альтернативе - флуктуациям отраженного сигнала, подчиненным композиции рэлеевского и нормального законов распределения:

2) Т. е. отсутствует отражение от других объектов или от поверхности.

А (¿, у) = у1 X2 + ¥2 + 2; X, ¥ е N (0, а2 ); 2 е N (0, аШ ); аа >> аш , (2)

где X и ¥ - случайные величины, распределенные по нормальному закону с нулевым средним и дисперсией а2.

6. Если последовательность принадлежит тени, то первому следующему за ней ненулевому элементу М (¿1, у) ф 0; ¿1 = ¿0 + п +1, присваивается значение высоты Н (¿1, у),

вычисленное по формуле Н (¿1, у) = [п/(п + т)]И, где п - длина РЛ-тени, измеряемая числом элементов нулевой последовательности; т - расстояние между РЛС и начальной точкой образования РЛ-тени ¿1 , измеряемое числом элементов разрешения по наклонной дальности; И - высота полета носителя РЛС.

7. Это же значение высоты Н (1 у) присваивается всем элементам сегмента с меткой М (¿1, у), граничащего с данной нулевой последовательностью, или запоминается значение высоты для одной общей метки сегмента. Если с сегментом граничит несколько нулевых последовательностей, то для всех его элементов (или для метки сегмента) запоминается максимальное значение высоты.

8. В элементах матрицы Н, которым не было присвоено расчетное значение высоты, сохраняется нулевое значение: Н (¿, у) = 0 .

9. Полученная таким образом матрица высот Н совместно с матрицей амплитуд А представляет трехмерное изображение поверхности, которое далее передается для отображения и для распознавания изображений протяженных объектов на поверхности.

Определение высоты участков поверхности сканированием луча РЛС. Рассмотренный алгоритм позволяет сформировать трехмерное изображение для не поглощающей радиосигнал поверхности. Сигнал от участков поверхности (объектов на ней), поглощающих энергию зондирующих сигналов, не отличается от шумов (1), что не позволяет отличить такие участки от РЛ-тени. В этом случае для измерения высоты требуется дополнительное исследование участка поверхности. Известны методы определения высоты воздушных объектов на основе измерения угла места с помощью пеленгационной характеристики [7], получаемой при смещении луча РЛС, но они рассчитаны на фиксацию одиночных точечных объектов. Известен также интерферометрический фазовый метод измерения угла места для разрешаемого по дальности и по азимуту объекта [4], требующий, однако, специальной антенной системы - интерферометра. Далее предлагается метод измерения высоты для бортовой РЛС, работающей в режиме доплеровского обужения луча [4], с одновременным электронным сканированием луча по углу места с перекрытием ДНА, что позволяет определять угол места с повышением разрешающей способности РЛС по углам [8], [9]. Алгоритм измерения высоты сводится к следующему.

1. Для каждого ц-го (ц = 1, 2, ...) сегмента, высота которого требует уточнения, определяются координаты его центра (¿^, у^ ) в координатах "дальность-азимут".

2. При фиксированных значениях (¿^, у) луч РЛС посредством электронного сканирования смещается по углу места на п-ю часть ширины ДНА и при каждом к-м положении 70

измеряется амплитуда отраженного сигнала u (k) = A (z^, j, k) в z^ -м элементе разрешения по дальности и в j -м элементе разрешения по азимуту (j -м фильтре доплеровских частот).

4. Находятся оценки U (k) = A (z^, j, k), представляющие амплитуды сигнала отражения в k-х синтезированных элементах разрешения по углу места с повышенным разрешением:

[n¡ 2J

u (k) = £ h(l)u (k + l), (3)

l=-[n/ 2J

где n - нечетное; L-J - символ целой части числа; h(l) - весовые коэффициенты, рассчитываемые по методике [2].

4. Определяется положение k^, соответствующее минимальному значению угла места

линии визирования антенны (или максимальной высоте поверхности, поскольку отсчет

угла места ведется от горизонтальной плоскости положения объекта-носителя РЛС), при котором амплитуда U (k^ ) превышает порог обнаружения сигнала отражения от поверхности.

5. Вычисляется высота поверхности H (z^, j) в точке (z^, j^) по формуле H (z^, j) = h - R^ sin , где R^ - расстояние по наклонной дальности между РЛС, расположенной на высоте h, и элементом разрешения дальности z^.

