Научная статья на тему 'Модификация рельефа поверхности аддитивных материалов при облучении ионами Ar+'

Модификация рельефа поверхности аддитивных материалов при облучении ионами Ar+ Текст научной статьи по специальности «Нанотехнологии»

CC BY
0
0
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
распыление / ионы Ar+ / нанорельеф поверхности / аддитивные материалы / ионная модификация / sputtering / Ar+ ions / surface nanorelief / additive materials / ion modification

Аннотация научной статьи по нанотехнологиям, автор научной работы — Киреев Дмитрий Сергеевич, Миннебаев Кашиф Файзелхакович, Киселевский Всеволод Алексеевич, Иешкин Алексей Евгеньевич

Аддитивное производство (АП) — современная развивающаяся группа технологий, основанная не на удалении материала, а на послойном выращивании и синтезе объекта по модели САПР (система автоматизированного проектирования). Основные недостатки объектов, изготавливаемых технологиями АП, — высокая степень пористости и шероховатости поверхности. В работе рассмотрена возможность модификации поверхности аддитивных материалов Ti⁶Al⁴V и AlSi¹⁰Mg с помощью облучения ионами Ar+ с энергиями в диапазоне от 2 до 9 кэВ. С помощью СЭМ получена топография поверхности до и после облучения и механической полировки. Продемонстрировано уменьшение пористости и шероховатости поверхности, а также влияние энергии пучка на итоговый рельеф поверхности.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по нанотехнологиям , автор научной работы — Киреев Дмитрий Сергеевич, Миннебаев Кашиф Файзелхакович, Киселевский Всеволод Алексеевич, Иешкин Алексей Евгеньевич

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Modification of the Surface Topography of Additive Materials under Ar+ Ion Irradiation

Additive manufacturing (AM) is a modern developing group of technologies based not on the removal of material, but on the layer-by-layer growth and synthesis of an object according to a CAD (Computer-Aided Design) model. The main disadvantages of objects manufactured using AM technologies are a high degree of porosity and surface roughness. This work examines the possibility of modifying the surface of additive materials Ti⁶Al⁴V and AlSi¹⁰Mg using irradiation with Ar+ ions with energies in the range from 2 to 9 keV. Using SEM, the surface topography was obtained before and after irradiation and mechanical polishing. A reduction in surface porosity and roughness was demonstrated, as well as the influence of beam energy on the final surface topography.

Текст научной работы на тему «Модификация рельефа поверхности аддитивных материалов при облучении ионами Ar+»

- ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ ВЕЩЕСТВА -

Модификация рельефа поверхности аддитивных материалов при облучении

ионами Лг+

Д.С. Киреев,1, * К.Ф. Миннебаев,1 В.А. Киселевский,2 А.Е. Иешкин1

1 Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, физический факультет Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2 2 Физико-технологический институт имени К.А.Валиева Российской академии наук (ФТИАН им. К. А. Валиева РАН) Россия, 117218, Москва, Нахимовский проспект д. 36 к. 1 (Поступила в редакцию 27.04.2024; подписана в печать 14.05.2024)

Аддитивное производство (АП) — современная развивающаяся группа технологий, основанная не на удалении материала, а на послойном выращивании и синтезе объекта по модели САПР (система автоматизированного проектирования). Основные недостатки объектов, изготавливаемых технологиями АП, — высокая степень пористости и шероховатости поверхности. В работе рассмотрена возможность модификации поверхности аддитивных материалов Т16Л14У и Л^10 Mg с помощью облучения ионами Лг+ с энергиями в диапазоне от 2 до 9 кэВ. С помощью СЭМ получена топография поверхности до и после облучения и механической полировки. Продемонстрировано уменьшение пористости и шероховатости поверхности, а также влияние энергии пучка на итоговый рельеф поверхности.

PACS: 79.20.Rf, 81.16.Rf. УДК: 538.971, 539.

Ключевые слова: распыление, ионы Aг+, нанорельеф поверхности, аддитивные материалы, ионная модификация.

