CC BY
3
УДК 621.315.593
Шарифбаев Р.Н. студент
Наманганский инжененрно технологический институт МОБИЛЬНЫЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРНИЕ VAX
Аннотация: Разработано небольшое, низкое энергопотребление и высоко-эффективное мобильное устройство для измерительное VAX. Экспериментальные устройства были разработаны с использованием платы Arduino uno и других микроконтроллеров.
Ключевые слова: VAX, проводимость, температура, электрон, микроконтроллер, электронный прибор, Arduino uno.
Sharifbayev N. Yu.
student
Namangan Engineering and Technology Institute MOBILE DEVICE FOR DIMENSIONAL I-V CHARACTERISTICS
Abstract: A small, low power consumption and high-performance mobile VAX measuring device has been developed. Experimental devices were developed using the Arduino uno board and other microcontrollers.
Keywords: I-V characteristics, conductivity, temperature, electron, microcontroller, electronic device, Arduino uno.
Сегодня наука, промышленность, машиностроение и многие другие области постоянно развиваются, что обеспечивает людям множество условий жизни и автоматизацию рабочих процессов. Вот почему каждый получает хорошее удобство, автоматизируя рабочие навыки, которые они используют много раз в своей повседневной жизни.
В электронике, если мы выбираем устройство на основе характеристик проводников и полупроводников, конечно, нам нужно
подключиться к VAX. Но если вы скажете, что за короткое время необходимо взять более одной точки, например, 0,5 секунды, 1 микросекунду, вам придется решить сложную задачу. Таким образом, автоматизация этой работы является
Фигура 1. на фото элемент VAX наблюдение
фактором, который оказывает
значительное влияние на
производительность. [1]
Основная цель данной работы -
автоматизированный метод
изучения и анализа приборов,
полученных в
экспериментальных условиях,
которые стали новыми
функциональными
материалами. Например, Фигура 2. появление доски Arduino Uno i
сегодня физика полимеров
стремительно развивается, и в
этой области проводятся научные исследования дешевых и долговечных
полимерных полупроводников.
Сегодня робототехника развивается, от наших молодых студентов до
наших выпускников, от маленьких контроллеров до больших
многофункциональных контроллеров. Примеры включают Arduino и
другие. И даже используя эти контроллеры, VAX может быть сохранен на
измеренных значениях, и операции могут быть выполнены на них. [3]
Вы также можете самостоятельно изготовить дешевый осциллограф,
отвечающий вашим основным потребностям измерения электрической
величины. Благодаря плате Arduino это еще более разумно. На основе
Arduino вы можете собрать простой компьютерный осциллограф, который
будет намного дешевле и удобнее для вас.Чтобы определить VAX, нам
также нужно знать силу тока. Потому что, если мы поместим напряжение
(V) вдоль оси X на графике, мы разместим ток (мА) вдоль оси Y и опишем
их взаимозависимость на том же графике.
> 50 ГЭ
40 30 20
ю юо юоо I, А
Рис. 2 VAX график сварочного аппарата.
Технология электроники сегодня состоит в основном из полупроводниковых материалов. Получение VAX под воздействием внешних воздействий, включая температурную деформацию, электростатическое поле, электромагнитное поле, переменное электромагнитное поле и т. Д., Является довольно сложным процессом в
этом исследовании. настройки идут. Это, в свою очередь, требует автоматизации. [4]
Предположим, что все квантовые состояния в энергетической зоне заняты электронами. В этом случае будет существовать плотность электрического тока для всей электронной системы. Потому что любой электрон со скоростью v может быть взаимосвязан. Когда ковалентные связи в полупроводнике разрываются, например, из-за нагрева, появляются пустой электрон и дырка на его месте./ = —-v^vs = 0[5]Это эквивалентно
переходу электрона из валентной зоны в зону проводимости. Общая плотность тока всех электронов в валентной зоне записывается следующим образом;
J = = Sbarcha S + (4)
1 1 satx uchun 1
из этого выражения ясно, что плотность тока для правой стороны
равна нулю. Скорость электрона определяется с учетом следующих
предположений. Следовательно (n) Пусть dt - вероятность столкновения
электрона во времени. Мы также предполагаем, что вероятность
столкновения, соответствующего 1/т единичного времени, не зависит от
времени, то есть это определенное постоянное значение. Количество
столкновений для n частиц во времени равно dt, соответственно, n dt/to.
Чтобы увеличить емкость устройства, установка источника тепла, который
обеспечивает температуру выше комнатной, показывает, что проводимость
проводящего элемента зависит от температуры. [6] По этой причине можно
получить источник температуры с помощью электричества или работать на
основе выражений. В то же время можно игнорировать изменения
температуры в течение мгновенного интервала времени. Потому что когда
это произойдет. Следовательно, чем короче время отключения VAX, тем
выше точность. [7] В связи с этим целесообразно получение VAX с
помощью осциллографа, а также использование метода, основанного на
автоматизации на основе устройств, собранных на основе
микроконтроллера.dn = n^di~dT ^~dTdtdt ^ 0dT ^ 0
Использованные источники:
[1] Гулямов Г.И., Эркабоев Ю.И., Шарибаев Н.Я. Моделирование температурной зависимости плотности состояний в сильном магнитном поле. J. Мод. Phys.том 05, нет. 08, стр. 680-685, 2014, doi: 10.4236 / jmp.2014.58079.
[2] Гулямов Г.Г., Дадамирзаев М.Г., Шарибаев Н.Я., Зокиров Н.М. ЭДС носителей с горячим зарядом, возникающих на рп-переходе под воздействием СВЧ-поля и света. J. Electromagn. Анальный. Appl.том 07, нет. 12, с. 302-307, 2015, doi: 10.4236 / jemaa.2015.712032.
[3] Г. Гулямов, А. Г. Гулямов, А. Г. Эргашев, Б. Т. Абдулазизов «Использование фазовых портретов для изучения процессов генерации -
рекомбинации в полупроводниках».
[4] Х. Чжэн, Г. Чен и С. М. Роуланд, «Влияние напряжений переменного и постоянного тока на электрическое дерево в полиэтилене низкой плотности» 1Ы. J. Б1в&г. Сила Энергия Сист.том 114 января 2020, ёо1: 10.1016 / |.уерев.2019.105386.
[5] Гулямов Г.Ю., Эркабоев Ю.И., Шарибаев Н.Я. Исследование температурной зависимости колебаний магнитной восприимчивости в полупроводниках. J. Мод. Р^уя. том 05, нет. 17, с. 1974-1979, 2014, ёо1: 10.4236 / |тр.2014.517192.
[6] С. Кумар, В. Сарин, Н. Батра, П. К. Сингх, «Исследование характеристик СУ в тонких кремниевых солнечных элементах п1-р-р1 и структурах с индуцированным переходом пр-р1 клеток», в Материалы солнечной энергии и солнечные батареи 2010, том. 94, нет. 9, с. 14691472, дои: 10.1016 / |.Бо1та1.2010.03.019.
