CC BY
357
УДК 543.423: 543.08
В.А. Лабусов1,2,3, Д.О. Селюнин1,2, И.А. Зарубин1,2, С.А. Бабин1,2, З.В. Семёнов1,2 1 ИАиЭ СО РАН, 2 ООО «ВМК-Оптоэлектроника», 3 НГТУ, Новосибирск
МНОГОКАНАЛЬНЫЕ АНАЛИЗАТОРЫ ЭМИССИОННЫХ СПЕКТРОВ МАЭС - СРЕДСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ДЛЯ АТОМНО-ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
Рассмотрены структура и характеристики современного средства регистрации и обработки эмиссионных спектров - анализаторов МАЭС, созданных на основе многокристальных сборок линеек фотодиодов, а также оптические схемы и параметры оснащаемых ими спектральных приборов. Приведены фотоэлектрические и конструктивные параметры базовых линеек фотодиодов, а также типы созданных на их основе термостабилизированных многокристальных сборок.
V.A. Labusov1,2,3, D.O. Selunin1,2,1.A. Zarubin1’2, S.A. Babin1,2, Z.V. Semenov1,2 1 Institute of Automation and Electrometry SB RAS, 630090, Novosibirsk, prosp. ak. Koptyuga, 1; JSC «VMK-Optoelektronika», 630090, Novosibirsk, prosp. ak. Koptyuga, 1;
-5
Novosibirsk State Technical University, 630092, Novosibirsk, prosp. K. Marksa, 20
MULTICHANNEL ANALYZERS OF EMISSION SPECTRA MAES -MEASURING TOOLS FOR ATOMIC EMISSION SPECTROMETRY
Structure and characteristics of modern tools for registration and processing of emission spectra MAES created on the basis of multichip assemblies of photodiode arrays as well as the optical schemes and parameters of spectral devices equipped with them are considered. Photo-electric and design data of basic photodiode arrays, and also types of the thermally stabilized multichip assemblies of photodiode arrays are presented.
Атомно-эмиссионный спектральный анализ (АЭС) в настоящее время -один из наиболее информативных многоэлементных методов анализа. Его широко используют для контроля технологических процессов и готовой продукции на предприятиях цветной и черной металлургии, в машиностроении, в атомной, автомобильной, авиационной промышленности, в геологии, при обогащении руд полезных ископаемых, в судебно-медицинской экспертизе и в других областях народного хозяйства. До последней четверти прошлого века типичной для АЭС была регистрация спектров на фотопластинках и с помощью фотоэлектронных умножителей (ФЭУ). Использование для регистрации многоэлементных твердотельных детекторов излучения (ТДИ) - линейных и матричных - произвело подлинную революцию в АЭС. И дело здесь не только в
том, что время выполнения анализа сократилось в десятки раз. Регистрация спектров ТДИ дала возможность существенно улучшить все параметры анализа: снизить пределы обнаружения аналитов, повысить точность анализа, эффективно учитывать спектральные наложения.
В современных зарубежных и отечественных атомно-эмиссионных спектрометрах применяются охлаждаемые линейные и матричные ТДИ -приборы с зарядовой связью (ПЗС), приборы с зарядовой инжекцией (ПЗИ), фотодиодные детекторы [1]. Матричные ТДИ используются в приборах со скрещенной дисперсией - эшелле-спектрометрах, линейные - в приборах с одномерной дисперсией. Достоинство эшелле-спектрометров состоит в их малогабаритности и простоте системы регистрации (один или два матричных детектора). Длина регистрируемого спектра в спектрометрах с одномерной дисперсией требует применения сборки линейных детекторов (до нескольких десятков), однако возможность использования второй координаты (высоты входной щели) для увеличения количества регистрируемых фотонов в каждой спектральной линии и, соответственно, чувствительности оправдывает технологические сложности изготовления таких сборок.
С конца прошлого века проводится работа по созданию и совершенствованию линейного многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) на основе многокристальных сборок линеек фотодиодов. МАЭС нашел широкое применение в аналитических лабораториях России и стран СНГ, используется с разными источниками возбуждения излучения -дугой постоянного и переменного тока, искрой, лазером, индуктивно связанной плазмой и разными спектральными приборами - призменными и дифракционными, отечественными и зарубежными. В 2001 г. он включен в Государственный реестр средств измерений РФ под № 21013-01, как средство измерения интенсивности спектральных линий с последующим вычислением концентраций определяемых элементов. МАЭС непрерывно совершенствуется на основе опыта его использования в многочисленных аналитических лабораториях. В настоящей статье изложено современное состояние МАЭС.
