CC BY
12Контроль и испытания ракетно-космической техники
При решении вышеуказанных вопросов возникает проблема проверки сопроводительной документации с точки зрения легитимности. Ниже приведены выдержки из стандарта AS5553, касающиеся этой проблемы:
«Все сертификаты соответствия и другая документация должны быть тщательно проверены на подлинность и применимость по отношению к поставленному материалу, включая, но не ограничиваясь следующим:
1. «Коды даты и/или партии на упаковке не соответствуют кодам дат и/или партии на компонентах или Уведомлению о прекращении производства продукции ...»
2. «Отсутствует маркировка или логотип производителя или они не совпадают с логотипом на вебсайте или на предыдущих поставках».
3. «Документация написана на плохом английском, ошибки в словах, модификации или изменения в документации».
4. «Штрихкод не совпадает с текстовыми данными по компоненту».
«Упаковочные материалы не соответствуют описанию в перечне технических характеристик или существует иной признак того, что компоненты могут быть не новыми и не подлинными».
Как известно, производители или поставщики, включая дистрибьюторов, которые предлагают квалифицированные микросхемы, должны поставлять Сертификат соответствия, подписанный должностным лицом компании, несущим ответственность за производство квалифицированных микросхем.
Исходя из вышесказанного, требование должно быть однозначным: документы за подписью менеджеров по продажам, дилеров, иных лиц, не являющихся органом, контролирующим процесс изготовления ЭРИ, не могут учитываться при сертификации.
Выполнение вышесказанного позволит отделам, занимающимся материально-техническим обеспечением, обоснованно требовать от поставщиков конкретные отчеты по испытаниям ЭРИ ИП в соответствии со спецификациями фирм-изготовителей, а также исключить закупку нелегитимной сопроводительной документации.
Решение вопроса разработки единых требований к полному пакету сопроводительной документации позволит обеспечить качество партий ЭРИ ИП и, следовательно, обеспечить надежность БА КА длительного функционирования.
References
1. AS5553. Fraudulent/Counterfeit Electronic Parts; Avoidance, Detection, Mitigation, and Disposition.
2. MIL-PRF-38535. Performance specification. Integration circuits (microcircuits) manufacturing, general specification for.
3. MIL-PRF-38534. Performance specification. Hyrid circuits (microcircuits) manufacturing, general specification for.
4. MIL-PRF-19500. Performance specification. Semiconductor devices, general specification for.
5. EEE-INST-002. Instruction for EEE Parts Selection, Screening, Qualification, and Derating.
6. MIL-STD-883. Test method standard microcircuits.
7. MIL-STD-750. Test method semiconductor devices.
8. ECSS-Q-ST-60C. Space product assurance. Electrical, electronic and electromechanical components.
9. ESA/SCC Generic Specification N0 9000.
10. ESA/SCC Generic Specification N0 5000.
© Матюшев Р. А., Патраев В. Е., 2013
УДК 621.327
УВЕЛИЧЕНИЕ РЕСУРСА МОЩНЫХ ВОДООХЛАЖДАЕМЫХ КСЕНОНОВЫХ ЛАМП ДЛЯ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ИМИТАТОРОВ СОЛНЕЧНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ ТЕРМОВАКУУМНЫХ ИСПЫТАНИЙ
X. Мацубара, И. Нагорский, К. Фуджина Ушио Юроп БиВи
Breguetlaan 16, 1438BC Oude Meer, the Netherlands. E-mail: igor.nagorski@ushio-europe.nl
Рассматривается история разработки фирмой Ушио мощных (до 30 кВт) ксеноновых источников света и источников питания к ним для задач термовакуумных испытаний космической техники, а также используемые методы для решения задачи увеличения непрерывного срока службы этих источников.
Ключевые слова: имитатор солнечного излучения, ксеноновая лампа, термовакуумные испытания.
LIFETIME EXTENSION OF HIGH-POWER WATERCOOLED XENON LAMP FOR LARGE-SCALE SOLAR SIMULATORS USED IN THERMOVACUUM TESTS
H. Matsubara, I. Nagorski, K. Fujina USHIO Europe BV
Breguetlaan 16, 1438BC Oude Meer, the Netherlands. E-mail: igor. nagorski@ushio-europe. nl
Решетневскуе чтения. 2013
The history of high power (up to 30 kW) xenon light source and power supply development by Ushio Inc. as well as the methods to increase lifetime of the said equipment are presented. The intended application is the thermal vacuum testing of spacecraft equipment.
