CC BY
8
/ е"А8 Б®! /3(8) V (5)
1
f
где - елЧ и, следовательно,
111x0)11 £ 1x0)11.
Примем Т - тах {Т1, Т2}. Тогда если у (О - Ьх то при всех I а Т
111-х(*) 11 £ 11х(1)11 + I их(|)11 £
(12)
£ (1 + ф'М х(1) 11.
" /
Так как Ь"1 существует и учитывая, что 1Г*у«) - хШ, ха), у(0 € Вп</3), получим для всех X £ Т
■ у
ШГ1^)!1 = 11x0)11 £ 11 у(4) ГI +
+ 111x0)11 5 I ЬуО)11 +ЯПХ(1)П
или
1
11 Ь"!у0) 11 5 (Р^1 1 1 1 • (13) Из формул (3) и (11) следует:
р0,х0)) г ЬхО) VI ^
<Р~1Ш\)) ■ 1Г*у(0 10.
Т
Далее, учитывая неравенства и ,(13) и полагая, что 1 + 4
1
(12) 8 ко.
(1-4)
к|, окончательно получим
11^,х(1))11 & коИхф! I VI ^ Т,
11 Vх (1,У(1)) И < кН 1у(1)11 V г > Т,
к
следовательно, <р 6 (1Хх, З^).
л ♦
Теорема доказана. Следствие. Система (1) приводима к системе (2). ляпуновским преобразованием вида (3).
Действительно, так как система (1) переводится в систему, (2) с помощью ляпуновского преобразования вида (3), то эти системы приводимы [2].
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1. Был о в Б. Ф., Виноград Р. Э., - Гробман Д. М., Немыцкий В. В» Теория пока-* зателей Ляпунова и ее приложения к вопросам
устойчивости. М.: Наука, 1966. 576 с.
2. Воскресенский Е. * В. Группы лреобразо-
ъ.
ваний Ляпунова // Укр. мат. журн. 1993. Т. 45, № 12. С. 1595 — 1600.
4
3. Воскресенский Е. В. Ляпуновские группы преобразований // Изв. вузов. Математика. 1994. N2 7. С. 13 - 19.
@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@(Э@@@@@
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДВУКРИСТАЛЬНОГО СПЕКТРОМЕТРА ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТОПОГРАФИЧЕСКИХ ДАННЫХ О СТРУКТУРЕ КРИСТАЛЛОВ
Н. К. СОРОКИНА, кандидат физико-математических наук
%
Для исследования монокристаллов детектора излучения чаще всего ис-применяются методы двукристального пользуются либо рентгеновская плен-спектрометра, Косселя, Ламбо, позво- ка, либо специальные фотоматериалы, ляющие получать сведения об отдельно что не позволяет получать данные об выбранной точке кристалла, а также интенсивности* рентгеновской линии и методы рентгеновской топографии построить ее профиль. Таким образом, (Ланга, Боррмана, Берга — Баррета,. эти методы, позволяя определить раз-Вейсмана), дающие возможность ис- мер зерен ^и их разориентировку на следовать характер некоторых струк- поверхности образца, исключают воз-турных несовершенств и связать их с можность определения размера ^неопределенными участками поверхности ментов субструктуры в направлении, (реже объема) исследуемого образца, перпендикулярном отражающим пло-
В топографических методах в качестве скостям, а также микроискажений,
»
эф<|и
ика
т. е. тех эффектов, которые вызывают изменение профиля и интенсивности рентгеновских линий.
Следует отметить, что разрешающая способность топографических методов относительно невелика. Например, при исследовании зоны лазерного воздействия (ЗЛВ) монокристаллов выявляются настолько существенные неоднородности, что использование дифракционных методов становится не-
ективным.
настоящей работе описана мето-иссл едования монокристаллов, представляющая собой развитие метода двукристального спектрометра (полностью сохранена геометрия съемки) для получения топографических данных. Предлагаемый метод позволяет, используя достоинства друкристального спектрометра, резко повысить его ин-тегральность, т. е. дает возможность получать информацию с большой поверхности образцов с визуальным контролем,'
Пучком рентгеновских лучец с прямоугольной входной щелью на поверхности образца освещается прямоугольник размером а в плоскости гониометра, который может быть аппроксимирован функцией щбли:
П(Х)
при 1X1 £ а/2, при 1X1 >а/2,
где X — координата на поверхности образца в направлении, перпендикулярном оси гониометра,
Бели применять круглую щель, то конечный- вывод будет незначительно отличаться от рассматриваемого.