Атомно-эмиссионные спектры, получаемые с помощью большинства существующих и создаваемых для АЭС спектральных приборов с одномерной дисперсией, обладают большой протяженностью (от 15 до 50 см и более), часто имеют неплоскую поверхность фокусировки, наблюдаются в области длин волн 160-900 нм и имеют большое количество спектральных линий шириной 20-30 мкм, высотой от 1 до 30 мм и диапазон изменения интенсивности 104 - 106. Современный уровень решения задачи регистрации таких спектров состоит в использовании гибридных сборок из многих фотодетекторных линеек в бескорпусном (кристальном) исполнении, расположенных на монолитном термостабилизированном основании. При этом для каждого типа спектрального прибора изготавливается своя сборка, отличающаяся необходимым количеством линеек, расположенных по соответствующей поверхности фокусировки спектра.
Базовая линейка фотодиодов. Для построения гибридных сборок создана базовая линейка фотодиодов БЛПП-369 с фотоэлектрическими, геометрическими и конструктивными характеристиками,
пригодными для регистрации атомноэмиссионных спектров [2]. Линейка содержит 2612 фотодиодов с шагом размещения 12,5 мкм, высотой 1 мм и динамическим диапазоном 104. Линейка выполнена в виде кремниевого кристалла длиной 33 мм. Расстояние фоточувствительной зоны до краев кристалла - 0,2 мм. С целью создания многокристальных сборок контакты линейки выведены на одну сторону кристалла. Как показано на рис. 1, они соединяются с разъемами электронной платы с помощью гибких полиамидных шлейфов.
Фотодиоды линейки БЛПП-369 чувствительны к излучению в области 160 ^ 1100 нм [3]. На рис. 2, а приведен характерный график зависимости их квантовой эффективности от длины волны излучения. Видно, что линейки обладают высокой квантовой эффективностью в диапазоне длин волн от 180 до 800 нм. Достаточно высокие значения квантовой эффективности фотодиоды сохраняют вплоть до 160 нм (рис. 2, б).
Созданы три модификации линейки БЛПП-369. Первая из них (БЛПП-2Б) содержит два ряда фотодиодов с высотой 1000 мкм и 10 мкм, шаг размещения
12,5 мкм и две идентичные схемы считывания сигналов, обеспечивающие регистрацию атомно-эмиссионных спектров в динамическом диапазоне 106. Вторая модификация - БЛПП-2В - имеет шаг размещения фотодиодов 6,25 мкм, обеспечивающий более высокую разрешающую способность. Третья модификация - БЛПП-369М4 имеет высоту фотодиодов 4 мм, что увеличивает количество зарегистрированных фотонов в каждой спектральной линии в четыре раза.
Многокристальные сборки линеек. Разработаны методы построения гибридных многокристальных сборок линеек фотодиодов, в том числе сборок без «мертвых» зон, позволившие решить проблему создания линейных детекторов оптического излучения большого размера для оснащения подавляющего большинства спектральных приборов, применяемых в атомноэмиссионном спектральном анализе [4,5]. Бескорпусные кристаллы линеек с полиамидными шлейфами размещены на едином термостабилизированном основании. Задача стабилизации фотоэлектрических параметров фотоячеек и снижения порога их чувствительности решена за счет уменьшения и стабилизации температуры линеек с помощью микрохолодильников Пельтье. Влияние дрейфа спектральных линий на результаты анализа в этом случае практически исключено за счет автоматической коррекции температурного
сдвига спектров по 2-3 реперным линиям на сборку. Сборки выполнены в герметичном корпусе с кварцевым входным окном и наполнены сухим азотом с избыточным давлением. Внутри сборок установлены датчики давления и температуры, а также энергонезависимая память для хранения информации о сборке (тип кристаллов, их количество, заводской номер и т. д.). Выводы контактов линейки фотодиодов на одну сторону кристалла и применение полиамидного шлейфа, обеспечивающего разъемное соединение с печатной платой, позволяют разместить линейки по поверхности фокусировки спектра различной кривизны, а также в несколько рядов.