Keywords: solar simulator, xenon lamp, thermal vacuum testing.
История разработки фирмой Ушио (Ushio Inc.) мощных водоохлаждаемых ксеноновых ламп для крупногабаритных имитаторов солнечного излучения для термовакуумных испытаний и источников питания восходит к 1965 г., когда компания получила заказ на специальные источники света от Японского Космического Агентства (JAXA) для имитатора солнца в Кана-гава, Япония. С тех пор Ушио выступает постоянным партнером как Японского Космического Агентства, так и Американского (NASA) и Европейского космического агентств (ESA) по данной технике. Среди достижений компании за это время следует отметить участие в разработке двух больших термовакуумных имитаторов для испытательного центра JAXA в Цукуба (Tsukuba), Япония в 1975 и 1990 гг. и большого термовакуумного имитатора для испытательного центра ESA в Ноор-двайке (Noordwijk), Нидерланды. Начиная с 1982 г. Ушио унифицирует линейку мощных водоохлаждае-мых ксеноновых источников света, создавая тем де-факто индустриальный стандарт.
Начиная с 2009 г. Ушио работает над задачей повышения срока службы источников света с 400 до 600 часов. Эта задача вызвана индустриальными потребностями непрерывного долгосрочного тестирования
оборудования (в т. ч. космической техники). Повышение срока службы источников света достигается как за счет дальнейшего улучшения конструкции самого источника света, так и доработкой источника питания.
Одним из основных факторов, влияющих на срок службы ксенонового источника света, является стабильность процесса термоионной эмиссии между катодом и анодом. Поэтому в качестве основного метода увеличения срока службы источника света был выбран метод контроля температурного профиля кончика катода для поддержания стабильной термоионной эмиссии.
В отношении источника питания основными факторами, негативно влияющими на срок службы источника света, являются: 1) высокий пусковой ток; 2) нестабильность рабочего тока; 3) недостаточная скорость реакции. Ушио решает эти проблемы посредством перехода с тиристорной схемы источника питания на схему с переключающимися регуляторами.
Таким образом, Ушио успешно вносит свой вклад в задачу термовакуумных испытаний и является ведущей индустриальной компанией в данном сегменте рынка.
© Мацубара Х., Нагорский И., Фуджина К., 2013
УДК 629.78.054:621.396.018
ПРИМЕНЕНИЕ ПЛИС ДЛЯ МОДЕЛИРОВАНИЯ ЛОГИКИ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ БОРТОВОЙ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ
Д. А. Недорезов1, А. В. Пичкалев1, О. В. Непомнящий2
1ОАО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнева» Россия, 662972, г. Железногорск Красноярского края, ул. Ленина, 52. E-mail: nd@iss-reshetnev.ru
2Сибирский федеральный университет Россия, 660041, г. Красноярск, просп. Свободный, 79. E-mail: 2955005@gmail.com
Описано применение способа отработки и испытаний радиоэлектронной аппаратуры, основанного на эмуляции логики функционирования объекта испытаний в программируемых логических интегральных схемах.
Ключевые слова: отработка, испытания, радиоэлектронная аппаратура, моделирование, эмуляция, ПЛИС, наземный отладочный комплекс.
APPLICATION FPGA FOR MODELLING OF LOGIC OF FUNCTIONING OF ONBOARD RADIO-ELECTRONIC EQUIPMENT OF SPACE VEHICLES
D. A. Nedorezov1, A. V. Pichkalev1, O. V. Nepomnjashhij2
1JSC "Information Satellite Systems" named after academician M. F. Reshetnev" 52, Lenin str., Zheleznogorsk, Krasnoyarsk region, 662972, Russia. E-mail: nd@iss-reshetnev.ru
2Siberian Federal University 79, Svobodny prosp., Krasnoyarsk, 660041, Russia. E-mail: 2955005@gmail.com
Application of a way of working off and tests of the radio-electronic equipment, based on emulation of logic offunc-tioning of object of tests in Field-programmable gate arrays is described.
Keywords: debug, test, radio-electronic equipment, modeling, emulation, FPGA, terrestrial debugging complex.