Отражающий элемент (субблбк, зерно) может Иметь различную форму
(в первом приближении прямоугольник размером Ь в направлении оси X), и
в том случае, если его ориентировка удовлетворяет условиям дифракции, возникает отраженный от не*к> луч, интенсивность которого зависит от точности установки отражающего элемента в брэгговское положение, от величины перекрытия отражающего элемента и первичного пучка, от совер-енства структуры и т. д., но не может быть больше некоторой величины, за-
висящей от отражающей способности кристалла, В данном случае отражаю-ий элемент может быть аппроксимирован'функцией КПкх> (где К — величина, меньшая единицы^ зависящая от вышеупомянутых факторов).
Пцх)
I
при 1X1
Ь/2,
при 1X1 > Ь/2.
Функция Пих) представляет собой изменение интенсивности дифрагированного луча при изменении координаты X, т. е. при сканировании образца в своей плоскости, когда падающий пучок параллелен и бесконечно тонок.
Если в данной установке образец непрерывно просканировать в своей плоскости с непрерывной регистрацией интенсивности, то на ленте потенциометра будет зарегистрирована функция полученная'как результат свертки двух функций П(х> И'КПцхь е*
t
(X)
П(х) + КП1(Х).
В том случае, когда ^при сканировании рентгеновский пучок < одновременно перекрывает несколько блоков, разориентированных друг относительно друга йа некоторые углы, отражающие элементы могут бкть аппроксимированы функцией
N
ч'цх) = 2
АО,
I
в эксперименте
4
где N — число отражающих элементов при полном сканировании; К — коэффициент; Д1 учитывает смещение отражающего блока на поверхности образца.
Зафиксированная
функция
♦ .
Г(Х) П(Х) + Пцх)
г 4
будет представлять собой максимумы типа различной интенсивности,
^двинутые относительно друг друга. Подученце информации с такой рентгенограммы при большом числе N может быть затруднено вследствие сложности картины, возникшей из-за большого количества перекрывающихся максимумов. Уменьшить величину N
можно, уменьшая сечение первичного пучка.
Повторяя подобную процедуру при дискретных изменениях угла поворота кристалла по отношению к первичному пууку; можно получить исчерпывающую информацию о субструктуре образца.
Получение .рентгенограмм при дискретном изменении угла поворота образца относительно первичного пучка, вообще говоря, приводит к потере информации, так как ряд блоков может быть пропущен. Этого можно избежать, если сканирование образца в своей плоскости проводить с одновременным изменением его наклона <р к первичному пучку (в дальнейшем будем называть у вариантом метода).
При т$кой съемке координаты (р и X будут изменяться, рис. 1.
как указано на
возможность определять несовершенства структуры принятыми методами.
На рис. 2 приведена рентгенограмма, полученная ^-вариантом метода (под рентгенограммой приведены соответствующие изменения X и Рентгенограмма убедительно иллюстрирует возможности ^-варианта. По ней легко
определить профиль линии любого участка образца. В данном случае Х-сканирование начиналось на необлу-ченной части образца (соответствует Хдаах). Образец передвигался равномерно до достижения центра зоны (соответствует Хт|„), затем возвращался.
На рис» 2 приведена схема обработку таких'рентгенограмм для получения профиля рентгеновских отражений.
ХШ1п — центр зоны (ЗУ; границы зоны (2); Хтах — матрица (I)
«
Рис. I
Рис. 2
В данном случае непрерывное изменение наклона сопровождается попеременным сканированием образца параллельно поверхности в ту и другую сторону. Если в течение одного полного периода сканирования наклон будет изменяться незначительно, возможности вышеописанного метода полностью сохраняются, но одновременно с достоинствами непрерывного измерения интенсивности и профиля линии получается результат дифракции от надежно Определенных участков исследуемого образца. Подобная информация дает
В работе применялись такие режимы сканирования, при которых полному периоду Х-сканйрования соответствовало изменение равное 0,1°, что
обеспечивало высокую точность регистрами рентгеновских линий, но рентгенограммы получались до 10 м длиной. Подобная методика позволила с точностью, не уступающей стандартным методам« получать полную информацию об интенсивности рентгеновских отражений со всех точек образца, который облучается рентгеновским пучком при Х-сканировании.
ч
»
При исследовании монокристаллов кремния использовалось отражение (III) в первом порядке при схеме спектрометра (lf -1), дающем наибольшую разрешающую способность и, в силу этого, высокое разрешение в регистрации разориентированных относительно друг друга блоков мозаики, а также (1, 1) и (1, 3). В качестве кристалла-
монохроматора спектрометра выбирали образец кремния, вырезанный параллельно грани (III), с углом мозаично-
сти, не превышающем 1'. Держателем служила гониометрическая приставка ГП-2, позволяющая сканировать образец в своей плоскости и в широких пределах изменять установочные уЪгы, что давало возможность выводить в отражающее положение любую заданную точку поверхности исследуемого ца. Для его юстировки применялся микроскоп, позволяющий с точностью до 0,1 мм выводить поверхность обт разца до совпадения с осью гониометра.