Рис. 2. Чувствительности фотодиодов линейки БЛПП-369:
а - зависимость квантовой эффективности от длины волны излучения, б -фрагмент атомно-эмиссионного спектра меди в области 160-182 нм, зарегистрированный линейками БЛПП-369
Основные типы многокристальных сборок линейных детекторов представлены на рис. 3. Плоские сборки (рис. 3, а) используются для оснащения спектрографов с плоскими фокальными поверхностями и одномерной дисперсией, т. е. спектрографов, созданных для работы с фотопластинками (ИСП - 28, ИСП - 30, ДФС - 8, ДФС - 13, РОБ - 2 и др.). В вогнутых сборках (рис. 3, б) линейки расположены по линиям аппроксимации дуги отрезками, равными длине одиночного кристалла. Такие сборки предназначены для использования в квантометрах с расположенными по кругу Роуланда фокальными
поверхностями и одномерной дисперсией взамен ранее используемых в них ФЭУ (МФС - 3, 4, 5, 6, 7, 8; ДФС- 10; ДФС - 36; ДФС - 41; ДФС - 44; ДФС - 51; ДФС - 458С и др.). Многострочные сборки (рис. 3, в) предназначены для регистрации спектров в спектрографах со скрещенной дисперсией. Линейки размещены в несколько рядов (строк) таким образом, чтобы обеспечить регистрацию каждого из порядков спектра. При этом кристаллы располагаются в направлении дисперсии дифракционной решетки. Такие сборки имеют выпуклость в горизонтальном направлении и используются в спектрографах со скрещенной дисперсией типа СТЭ-1. Варианты стыковки кристаллов линеек в многокристальных сборках показаны на рис. 3, г.
Рис. 3. Основные типы многокристальных сборок; а - плоские, б - вогнутые, в - многострочные, г - варианты стыковки кристаллов (с зазором, без зазоров, в
две строки)
Многоканальные анализаторы эмиссионных спектров [6,7]. Структура МАЭС приведена на рис. 4. Анализатор включает в себя многокристальную сборку, блок электронной регистрации, блок питания и компьютер. Изображение спектра, получаемое на выходе спектрального прибора, формируется на фоточувствительной поверхности многокристальной сборки. Фотодиоды линеек в многокристальных сборках регистрируют спектр одновременно. Полученные сигналы с помощью 16-разрядного АЦП преобразуются в цифровые значения, которые передаются в компьютер и подвергаются дальнейшей обработке как зарегистрированный спектр. Работа МАЭС осуществляется под управлением программного обеспечения (ПО) «Атом». Измерение интенсивностей спектральных линий проводится в
единицах условной шкалы (%) и предусматривает интегрирование фотооткликов нескольких ячеек, находящихся в зоне спектральной линии, с вычитанием интенсивности фона в их окрестности.
Рис. 4. Структурная схема анализатора МАЭС
Измерительный канал МАЭС - совокупность взаимосвязанных элементов его фотоэлектронной системы, обеспечивающая преобразование интенсивности входного излучения, падающего на одну фотоячейку, в выходной электрический сигнал, преобразованный в цифровую форму. Реально наблюдаемая зависимость выходного сигнала от интенсивности излучения является нелинейной и индивидуальной для каждого измерительного канала, что приводит к погрешности измерения интенсивности спектральных линий. Нелинейность зависимости фотоотклика от количества падающих на фотодиод фотонов ¥ за время экспозиции X характеризуется относительным отклонением
¥(Х) — ВХ
этой зависимости от прямой: Л7(Х) = —-^-^—ЛООУо, где /? - константа,
выбираемая из условия минимума максимального значения функции |Л7(Х)|.
Структура линеек фотодиодов БЛПП-369 позволяет электронным способом в отсутствии излучения получить соотношение между значением выходного сигнала и напряжением на входе схемы измерения, т. е. осуществить её калибровку [8]. Современные МАЭС проводят электронную калибровку своих измерительных каналов в автоматическом режиме. Остаточная нелинейность измерительных каналов не превышает 0,5 %.