Бет: 10.55959/MSU0579-9392.79.2440501

ВВЕДЕНИЕ

Являясь методом послойного добавления материала с последующим его спеканием аддитивное производство позволяет сокращать материальные затраты и время производства, а также получать изделия сложной формы, которые крайне сложно изготовить другими методами [1, 2]. Одним из широко применяемых методов является метод селективного лазерного плавления (БЬМ), при котором деталь создается из металлического порошка посредством спекания слоев под действием лазера в бескислородной среде [3]. Требования к износостойкости, микроструктуре и механическим свойствам ограничивают выбор материалов, пригодных для аддитивного производства [4, 5].

В настоящее время аддитивный подход используется для решения широкого круга прикладных задач. Возможность изготовления деталей сложной формы с использованием технологий лазерного аддитивного производства имеет большой потенциал в аэрокосмической промышленности [6, 7] и биомедицине [2]. При этом существуют определенные требования к материалу имплантов: механические свойства, биосовместимость с тканями человека, остеоинтеграция. Поэтому шероховатость поверхности, ее морфология и состав поверхности подобных многокомпонентных материалов крайне важны. Для постоянного развития технологии аддитив-

* Е-таП: [email protected]

ного производства и его применения в вышеуказанных отраслях необходимо устранить его главный недостаток, связанный с низким качеством получаемой поверхности, которая при наличии нерасплавленных гранул порошка остается крайне шероховатой и пористой. В зависимости от размера используемого абразива механическая полировка позволяет значительно снизить шероховатость поверхности, обеспечить достаточно однородную структуру поверхности. Однако ее нельзя использовать для обработки внутренних полостей деталей с развитым рельефом поверхности. Кроме того, после механической полировки в поверхностном слое материала остаются абразивные частицы.

Электрохимическая полировка [8] и лазерно-плазменная полировка [9] позволяют полировать внутренние поверхности деталей сложной формы. Первый метод позволяет сглаживать поверхность до значений не лучше, чем Ка = 0.01 мкм и требует подбора химически агрессивных веществ для каждого типа материалов и последующую утилизацию химических отходов. Недостатками второго метода являются необходимость создания защитной атмосферы, препятствующей окислению материала в процессе полировки, и ограничение на возможность полировки деталей сложной формы.

Хорошо известно, что под действием облучения ускоренными ионами благородных газов происходит модификация нанорельефа поверхности [1012]. Варьируя энергию ионного пучка, угол падения и ионную дозу облучения можно добиться эффективного удаления поверхностных выступов,

что приводит к сглаживанию поверхности [13, 14]. В данной работе рассмотрено влияние облучения ионами Аг+ на рельеф и пористость поверхности мишеней Т16А14V и А18110М^, изготовленных методом селективного лазерного спекания.

го термополевым катодом (катодом Шоттки) и обладающим предельным разрешением около 1 нм. Изображения получались при использовании внут-рилинзового детектора при энергии электронного пучка 10 кэВ, а образец исследовался при увеличении до 200 000х.

1. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

В качестве исследуемых мишеней были использованы цилиндрические образцы высотой 5 мм, диаметром 10 мм из сплавов Ti6Al4V и AlSi10Mg. Образцы были изготовлены из мелкодисперсных порошков (средний размер зерна 20-60 мкм) методом селективного лазерного плавления (SLM) на производственной площадке SIU System Центра аддитивного инжиниринга. Послойное спекание производилось под действием Yb-волоконного лазера мощностью 400 Вт с диаметром фокусировки около 100 мкм.

Облучение проводилось на ускорителе ионов МГУ имени М. В. Ломоносова. Исходная поверхность образцов облучалась пучком ионов Ar+ при различных энергиях в диапазоне от 2 до 9 кэВ с одинаковой ионной дозой 1018 ион/см2. Установленная на расстоянии 15 мм от поверхности образца металлическая диафрагма уменьшает диаметр пучка до 3 мм, что обеспечивает более однородное облучение (рис. 1). Давление в рабочей камере поддерживалось на уровне 5 х 10~6 Торр. Ионная доза определялась по величине ионного тока с образца, определяемого интегратором. При этом для подавления вторичной электронной эмиссии на расстоянии 10 мм от образца была установлена вторая диафрагма с диаметром 5 мм, на которую подавался отрицательный потенциал -100 В.