6. Значение высоты H (z^, j ) присваивается данному ц-му сегменту.

Вместо операций определения 9^ на основе повышения разрешающей способности

РЛС по углу места (пп. 3, 4) может быть использован более простой способ измерения максимального значения 0, заключающийся в определении положения k^ луча РЛС по углу

места при его последовательном смещении на n-ю часть ширины ДНА, при котором сигнал отражения от поверхности в (z^, j) -м элементе разрешения исчезает (луч выходит за пределы поверхности в данном элементе разрешения). При этом угол места 9^ определяется по нижней границе ДНА. Соответствующая оценка амплитуды U (k^ ) находится по формуле

U (kH ) = A (V, j, kv )/а n , (4)

где аn - коэффициент усиления антенны в n-й части ДНА. Однако отношение "сигнал/шум" на периферии ДНА значительно меньше, чем в ее центральной части, и оценка (4) в большей степени подвержена влиянию помех, чем оценка (3).

Определение высоты всех элементов поверхности сканированием луча РЛС. За счет сканирования луча РЛС возможны измерения высоты не только для отдельных ц-х сегментов, но и для каждого (z, j) -го элемента матрицы РЛИ. При этом отпадает необходимость сегментации исходной матрицы РЛИ и измерения высоты по РЛ-тени, однако

требуются дополнительные затраты на сканирование луча РЛС. Соответствующий алгоритм сводится к следующему.

1. В режиме повышенного разрешения по азимуту для первого положения луча РЛС по углу места формируется матрица амплитудного изображения поверхности А^ в координатах ¿-х элементов разрешения по дальности Щ и у-х синтезированных элементов разрешения по азимуту ф у.

2. Электронным сканированием луча РЛС он смещается по углу места на п-ю часть ширины ДНА в положение 02 (в направлении против часовой стрелки), и в режиме повышенного разрешения по азимуту формируется вторая матрица изображения А2 в тех же

элементах разрешения.

3. Аналогично, в результате последовательного поворота луча РЛС против часовой стрелки по углу места на п-ю часть ширины ДНА в положения 0з, 04, ..., 0к получается

последовательность матриц А3, А4, ..., Ат .

4. Для каждого (¿, у) -го элемента разрешения рассматривается последовательность измеренных амплитуд и(1) = Ау (¿,у); и(2) = А2 (¿,у); ...; и(т) = Ат (¿,у) сигналов отражения, полученных при т положениях луча РЛС по углу места. Для этой последовательности по формуле (3) вычисляются оценки й(ц) = А^(¿,у), ц = 1, 2, ..., т и определяется

минимальный угол 0^, при котором оценка й (к^ ) превышает порог обнаружения сигнала отражения от поверхности. Значение угла места 0^ (¿, у, к^ ) -го элемента поверхности запоминается в координатах (¿, у) в матрице 0^ = {0^ (¿, у)}, а оценка амплитуды сигнала этого же элемента й (к^ ) - в матрице А = {й (¿, у, к^ )}.

5. Для более удобного визуального восприятия РЛИ матрицы 0^ и А пересчиты-ваются в прямоугольную систему координат (х^, у у) с (¿, у) -ми элементами дискретизации, размеры которых меньше линейных размеров элементов разрешения, и представляются в виде матрицы высот Н и матрицы амплитуд А, причем в (¿, у) -м элементе дискретизации из нескольких возможных значений запоминается только максимальная высота и соответствующая ей амплитуда. Высота вычисляется по формуле Н (¿, у) = И -

- Щ Бт 0^ (1,3), где Щ - расстояние по наклонной дальности между РЛС, расположенной на высоте И, и (1,3) -м элементом разрешения, в который попадает (¿, у) -й элемент дискретизации прямоугольной сетки.

6. Полученные матрицы Н и А передаются для индикации, а также для вторичной обработки и распознавания РЛИ.

Учет высоты при распознавании РЛИ объектов. Алгоритм определения высоты по длине РЛ-тени (так же, как и алгоритм определения высоты сканированием луча РЛС) 72

А(г, У) 1

Пороговая обработка К (г, У) ^2 Сегментация М (г, У ), Ук

Уэ

I

£э (X У) ,

Уэ

I

Селекция £ (', У), Уо Поворот вокруг хо, Уо 4 а 5 Оценка координат хэ, Уэ

Рис. 1

может быть использован в системах распознавания РЛИ протяженных объектов на фоне не поглощающей радиосигнал поверхности. На рис. 1 представлена блок-схема алгоритма распознавания без учета высоты [10], включающего следующие операции.