Вся измерительная схема была собрана на дифрактометре ДРОН-2.
На. рис. 3 приведены рентгенограммы, полученные с образцов кремния, облученных неодимовым^ лазером при сканировании и дискретных углах цо-
ворота <р. Образец фиксировался на дифрактометре в таком положении, чтобы в брэгговской установке получить максимальное отражение от зоны лазерного воздействия. Каждая кривая соответствует полному периоду сканирования: левый край рентгенограмм соответствует необлученному участку образца, затем образец равномерно сканировался, пока первичный пучок не достигал центра зоны, и возвращался в исходную точку. В нижней части каждого снимка приведены относительный множитель шкалы регистрируемой
интенсивности и относительное значение угла поворота вокруг оси гониометра <р; Из приведенных фотографий отчетливо видно, что ориентировка кристаллов в зоне лазерного воздействия отличается от. ориентировки материалов необлученной части образца. В
том случае,, когда4 на дифрактометре
данее фиксировались отражения от об-
XI 160,5
163,5
Рис. 3
луШейных участков материала, они не
наблюдаются от необлученной части кристалла. ОтчетливЬ обнаруживается то, что кривая отражения занимает большой угловой .интервал порядка
0,0$ рад.
При сканировании с <р т 160,5° параллельным наблюдением в микроскоп с ошибкой, не превышающей 0,1 мм*
установлено, что появление пика йа рентгенограмме совпадает ;с границей зоны лазерного облучения.
..Важно отметить, что полученные данные свидетельствуют о появлении мозаичной структуры и вйе зоны лазерного воздействия.
В настоящей работе для получения .рентгенограмм использовалась широко
раскрытая щель на счетчике (<р-скани-
*
с ►
рование) [1, 2], но, естественно, могут применяться и другие методы и (^(¿-сканирования. Предлагаемый метод существенно менее трудоемок, чем топографические, и в силу этого более
доступен, хотя несколько уступает им в наглядности. Он может быть эффективно использован для получения информации о размере зерен по флукту-ациям интенсивности.
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1; Васильев Д. Мм Зевин Л. С. Рентгеновская дифрактометрия. М., Металлургия. 1963. 244 с. 2. Комптон А., Алисон С- Рентгеновские лу-
чи!. Теория и эксперимент. Л.; М.: Гостехиздат,
1941.472 с..
&&&&&&&&&&&&&& Медицина
кккккхкккхкккхккккхккккхкхкккхкккккккккккккккккх
ИЗМЕНЕНИЯ ГРАНУЛОЦИТАРНОЙ ЗАЩИТЫ ПРИ РОЖИСТОМ ВОСПАЛЕНИИ
*
В. М. МАМЫКИНА, доктор медицинских .наук* Н. П. АМПЛЕЕВА, аспирант
Широкое распространение рожи, ее склонность к тяжелому и рецидивирующему течению требуют более углубленного изучения патогенеза данного заболевания, что необходимо для изысканий новых эффективных методов
комплексного лечения и профилактики.
Использование антибактериальной терапии при положительных клинических результатах способствовало переходу рожи в малоконтагиозное инфекционное заболевание со спорадическим характером распространения [1 ]. Однако, несмотря на успешное применение антибиотиков, болезнь по-прежнему часто имеет тяжелое течение и склонность к рецидивам [9].
Известно, что в патогенезе рожи определенную роль играют изменения как специфического, так и неспецифического иммунитета [9]. При рецидивирующем течений может формироваться вторичный иммунодефицит по относительному гиперсупрессорному варианту. Рецидивы приводят к истощению реакций иммунитета — снижаются титры противострептококковых
ф
антител, количество иммуноглобулинов классов А и М [5, 8 ].
Постоянная деструкция тканей организма приводит к разрушению белков и развитию аутоиммунных процессов. Отрицательную роль в клиниче^
ском течении играют циркулирующие иммунные комплексы [2, 7].
Помимо изменений в специфических гуморальных и клеточных звеньях иммунитета патогенез рожистого воспаления характеризуется значительными нарушениями естественных физиологических механизмов защиты снижением активности фагоцитоза, содержания комплемента, лизоцима и т.д. [3,6]. При этом остаются ма-' лоизученными система гранулоцитар-ной защиты периферической крови больного организма и возможности коррекции этого звена иммунитета.
Из работы [4 ] известно, что одним из активных иммуномодуляторов и корректоров нейтрофильной защиты является дибазол.
Целью настоящего исследования было выявить изменения в системе