Разработан вариант МАЭС, обеспечивающий регистрацию последовательности из нескольких тысяч спектров со временем экспозиции до 1 мс в процессе возбуждения излучения пробы [9]. Структурная схема нового анализатора отличается от приведённой на рис. 4 параллельным считыванием сигналов с линеек. Для оценки аналитических возможностей созданный анализатор МАЭС был установлен на спектрограф СТЭ-1, оснащенный установкой для просыпки-вдувания «Поток». Результатом регистрации одного
спектра являлись несколько тысяч записей, отражающих поведение во времени небольших участков спектра со спектральными линиями и близлежащим фоном (рис. 5, а), что позволило корректно вычислить интенсивность линий в каждой записи спектра. После расчета получалась зависимость интенсивности этой линии от времени, отражающая поступление определяемого элемента в дуговой разряд (рис. 7, б). Видно, что в средне-арифметическом спектре, полученном по всем записям (рис. 6, а, нижний график) линия золота не наблюдается, а в одной из записей спектра она присутствует (рис. 6, а, верхний график). При этом в зависимости интенсивности линии от времени наблюдается 12 «вспышек» (рис.
7, б), интенсивность которых превышает заданный порог, что соответствует содержанию 12 крупинок золота в пробе. Высокое отношение сигнал/шум наблюдаемых «вспышек» интенсивности линии золота, которое в максимальной «вспышке» превышает порядок, говорит о возможности существенного снижения пределов обнаружения золота в сравнении с интегральным методом. Такой анализатор эффективно используется в сцинтилляционном спектральном анализе порошковых проб [10].___________
а)
б)
0 6 0.5 0.4 0.3 0.2 <0.5; 14 I <1: 1 1 <10: 0 1 • выгора не Аи 26 7.594-
0 1 , I
11 0.05
0
0 :2 4 ;е 8 10 12 14 1В
Длина волны, нм
Время, с
Рис. 5. Спектральная линия золота 267.595 нм: а - участок спектра с линией и разметкой точек интегрирования и фона; б - зависимость интенсивности линии от времени. Пунктир соответствует верхнему графику на рис. 5, а
В табл. 1 приведены значения достигнутых характеристик МАЭС, из которых следует, что по объему и качеству получаемой информации (разрешающая способность, динамический диапазон, погрешность измерения) созданный прибор удовлетворяет требованиям, предъявляемым к современным системам регистрации атомно-эмиссионных спектров.
Спектрометры с регистрацией и обработкой спектров МАЭС. Спектрометры с МАЭС создавались на основе существующих или новых спектральных приборов с одномерной дисперсией [11]. В первом случае в состав спектрального прибора, имеющегося в аналитической лаборатории, вместо традиционной системы регистрации спектров на основе фотопластинок или ФЭУ устанавливался МАЭС с последующей частичной оптимизацией оптической системы и конструкции прибора. Во втором случае оптическая
система многоканального спектрометра и многокристальная сборка анализатора проектировались одновременно с полной оптимизацией их характеристик.
Таблица 1. Характеристики анализаторов МАЭС
№ Наименование характеристики Значение
1 Рабочий спектральный диапазон, нм 160 - 1100
2 Количество измерительных каналов 2612 - 72000
3 Размер входного окна измерительного канала - Дх*Ду, мкм 12,5 х 1000
4 Длина регистрируемого спектра, см 46
5 Тип многокристальной сборки линеек фотодиодов Плоские, по дуге, многострочные
6 Диапазон установки рабочей температуры кристаллов линеек, °С -5 - +20
7 Погрешность стабилизации рабочей температуры кристаллов линеек, °С 0,04
8 Время экспозиции, мс 1 - 10000
9 Среднее квадратическое отклонение выходных сигналов измерительных каналов, не более, % 0,008
10 Нелинейность фотоотклика измерительных каналов, не более, % 0,5
11 Динамический диапазон выходных сигналов измерительных каналов 104
12 Дрейф выходных сигналов измерительных каналов в течение 1 ч, не более, % 0,01
13 Диапазон измерения интенсивности спектральных линий, единиц условной шкалы, % 0.03 - 100
14 Абсолютная погрешность измерения интенсивности при интенсивности спектральной линии меньшей 1 %, не более, % 0,03