1. Каждый элемент матрицы РЛИ А сравнивается в блоке адаптивной пороговой обработки 1 с к меняющимися порогами ао = 0 < < ... ак < ак+1 = да ( к +1 - число уровней

контрастности). Если а$-1 < А (г, у) < а$, то К (г, у) = (- целочисленная метка 5-го

уровня). Результатом пороговой обработки является матрица контрастностей К = {К (г, у)},

которая передается на вход блока сегментации 2.

2. Блок сегментации 2 объединяет элементы матрицы К в связные непересекающиеся подмножества (сегменты) с одинаковым уровнем контрастности. Каждому такому подмножеству присваивается определенная метка3). Результатом операции сегментации является матрица меток М = {М (г, у) = к}, в которой каждому (г, у) -му элементу присваивается номер сегмента, которому он принадлежит. Для снижения объема последующих вычислений в процессе сегментации рекуррентно вычисляются и запоминаются в векторе признаков Ук к-го сегмента его геометрические характеристики: координаты центра тяжести, площадь (число элементов), габариты и др.

3. После сегментации матрица меток М или векторы признаков Ук, к = 1, 2, ..., ш (ш - число сегментов) подаются на блок селекции 3, в котором выбираются группы сегментов, соответствующих по совокупности геометрических характеристик Ук в пространстве признаков изображениям предполагаемых объектов Уэ. Результатом селекции

являются матрица объединенных сегментов £ = ^ Мк предполагаемого изображения

к: Ук е¥

объекта или несколько таких матриц, которые вместе с координатами (хо, Уо) центра тяжести £ передаются на блок поворота 4.

4. Блок поворота работает по принципу коррелятора. Вначале центры тяжести (хэо, Уэо) каждого из нескольких эталонных изображений £э предполагаемого объекта4)

х

э

3

3)

Возможны и другие схемы сегментации, см. например [5].

4)

Эталонные изображения формируются заранее и хранятся в памяти.

Известия вузов России. Радиоэлектроника. 2006. Вып. 4======================================

совмещаются с центром тяжести (xo, Уо ) подлежащего распознаванию изображения Далее Sэ поворачиваются относительно S с определением угла наилучшего совмещения изображений а в смысле минимума меры расстояния р (S, Sэ) между S и Sэ, и по значению этой меры принимается решение о соответствии S и Sэ . При положительном решении координаты центра тяжести (xo, Уо ) и оценка угла поворота а совместно с заданными на эталоне координатами точки (xэo, уэо ), подлежащей обнаружению на текущем изображении, подаются на блок оценивания координат, где вычисляются оценки координат (Xэ, уэ) точки, соответствующей точке (xэo, уэо ) на исходном изображении.

Описанный алгоритм позволяет распознавать плоские изображения объектов на поверхности. Однако если несколько объектов с близкой конфигурацией имеют разную высоту, то алгоритм их не различает. Предложенный алгоритм получения трехмерных РЛИ позволяет дополнительно с матрицей меток M определять значение высоты \ для каждого к-го сегмента (к = 1, т). Это дает возможность различать РЛИ объектов с близкой конфигурацией, но различной высоты. Алгоритм распознавания при этом модифицируется следующим образом.

1. В блоке сегментации 2 дополнительно определяется высота \ для каждого к-го

выделенного сегмента Mk , к = 1, т .

2. На выходе блока селекции 2 элементы объединенного сегмента S в общем случае имеют разные значения высоты \. Эти значения запоминаются в матрице высот Н, которая вместе с матрицей S подается на вход блока поворота 4.

3. В блоке поворота 4 при совмещении Sэ и S для принятия окончательного решения

о взаимном соответствии этих изображений используется мера близости р(8,8э,Н,Нэ), зависящая от Н и Нэ (Нэ - матрица высот для эталонного РЛИ).