Аг+

Рис. 1. Схема эксперимента

Также некоторые образцы были подвергнуты механической абразивной полировке без последующего облучения ионами Ar+.

Топография поверхности до и после облучения, а также после механической полировки исследовалась с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) Carl Zeiss Ultra 55, оборудованно-

2. РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Коэффициенты распыления подобных сплавов, полученных аддитивным методом, могут отличаться от обычных сплавов в виду влияния метода получения сплава на микроструктуру. Для оценки величины удаленного слоя с поверхности облученных в образцов А1Б110 М^ и Т16А1^ были использованы данные о коэффициентах распыления чистых Т и А1 [15]. Работа [16] показывает, что коэффициент распыления А1, А10.95810.05 и А10.72810.18 различаются не более чем на 10%.

500

400

200-

—,-,-,-.-,-г-

3 4 5

E, кэВ

—I

10

Рис. 2. Зависимость величины удаленного слоя от энергии ионов

Наиболее эффективное сглаживание рельефа поверхности сплава А1Б110 Mg наблюдается при малых энергиях пучка. Облучение поверхности ионами с энергией 2 кэВ приводит к проявлению крупных полостей, обусловленных методом производства данного материала. Поверхность между полостями значительно сглаживается по сравнению с исходной и выглядит наиболее однородной. При этом появляются поры малого диаметра порядка 20-30 нм (рис. 3, б). Увеличение энергии приводит к формированию более развитого рельефа по сравнению с исходной поверхностью, концентрация маленьких пор значительно повышается, а диаметр пор увеличивается до 50-100 нм (рис. 3, в). Развитый рельеф поверхности, облученной при энергиях 4 и 6 кэВ, состоит из совокупности выступов и впадин разного размера, при этом края выступов более гладкие по сравнению с исходной поверхностью. При дальнейшем повышении энергии до

600

300

100

Рис. 3. СЭМ изображения поверхности Л1Я110Mg до и после облучения ионами Лг+ при различных энергиях при ионной дозе облучения 1018 ион/см2

9 кэВ рельеф поверхности эволюционирует к состоянию, при котором крупные полости разного диаметра перекрываются и частично объединяются с нанопорами, концентрация которых значительно возрастает (рис. 3, д). В результате чего поверхность состоит из совокупности «чешуек», объединенных между собой, что значительно повышает эффективную площадь поверхности и степень ее пористости. Стоит отметить, что поверхность самих «чешуек» относительно гладкая в наномасштабе.

В то время как крупные полости присущи материалу мишени и являются следствием послойного спекания мелкодисперсного металлического порошка [4, 17], поры мелкого диаметра (20-100 нм) появляются вследствие ионной бомбардировки. Можно предположить, что при данной ионной дозе облучения и энергии ионов имеет место блистеринг, т.е. образование газовых полостей (блистеров) в приповерхностных слоях твердого тела при его облучении газовыми ионами [18]. Глубина пробега ионов аргона в приповерхностном слое А1 для диапазона энергий от 2 до 9 кэВ составляет от 5 до 12 нм соответственно. При этом величина удаленного слоя составляет 350-550 нм (рис. 2), что значительно превосходит глубину пробега. Вероятно, нанопоры есть результат распыления блистеров, образованных на небольшой глубине от поверхности.

Пористость поверхности обнаруживается и при меньшей ионной дозе облучения, 5 х 1017 ион/см2 (рис. 4, а), которой соответствует удаленный слой, по нашей оценке порядка 225 нм. При этом пористость более ярко выражена, что может быть связано с вдвое меньшей толщиной удаленного слоя при

той же глубине пробега ионов в приповерхностном слое.

