CC BY
24
Известия ТРТУ
Специальный выпуск
огибающей серии эхо-импульсов от частоты f приводит к определенным трудностям измерительного процесса, поскольку существуют частоты f, на которых огибающая серии эхо-импульсов является экспоненциальной и не изменяется при вра-- , -вия внутренних остаточных МН в монокристаллах.
Для преодоления трудностей предлагается использовать УЗ-импульсы с линейной частотной модуляцией и УЗ широкополосные преобразователи.
Получено выражение для определения зависимости амплитуды эхо-им^льса A(n, f от порядкового номера в серии отражений n и частоты УЗ-колебаний f
A(n, f) = Ae~2a | cos | ,
J i+1 J i
где (X - коэффициент поглощения УЗ-волн; L - длина монокристалла в направлении распространения УЗ-колебаний; f и fi+1 - соседние частоты УЗ-колебаний, на которых огибающие серий эхоимпульсов являются экспоненциальными.
Если в пределах УЗ-импульса f изменяется от f до f+1, то на огибающей каж-- , - -- - , -ся спады амплитуды до нуля. Число спадов равно номеру эхо-им^льса.
- -широкополосных преобразователей позволяет устранить указанный недостаток - - , монокристаллов с малым числом эхо-импульсов в серии отражений по характерной форме огибающей первого эхоимпульса с закономерным изменением ее в за-
n.
БИБЛИОГРДФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1. Сластен МЯ.Ультр^вуковой эхоимпульсный метод измерения механических напряжений. // Известия ТРТУ. - ДонГТУ. - Донецк, ДонГТУ.. 2001. №1. -С. 192-201.
УДК 621.315.519
С.А. Богданов, ЮЛ. Варзарёв, АX. Захаров, ГМ. Набоков
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЫ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ПАРАМЕТРОВ ГЛУБОКИХ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ УРОВНЕЙ
Целью работы является разработка устройства измерения температуры ( ), , -высить достоверность определения параметров ГУ в полупроводниковых структурах методом ДСГУ [1]. Структурная схема разработанного УИТ приведена на рис.1.
Секция физики
Рис.І.Схема структурного устройства измерения температуры
УИТ предназначено для измерения и передачи в ЭВМ типа 1ВМ РС цифровых кодов сигнала, пропорционального температуре исследуемой полупроводниковой структуры.
Программное обеспечение функционирования УИТ позволяет производить установку начальных режимов работ АЦП и БУС, контроль наличия ошибок приема и передачи информации, обработку полученных данных, а также дает возможность автоматически устанавливать оптимальный коэффициент усиления входного сигнала АЦП и использовать усреднение измеряемых данных. Для увеличения скорости вычисления температуры зависимость сопротивления ДТ от температуры Щ(Т) сведена в таблицу с шагом АЯп = Яп+1 — Яп, соответствующим изменению температуры на 1 0С. Температура исследуемого образца определяется путем поиска интервала АЯп, которому соответствует текущее значение сопротивления
ДТ, и дальнейшей линейной аппроксимации на этом интервале.
Разработанное УИТ обладает разрешающей способностью порядка 0,01 0С, которая определяется параметрами ДТ и АЦП. Время преобразования составляет
0.1 с, что вполне приемлемо для решения поставленной задачи.
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1. Захаров А.Г. Диагностика глубоких энергетических уровней в полупроводниковых структурах. //Известия высших учебных заведений. Северо-Кавказский регион. Естественные науки № 4 (92). 1995. - С. 29-32.