15 Относительная погрешность измерения интенсивности при интенсивности спектральной линии большей 1 %, не более, % 3
Сведения о спектральных приборах с анализаторами МАЭС приведены в таблице 2. В ряде случаев удаётся расширить рабочий спектральный диапазон таких приборов, увеличить их разрешающую способность и светосилу, а также снизить уровень фона [12]. Улучшение характеристик достигается благодаря более широкому диапазону спектральной чувствительности МАЭС (160 - 1100 нм) в сравнении с фотопластинками и ФЭУ, возможности расположения линеек фотодиодов по криволинейной поверхности, компактности применяемых сборок и другим факторам. Например, путём удаления корректирующих линз, используемых для получения плоской фокальной поверхности спектра на выходе оптических систем спектрографов ДФС-458С, рабочий спектральный диапазон расширен до 192-370 нм для УФ решётки (раньше 230-350 нм), в 2 раза уменьшен предел разрешения на краях диапазона и существенно снижен уровень фона в спектре [13]. За счёт установки на выходе спектрографов ДФС-
8, 13 и РОБ-2 специальной цилиндрической линзы на порядок увеличена интенсивность спектральных линий. Путём небольшого изменения переднего отрезка и угла падения излучения на вогнутую дифракционную решётку квантометров МФС-3, 4, 5, 6, 7, 8 расширен рабочий спектральный диапазон в
1,5 раза.
Таблица 2. Параметры спектральных приборов и их многокристальных сборок
Оптическая система спектральног о прибора Наименование спектрального прибора Обратная линейная дисперсия, нм/мм Рабочий спектральный диапазон, нм Радиус многокрис тальной сборки, мм Количество линеек в сборках с зазорами и без зазоров **
ИСП-28, ИСП-30
Призменная 0,4-30 210-600 — 5
Черни- ДФС-8 0,3; 0,6 190-1000 - 5
Тёрнера (с ДФС-13 0,1; 0,2; 0,4 190-1000 - 8
плоской дифракционн ой решёткой) PGS-2 0,74 190-1000 9
Пашена-Рунге МФС-4,6,7,8 0,55 190-410 +500 12
(с вогнутой МФС-3,5 0,83 190-500 +500 12
дифракционн ДФС-10М 0,41 200-700 +1000 12+1
ой решёткой) ДФС-36 0,26 200-500 +1000 2x12+8
ДФС-41 0,55 175-380 +500 12
ДФС-51 0,41 170-340 +500 12
ДФС-458С 0,52 230-350 (190-370)* +520 10
ДФС-44 0,27; 0,36 200-350;340-5 +750 12+8
Гранд 0,4 50 +500 12+8
Гранд-Эксперт 0,4 190-350;385-47 +500 14+10
Экспресс 0,55 0 +520 2x10
Аспект 0,8 169-700 +260 10
SpectroLab 0,35 190-367;390-54 +375 12
Polyvac 0,5 5 +375 12
Atomcomp/ICA 0,55 190-445 +375 12
P Baird HA12 0,6 170-500 175-450 175-450 210-450 +500 12
Со скрещенной дисперсией СТЭ-1 0,38 0,47 0,64 220-270 (208-272)* 252-337 (272-355)* 336-450 (380-445)* -872 13
* - рабочий спектральный диапазон, если он изменяется при установке анализатора МАЭС
** - в двухстрочных сборках количество линеек удваивается.
Примером нового спектрального прибора, построенного с учетом параметров МАЭС, является стационарный светосильный многоканальный спектрометр высокого разрешения «Гранд» [14,15]. Он создан по оптической схеме Пашена-Рунге на основе отражательной нарезной неклассической вогнутой дифракционной решётки и двух многокристальных сборок с 12 и 8 линейками фотодиодов, установленных по радиусу 500 мм. Спектрометр
рассчитан для работы в диапазоне 190-470 нм с входной щелью в области 350385 нм.
Использование в многоканальных спектрометрах анализаторов МАЭС в качестве системы регистрации спектров даёт возможность корректного сравнения таких их характеристик, как спектральный диапазон и разрешение. Программа «Атом» в окне «Тест-МАЭС» обеспечивает измерение спектрального разрешения (ширины спектральных линий на полувысоте) при включенной опции «Ширина пиков». Спектр вольфрама, полученный с помощью спектрометра «Гранд» при использовании дугового источника возбуждения спектров, приведён на рис. 6, а. На рис. 6, б приведена зависимость ширины его спектральных линий на полувысоте от длины волны. Видно, что значения ширины линий лежат в пределах 0,006 - 0,011 нм. Они аппроксимированы степенным полиномом второй степени методом наименьших квадратов.