При распознавании малоразмерных изображений со сложной конфигурацией предусматривается распознавание в пространстве признаков. При этом для каждого подлежащего распознаванию объединенного сегмента S вычисляются А - средняя по всем элементам сегмента амплитуда сигнала отражения; N - количество элементов сегмента, характеризующее его площадь; Н - средняя по входящим в S объединенным сегментам высота, а также другие более сложные геометрические инварианты, которые сравниваются с соответствующими эталонными значениями при вычислении функции близости.

Результаты моделирования. Алгоритм распознавания с определением высоты моделировался при выделении изображения заданного объекта с определением на текущем изображении координат точки, соответствующей заданной на эталонном изображении точке (xэ, уэ). Объект наблюдения - наземное сооружение прямоугольной формы высотой

Н = 9ДЛ (АЛ - разрешение по дальности), длиной a = Н и шириной Ь = ( 0.2... 0.4) ДЯ (рис. 2, а - вид сбоку; б - план) - помещался на расстоянии Я = 30Н по наклонной даль-

ности от объекта - носителя РЛС, расположенного на высоте И = 10И. Разрешение по азимуту в линейных единицах А/ полагалось равным АЯ, тогда площадь объекта наблюдения составила N = 26 элементов разрешения. При этих условиях в элементах разрешения по дальности оказывались одновременно окружающая поверхность (фон), стена и крыша сооружения, имеющие различные коэффициенты отражения. РЛ-Тень образовывалась в направлении, противоположном вектору лучей отражения е в элементах разрешения дальности, в которых отсутствует отражение от поверхности.

Элементы матрицы нормированного РЛИ фона и объекта (амплитуды сигнала отражения) рассчитывались в соответствии с моделью, подчиняющейся закону Рэлея-Райса (2) вида

А (', 1) =

Подстилающая поверхность

а

АЯ

—I-

I I I

т—I—I—Г

"1—Г

J_I_I_|_

—I-

I I I

б

Рис. 2

X2 +

У + как

к=1

+ 7.

V к=1

где а1 = 0.33, «2 = 0.33, а3 = 1 - нормированные значения амплитуды сигнала отражения от фона, от стены и от крыши соответственно; А^, ^2, ^3 - коэффициенты, учитывавшие площади фона, стены и крыши, соответственно, в пределах (/, 1) -го элемента разрешения. Для РЛ-тени принималась модель изображения вида (1).

Угловое положение объекта по отношению к наблюдателю составляло 45°. При пороговой обработке применялся метод с несколькими фиксированными окнами и порогами, преобразующий РЛИ А и Аэ в многоуровневые целочисленные изображения К и Кэ соответственно.

Задача распознавания считалась решенной правильно, если найденная алгоритмом точка сопровождения, расположенная вблизи внешней части контура, отклонялась от моделируемой точки на величину 5 , не превышающую заданную допустимую погрешность в = 1.5ДЯ . Оценка вероятности Р события [ё <е} вычислялась на множестве реализаций случайных величин X, У, 7.

Для характеристики точности определения высоты объекта вычислялись И - среднее значение оценки высоты и ои - среднеквадратическое отклонение (СКО) оценки высоты на ансамбле элементов разрешения. В табл. 1 представлены зависимости И и ои от

Р Н Р Н

0.1 0.92 8.82 0.61 0.1 0.90 4.55 0.31

0.2 0.83 9.12 1.30 0.2 0.72 4.66 0.77

0.3 0.71 8.94 1.47 0.3 0.50 4.44 0.82

0.4 0.62 8.59 1.77

СКО ошибок флуктуации отраженного сигнала аа при фиксированном СКО шума аппаратуры аш = 0.01 при А = 1.

При отношении "сигнал/шум" А/аа = 5... 10 (ста = 0.1...0.2) задача распознавания с учетом формы объекта площадью N = 20... 30 элементов разрешения решалась с достоверностью 0.8...0.9. С увеличением уровня шумов флуктуации аа форма восстановленного изображения объекта искажалась и все характеристики ухудшались, однако алгоритм сохранял устойчивость по отношению к изменению аа.

