Научная статья на тему 'ОПРЕДЕЛЕНИЕ МЕХАНИЗМА РАССЕЯНИЯ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА'

ОПРЕДЕЛЕНИЕ МЕХАНИЗМА РАССЕЯНИЯ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА Текст научной статьи по специальности «Физика»

CC BY
49
10
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
ТЕРМОЭДС / ГРАДИЕНТ / МАГНИТНОЕ ПОЛЕ / ПОДВИЖНОСТЬ / АНТИМОНИД ИНДИЯ / УЗКОЗОННЫЙ ПОЛУПРОВОДНИК / КВАНТОВЫЙ ПРИДЕЛ / THERMAL EMF / GRADIENT / MAGNETIC FIELD / MOBILITY / INSB / NARROW-BAND SEMICONDUCTOR / QUANTUM LIMIT

Аннотация научной статьи по физике, автор научной работы — Гаджиалиев М.М., Пирмагомедов З.Ш., Эфендиева Т.Н., Сайпулаева Л.А.

Известно, что в исследовании явлений переноса в полупроводниках существенную роль играет механизм рассеяния носителей тока при данной температуре образца. Интересны результаты теории и эксперимента, полученного при исследовании магнетополевой зависимости термоэдс узкозонных полупроводников. В частности, установлено, что в области слабого поперечного магнитного поля термоэдс меняет свой знак в зависимости от механизма рассеяния. Следовательно, точное определение механизма рассеяния играет важную роль при сравнении результатов эксперимента с теорией. Из результатов экспериментального исследования отрицательной термоэдс электронного антимонида индия в зависимости от слабого поперечного магнитного поля в данной работе предложен метод нахождения теоретического коэффициента Br , определяемого механизмом рассеяния носителей тока. Метод найдет свое применение при экспериментальном исследовании отрицательной магнитотермоэдс в объемных полупроводниках и в низкоразмерных структурах.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по физике , автор научной работы — Гаджиалиев М.М., Пирмагомедов З.Ш., Эфендиева Т.Н., Сайпулаева Л.А.

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

DETERMINATION OF THE SCATTERING MECHANISM OF CURRENT CARRIERS

It is known that for transport phenomena in semiconductors, the mechanism of current carriers scattering at a given sample temperature play very important role. The results both of the theory and experiment, obtained in the study of the magnetic field dependence of the thermoelectric power of narrow-gap semiconductors seem to be interesting. In particular, it was established that in the region of a weak transverse magnetic fields, the thermopower changes its sign depending on a scattering mechanism. Therefore, it is crucial to accurate determine the scattering mechanism while comparing the results of experiments and a theory. In this work we propose a method for finding of the theoretical coefficient Br, determined by the scattering mechanism of current carriers, from experiments on the negative thermoelectric power in n-InSb at weak transverse magnetic fields. We suppose this method to be perspective for the study of negative magneto-thermopower as in bulk semiconductors, so in low-dimensional structures.

Текст научной работы на тему «ОПРЕДЕЛЕНИЕ МЕХАНИЗМА РАССЕЯНИЯ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА»

УДК 538.953, 538.955

Б01: 10.21779/2542-0321-2020-35-3-92-95

М.М. Гаджиалиев, З.Ш. Пирмагомедов, Т.Н. Эфендиева, Л.А. Сайпулаева Определение механизма рассеяния носителей тока

ИФ ДФИЦ РАН; Россия, 367015, г. Махачкала, ул. М. Ярагского, 94; maggadji@rambler.ru

Известно, что в исследовании явлений переноса в полупроводниках существенную роль играет механизм рассеяния носителей тока при данной температуре образца. Интересны результаты теории и эксперимента, полученного при исследовании магнетополевой зависимости термоэдс узкозонных полупроводников. В частности, установлено, что в области слабого поперечного магнитного поля термоэдс меняет свой знак в зависимости от механизма рассеяния. Следовательно, точное определение механизма рассеяния играет важную роль при сравнении результатов эксперимента с теорией.

Из результатов экспериментального исследования отрицательной термоэдс электронного антимонида индия в зависимости от слабого поперечного магнитного поля в данной работе предложен метод нахождения теоретического коэффициента Br, определяемого механизмом рассеяния носителей тока. Метод найдет свое применение при экспериментальном исследовании отрицательной магнитотермоэдс в объемных полупроводниках и в низкоразмерных структурах.

Ключевые слова: термоэдс, градиент, магнитное поле, подвижность, антимонид индия, узкозонный полупроводник, квантовый придел.

Введение

Известно, что экспериментальное исследование явлений переноса, в частности диффузионной доли термоэдс узкозонных полупроводников в слабом поперечном магнитном поле дает возможность определить механизм рассеяния носителей тока. Слабым считается магнитное поле, если выполняется неравенство V << 1 (где V = От; О = еH/m c; e - заряд электрона; т - время релаксации импульса электрона; m -эффективная масса носителя тока; с - скорость света; H - напряженность магнитного поля).