На рис. 5 представлены СЭМ-изображения поверхности Т16А14У после облучения Аг+ с различными энергиями. На изображении исходной поверхности (рис. 5, а) наблюдаются протяженные линейные структуры, которые могут как возникать из предшествующих зерен ,0-фазы, образовавшихся на стадии затвердевания жидкости и сохранившиеся до комнатной температуры [17], так и являться следами механической постобработки поверхности на производстве. Облучение с энергией 4 кэВ приводит к развитию рельефа поверхности, при этом так же, как в случае со сплавом A1Si10Mg, проступает пористая структура материала (рис. 5, б). Однако в данном случае пористость менее выражена и развитый рельеф обусловлен преимущественно перекрывающимися крупными полостями. С ростом энергии ионов (рис. 5, в) пористость поверхности уменьшается, при этом рельеф поверхности состоит преимущественно из крупных выступов и впадин высотой более 100 нм, более мелкие шероховатости сглаживаются, присутствует малое количество пор диаметром до 50 нм. Облучение с энергией 9 кэВ приводит к удалению макроскопических выступов, поверхность планаризуется и формируется нанорельеф шероховатостью менее 100 нм, поверхность становится более развитой, однако отдельные поры отсутствуют (рис. 5, г).

Образование рельефа под действием облучения атомарными ионами является результатом нестабильности, возникающей в результате двух конкурирующих процессов: распыления, скорость кото-

Рис. 4. СЭМ-изображения поверхности до и после облучения ионами Аг+ при с различными ионными

дозами при энергии 9 кэВ

Рис. 5. СЭМ-изображения поверхности Т16А14У до и после облучения ионами Аг+ при различных энергиях при ионной дозе облучения 1018 ион/см2

рого зависит от локальной кривизны поверхности, и поверхностной миграции атомов [10, 19]. Поликристаллическая структура поверхности также оказывает значительное влияние на формирующийся рельеф [20]. К тому же неравномерное распределение поверхностных напряжений, возникающее во время традиционных процессов обработки поверхности, таких как притирка и полировка, приводит

к неравномерной скорости распыления отдельных участков поверхности. Совокупность этих факторов приводит к тому, что под действием ионной бомбардировки может происходить как сглаживание, так и развитие рельефа. Поэтому установление точной причины образования того или иного рельефа является сложной задачей. Представленная на рис. 5, г топография поверхности предположитель-

но обусловлена динамическим равновесием между вышеописанными процессами сглаживания и развития рельефа.

Таким образом энергия ионов Аг+ при облучении поверхности сплавов A1Si10Mg и Т^А14V влияет на шероховатость поверхности, ее однородность и пористость. В случае сплава A1Si10Mg наибольшее сглаживание поверхности достигается при энергии 2 кэВ, при этом поверхность остается однородной и не содержит нанопор. В то время как для сплава наиболее оптимальным режимом в данном диапазоне энергий является облучение при энергии 9 кэВ, позволяющим получать планаризован-ную поверхность с наименьшим масштабом шероховатости и отсутствием выраженной пористости. При этом ионная доза облучения влияет на увеличение степени пористости.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

С помощью сканирующей электронной микроскопии определено влияние энергии ионов Аг+ на топо-

графию поверхности, формирующейся под действием ионного облучения сплавов A1Si10Mg и Т^АГ^, полученных с помощью аддитивного производства. Установлены оптимальные режимы сглаживания поверхности при наименьшей степени ее пористости. Показано, что, в зависимости от типа сплава, энергетические режимы облучения, при которых происходит сглаживание поверхности без развития пористости, кардинально отличаются. При энергии облучения 2 кэВ в случае A1Si10Mg на поверхности не развивается рельеф, в то время как увеличение энергии до 9 кэВ приводит формированию сложного рельефа, образованного перекрывающимися порами диаметра 20-100 нм и крупными полостями. Облучение сплава Т^А14V при низких энергиях приводит к сглаживанию рельефа, при этом облучение с энергией 9 кэВ приводит к планари-зации поверхности и формированию нановыступов высотой до 100 нм. Мелкие поры при облучении с высокими энергиями 6 и 9 кэВ не наблюдаются.

Исследование выполнено при поддержке Российского научного фонда, грант № 23-79-01144, https://rscf.ru/project/23-79-01144

[1

[2 [3 [4 [5 [6 [7

[8 [9

[10

Sova A., Doubenskaia M., Grigoriev S. et al. // Journal of Thermal Spray Technology. 22, N 4. 551 (2013).

Danielli F., Berti F., Nespoli A. et al. // Procedia Structural Integrity. 56. 82 (2024). Schmidt M., Merklein M., Bourell D. et al. // CIRP Annals. 66, N 2. 561 (2017).