Исследование работы алгоритма в зависимости от уровня разрешающей способности РЛС отражено в табл. 2. Здесь даны результаты моделирования, полученные при сжатии изображения А в два раза по строкам и по столбцам, что равносильно ухудшению разрешающей способности РЛС в два раза по дальности и по азимуту. Сжатие осуществлялось с помощью усреднения А (/', у) в апертуре 2 х 2 элемента. В результате значительно искажалась форма изображения объекта, а вероятность Р У < в} не превышала 0.5. Поэтому вместо определения в результате распознавания координат точки сопровождения принималось решение о принадлежности изображения сегмента £ искомому объекту в пространстве признаков, имеющих следующие значения: амплитуда А = 1 ± 0.5; площадь N = 12 ± 4 и высота Н = 5 ± 2 новых (увеличенного размера) элементов разрешения. В табл. 2 Р - оценка вероятности принятия описанного решения; остальные параметры сохраняют прежний смысл.

Следует отметить, что искажение формы изображения объекта существенно не изменило относительную погрешность определения его высоты Стн /Н, что говорит об устойчивости работы алгоритма.

В статье показана принципиальная возможность определения высоты поверхности и объектов на ней в рамках рассматриваемой модели РЛИ, что делает возможным использование предложенного алгоритма в системах автоматического распознавания РЛИ. Рассмотренные алгоритмы позволяют совместно с амплитудным изображением А = {А (/, у)}

выводить на экран индикатора матрицу высот Н = {Н (г, у)} с указанием высоты либо в

градациях основных цветов (соответственно уровню высоты), либо в изометрии. Это дает возможность пилоту своевременно обнаруживать препятствия при маловысотном полете, что увеличивает безопасность подобных полетов, а также правильно идентифицировать изображения объектов на поверхности при высотном полете, что увеличивает вероятность обнаружения и распознавания РЛИ объектов.

Библиографический список

1. Радиолокационные станции с цифровым синтезированием апертуры антенны / А. Н. Антипов, В. Т. Го-ряинов, А. Н. Кулин и др.; Под ред. В. Т. Горяинова. М.: Радио и связь, 1988. 304 с.

2. Клочко В. К. Повышение разрешающей способности РЛС по данным суммарного и разностного каналов // Вестн. РГРТА. 2004. Вып. 15. С 56-60.

======================================Известия вузов России. Радиоэлектроника. 2006. Вып. 4

3. Кондратенков Г. С., Фролов А. Ю. Радиовидение в передней зоне обзора бортовой радиолокационной станции с синтезированной апертурой антенны // Радиотехника. 2004. № 1. С. 47-49.

4. Кондратенков Г. С., Фролов А. Ю. Радиовидение. Радиолокационные системы дистанционного зондирования Земли: Учеб. пособие для вузов / Под ред. Г. С. Кондратенкова. М.: Радиотехника, 2005. 368 с.

5. Клочко В. К., Ермаков А. А. Алгоритмы фильтрации и сегментации трехмерных радиолокационных изображений поверхности // Автометрия. 2002. № 4. С. 41-47.

6. Клочко В. К. Пространственно-временная обработка информации бортовой РЛС при получении трехмерных изображений поверхности // Радиотехника. 2004. № 6. C. 3-11.

7. Финкельштейн М. И. Основы радиолокации: Учебник для вузов. М.: Радио и связь, 1983. 536 с.

8. Пат. РФ 2249832 C1. МПК 7 G01S13/02, H01Q21 /00. Способ наблюдения за поверхностью на базе бортовой РЛС / В. К. Клочко, Г. Н. Колодько, В. И. Мойбенко, А. А. Ермаков (РФ). Опубл. 10.04.05. Бюл. № 10.

9. Пат. РФ 2256193 C1. МПК 7 G01S13/02. Способ наблюдения за поверхностью и воздушной обстановкой радиолокационной станцией / В. К. Клочко, Г. Н. Колодько, В. И. Мойбенко, А. А. Ермаков (РФ). Опубл. 10.07.05. Бюл. № 19.

10. Клочко В. К., Курилкин В. В., Шейнина И. В. Сравнительный анализ алгоритмов распознавания радиолокационных изображений объектов по данным бортовой РЛС // Радиотехника. 2003. № 12. С. 3-9.

V. K. Klochko

Ryazan state radio engineering university

Algorithm of forming of a three-dimensional radiolocation surface image

Algorithm of forming a height matrix based on a available matrix of two-dimensional amplitude surface image by measuring height according to length of radiolocation shadow on the border of the image, separated into segments, and define altitude by the scanning of radio location station beam by place angle is suggested. The results of algorithm modeling in a system of automatic recognition are presented.

Radiolocation, radiolocation image

Статья поступила в редакцию 30 сентября 2005 г.