Согласно теории [1] в слабом поперечном магнитном поле диффузионная доля термоэдс полупроводников при низких температурах становится отрицательной (ОМТЭС), которая в случае невырожденного электронного газа при рассеянии на ионах примеси дается выражением:

а1(Н) = а(0) + 86.2(^)2ВГ , (1)

где а±(Н), «(0) - термоэдс в поле и без поля соответственно; д - подвижность носителей тока; с - скорость света. Коэффициент Вг в случае не вырожденной статистики носителей тока дается выражением:

Вг = Ъг -а?);

где Ьг = 5.89; ог = 1,93 - холл фактор; г = 2 при рассеянии на ионах примеси.

При интерпретации результатов эксперимента ОМТЭС возникают трудности из-за незнания точного механизма рассеяния. В статье предлагается метод определения коэффициента механизма рассеяния Бг узкозонного полупроводника и-1п8Ь, в котором при низких температурах наблюдается ОМТЭС в слабом поперечном магнитном поле.

Эксперимент и его обсуждение

В теоретических работах [1-4] показано, что изменение диффузионной доли поперечной магнетотермоэдс в зависимости от температуры происходит следующим образом: в слабом поле От<< 1 - меняет знак, в сильном поле От ~ 1 - насыщается, а в области квантования От> 1, ЬО> 2кТ - растет пропорционально логарифму у0 = ЬО/2кТ (где Ь = к/2п, к - постоянная Планка, к - постоянная Больцмана, Т - абсолютная температура).

Это положение теории экспериментально подтверждено в работах [3-8]. Впервые ОМТЭС на п-ТиБЬ в слабом поле при низких температурах наблюдалась в работах [5-7].

0.8

> Е 0.6

с 0.4

| 0.2

Ж

Ж 0.0

-0.2

-0.4

10

15

20 25 НДОе

Рис. 1. Зависимость поперечной магнетотермоэдс антимонида индия от магнитного поля при 28 К

На рис. 1 дана кривая зависимости диффузионной доли термоэдс в поперечном магнитном поле, измеренная на электронном образце антимонида индия при 28 К с подвижностью д = 8.4-103 см2/В-с, с концентрацией п = 1.5-1014 см-3. В нулевом поле при этой температуре термоэдс а(0) = 480 мкВ/К. В работах [6, 7] показано, что термоэдс увлечения и ее изменение с полем наблюдается при Т< 20 К. Это послужило основанием утверждать, что наблюдаемое на эксперименте изменение термоэдс в магнитном поле обусловлено изменением диффузионной доли термоэдс.

Как видно из рисунка, термоэдс в начале с ростом поля уменьшается, затем достигает экстремума в области у ~ 1, далее растет в квантующем поле у >1 по абсолютной величине и в поле Н = 13.7 кОе, Аа(И) = 0.

Рост термоэдс после насыщения ОМТЭС в поле у > 1 обусловлен согласно теории [1] квантовым приростом са, который дается выражением:

са = -а(0) + 86.2{^-)2ВГ = -129 + 86.2[у0сЬку0 -1 (2)

С У0

Выражение (2) выведенное в [1] без учета влияния спинового расщепления уровней Ландау на термоэдс мы использовали в работе, поскольку в ряде экспериментов [9, 10] не наблюдали это влияние на термоэдс, предсказываемое теорией [1, 7, 8].

В работе [6] исследована термоэдс в слабом магнитном поле в п-1и8Ь с п = 1.0-1014 см-3 и показано, что в области акустического механизма рассеяния Т > 100 К термоэдс с ростом поля повышается до величины насыщения 45 мкВ/К и далее увеличивается в квантующем поле, а при рассеянии на ионах примеси (Т < 40 К) термоэдс с ростом поля уменьшается до достижения насыщения 129 мкВ/К, затем растет по абсолютной величине в области квантования у0 > 1, ЬО > кТ.

Из рисунка видно, что при 13.7 kOe, Ac(H) = AcC(H) + AcC(H) = 0. В этом выражении A cC(H) представляет собой ОМТЭС, которая дается формулой (1), а AcC(H) - сумму величин насыщения при рассеянии на ионах примеси 129 мкВ/К и значения дальнейшего роста в квантующем поле, которое дается выражением (2).

Из полученного равенства:

-а(0) + 86.2 Вг = -129 + 86.2 [v0cthv0 -1 -In

подставляя экспериментальные данные из работы [5] при слабом поле - v << 1, H « 2,760 kOe; при сильном поле, где Ac(H) = 0 при H = 13,7 kOe, - v = 2.52 > 1, была найдена величина коэффициента Br = 11.8.