Fan H., Hu J., Wang Y. et al. // // Optics and Laser Technology. 175. (2024).

Tarasova T.V., Nazarov A.P., Shalapko Y.I. // Journal of Friction and Wear. 35, N 5. 365 (2014). Khodabakhshi F., Gerlich A.P. // Journal of Manufacturing Processes. 36. 77 (2018). Sotov A.V., Agapovichev A.V., Smelov V.G. et al. // International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 107, N 5-6. 2525 (2020). Danilov I., Hackert-Oschdtzchen M., Zinecker M. et al. // Micromachines (Basel). 10, N 3. (2019). Yadroitsev I., Bertrand P., Antonenkova G. et al. // Journal of laser applications. 25. N 5. 052003-1. (2013).

Bradley R.M., Harper J.M.E. // Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and

Films. 6, N 4. 2390 (1988).

Mikhailenko M.S., Pestov A.E., Chernyshev A.K. et al. // Technical Physics. 92, N 8. 1035. (2022). Valbusa U., Boragno C., De Mongeot F.B. // Journal of Physics Condensed Matter. 14, N 35. 8153 (2002). Chernysh V.S., Patrakeev A.S., Soldatov E.S. et al. // Journal of Surface Investigation. 1. N 6. 717 (2007). Zhou G, Bi Y., Ma Y. et al. // Appl Surf Sci. 476. 905 (2019).

Yamamura Y., Tawara H. // At Data Nucl Data Tables. 62, N 2. 149 (1996).

Белов Я.Д., Куприянов А.Н., Лобзов К.Н. et al. // Труды XXVI Международной конференции ВИП 2023. 1. 49. (2023). http://isi2021.uniyar.ac.ru/ files/proceedings/ISI2023Volume1.pdf

Yang X., Ma W., Gu W. et al. // RSC Adv. Royal

Society of Chemistry. 11, N 37. 22734. (2021).

Kamada K., Naramoto H., Kazumata Y. // Journal

of Nuclear Materials. 71. 249 (1978).

Cuerno R., Makse H.A., Tomassone S. et al. //Phys

Rev Lett. 75. N 24. 4464 (1995).

Ieshkin A., Kireev D., Ozerova K., Senatulin B. //

Materials Letters. 272. 127829. (2020).

Modification of the Surface Topography of Additive Materials under Ar+ Ion

Irradiation

D.S. Kireev1", K.F. Minnebaev1, V.A. Kiselevskiy2, A.E. Ieshkin1

1 Department of Physical Electronics, Faculty of Physics, Lomonosov Moscow State University

Moscow 119991, Russia 2 Valiev Physics and Technology Institute of the Russian Academy of Sciences Moscow 117218, Russia E-mail: a kireev. dmitriy@physics. msu. ru

Additive manufacturing (AM) is a modern developing group of technologies based not on the removal of material, but on the layer-by-layer growth and synthesis of an object according to a CAD (Computer-Aided

Design) model. The main disadvantages of objects manufactured using AM technologies are a high degree of porosity and surface roughness. This work examines the possibility of modifying the surface of additive materials Ti6 Al4 V and AlSi10Mg using irradiation with Ar+ ions with energies in the range from 2 to 9 keV. Using SEM, the surface topography was obtained before and after irradiation and mechanical polishing. A reduction in surface porosity and roughness was demonstrated, as well as the influence of beam energy on the final surface topography.

PACS: 79.20.Rf, 81.16.Rf.

Keywords: sputtering, Ar+ ions, surface nanorelief, additive materials, ion modification. Received 27 April 2024.

English version: Moscow University Physics Bulletin. 2024. 79, No. 4. Pp. 494-499. Сведения об авторах

1. Киреев Дмитрий Сергеевич — канд. физ.-мат. наук, науч. сотрудник; e-mail: [email protected].

2. Миннебаев Кашиф Файзелхакович — канд. физ.-мат. наук, ст. науч. сотрудник, доцент; e-mail: [email protected].

3. Киселевский Всеволод Алексеевич — аспирант; e-mail: [email protected].

4. Иешкин Алексей Евгеньевич — канд. физ.-мат. наук, ст. науч. сотрудник; e-mail: [email protected].

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.