Вычисляя Br = (г- ^)(2ЬГ — аг) из теоретических данных работы [1], а именно

r = 2; Ьт = 5.89; а г = 1.38, получим Br = 14.8.

Очевидно что, экспериментальное значение Br отличается от теоретического.

Из полученного качественного совпадения теоретического и экспериментального значений коэффициента Br следует, что для количественного уточнения Br необходимо проделать вычисления величин полей в формуле (1) в области 0 < v < 1 и в формуле (2) в области 1 < v < V, где V - значение, соответствующее напряженности поля H, при котором Ac(H) = 0. Кроме того, следует использовать значение Ac(H) в поле H=13,7 kOe при акустическом рассеянии электронов.

Выводы

Предложен экспериментальный метод нахождения коэффициента Вг, определяемого механизмом рассеяния при данной температуре, в зависимости отрицательной магнетотермоэдс от поперечного поля электронного антимонида индия.

Метод заключается в том, что суммарная экспериментальная величина отрицательной магнетотермоэдс при данной температуре, состоящая из слагаемых в слабом и сильном поле приравнивается к нулю при данном значении магнитного поля и из полученного равенства определяется коэффициент Вг.

Предлагаемый метод найдет применение при исследовании термомагнитных эффектов как в объемных полупроводниках, так и в низкоразмерных структурах.

Литература

1. Аскеров Б.М. Электронные явления переноса в полупроводниках. - М.: Наука, 1985. - С. 320.

2. Цидильковский И.М. Электроны и дырки в полупроводниках. - М.: Наука, 1972. -С. 640.

3. Зырянов П.С. Квантовая теория явлений электронного переноса в кристаллических полупроводниках. - М.: Наука, 1976. - 480 с.

4. Образцов Ю.Н. К теории термомагнитных явлений в металлах и полупроводниках в квантующих магнитных полях // Физика твердого тела. - 1964. - Т. 6. - С. 414-421.

5. Амирханов Х.И., Баширов Р.И., Гаджиалиев М.М. Квантовые термомагнитные эффекты Нернста-Эттингсгаузена в и-InSb и и-InAs // Физика твердого тела. - 1961. -Т. 3.

- С. 3743-3745.

6. Puri S.M. ahd Geballe T. H. Phonon Drag in n-type InSb // Phys. Rev. - 1964. - V. 136.

- Р. 1767-1774.

7. Puri S.V. Phonon Drag and phonon interaetions in n-InSb // Phys. Rev. - 1965. -V. 139. - P. 995-1009.

8. Мочан И.В., Образцов Ю.Н., Смирнова Т.В. Определение эффективной массы электронов в InSb из измерения термоэлектродвижущей силы в сильном магнитном поле // Физика твердого тела. - 1962. - Т. 4. - С. 1921-1028.

9. Дрычко И.Л., Мочан И.В. Исследование термоэлектродвижущей силы электронной индий - сурьмы в сильных магнитных полях // Физика твердого тела. - 1964. - Т. 6. - С. 1902-1905.

10. Гаджиалиев М.М., Баширов Р.Р., Пирмагомедов З.Ш., Эфендиева Т.Н., Медге Х., Филар К. Термоэдс n-InSb в поперечном квантующем магнитном поле // Физика и техника полупроводников. - 2015. - Т. 49. - С. 904-905.

Поступила в редакцию 3 марта 2020 г.

UDC 538.953, 538.955

DOI: 10.21779/2542-0321-2020-35-3-92-95

Determination of the Scattering Mechanism of Current Carriers M.M. Gadjialiev, Z.Sh. Pirmagomedov, T.N. Efendieva, L.A. Saipulaeva

Institute of Physics, Dagestan Federal Research Center of Russian Academy of Sciences; Russia, 367015, Makhachkala, M. Yaragskiy st. 94; maggadji@rambler.ru

It is known that for transport phenomena in semiconductors, the mechanism of current carriers scattering at a given sample temperature play very important role.

The results both of the theory and experiment, obtained in the study of the magnetic field dependence of the thermoelectric power of narrow-gap semiconductors seem to be interesting. In particular, it was established that in the region of a weak transverse magnetic fields, the thermopower changes its sign depending on a scattering mechanism. Therefore, it is crucial to accurate determine the scattering mechanism while comparing the results of experiments and a theory. In this work we propose a method for finding of the theoretical coefficient Br, determined by the scattering mechanism of current carriers, from experiments on the negative thermoelectric power in n-InSb at weak transverse magnetic fields. We suppose this method to be perspective for the study of negative magneto-thermopower as in bulk semiconductors, so in low-dimensional structures.

Keywords: thermal emf, gradient, magnetic field, mobility, InSb, narrowband semiconductor, quantum limit.

Received 3 March 2020

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.