Длина волны, ни
Рис. 6. Обзорный спектр металлического вольфрама (а) и ширина его спектральных линий на полувысоте (б)
По совокупности параметров (спектральному диапазону, разрешению, светосиле, количеству измерительных каналов, весу и габаритам) спектрометр «Гранд» превосходит существующие аналоги. Проводилось сравнение зависимости спектрального разрешения от длины волны для большинства многоканальных спектрометров, используемых в атомно-эмиссионном спектральном анализе. Зависимости спектрального разрешения от длины волны (аппроксимирующие кривые) строились таким же методом, как на рис. 6, б. Показано, что из спектральных приборов с призмами, плоскими дифракционными решётками и со скрещенной дисперсией спектрометр
«Гранд» по разрешению превосходят только ДФС-8 и ДФС-13 (до 1,5 раз), но при этом они имеют в 3-5 раз меньший спектральный диапазон. Все представленные зарубежные и отечественные приборы, кроме ДФС-36, построенные по схеме Пашена-Рунге, уступают спектрометру «Гранд» по разрешению. ДФС-36 несколько превосходит спектрометр «Гранд» по разрешению, но существенно уступает ему по спектральному диапазону, светосиле, весу и габаритным характеристикам.
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1. Шелпакова И.Р, Гаранин В.Г., Лабусов В.А. Многоэлементные твердотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном спектральном анализе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999. Т. 65, № 10. С. 3-16.
2. Лабусов В.А., Бехтерев А.В. Линейки фотодиодов - базовые элементы многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 7 -
12.
3. Лабусов В.А., Селюнин Д.О., Зарубин И.А., Галлямов Р.Г. Измерение квантовой эффективности многоэлементных фотодетекторов в спектральном диапазоне 180-800 нм // Автометрия. 2008. Т. 44, № 1. С. 27-38.
4. Лабусов В.А., Попов В.И., Бехтерев А.В., Путьмаков А.Н., Пак А.С. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размера для атомно-эмиссионного спектрального анализа // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 104-109.
5. Лабусов В.А. Многокристальные сборки многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 13-17.
6. Лабусов В.А., Попов В.И., Путьмаков А.Н., Бехтерев А.В., Селюнин Д.О. Анализаторы МАЭС и их использование в качестве систем регистрации и обработки атомно-эмиссионных спектров // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 110-115.
7. Лабусов В.А., Кайдалов С.А., Щербакова О.И., Кошеров В.В. Метрологическое обеспечение комплексов приборов для атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализаторами МАЭС // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 40-46.
8. Селюнин Д.О., Лабусов В.А., Петроченко Д.В., Мирошниченко В.Л., Неклюдов О.А., Речкин Г.В. Метод электронной калибровки измерительных каналов многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров МАЭС // Автометрия, 2010, т. 46, № 5. С. 67-76.
9. Селюнин Д.О., Лабусов В.А., Гаранин В.Г., Неклюдов О.А., Бабин С.А. Анализаторы МАЭС для получения последовательности атомно-эмиссионных спектров с временем экспозиции 1 мс // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. В печати.
10. Васильева И.Е., Шабанова Е.В., Бусько А.Е., Кунаев А.Б. Методика определения содержания золота и серебра в геологических образцах с
использованием сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением // Аналитика и контроль. 2010. Т. 14, № 4. С. 201-213.
11. Лабусов Владимир Александрович. Автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук «Многоканальные оптические спектрометры для атомно-эмиссионного анализа». Специальность 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы // Новосибирск, 2009.
12. Путьмаков А.Н., Попов В.И., Лабусов В.А., Борисов А.В. Новые возможности модернизированных спектральных приборов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. Специальный выпуск. 2007. Т. 73. С. 2628.
13. Заякина С.Б., Путьмаков А.Н., Аношин Г.Н. Модернизация дифракционного спектрографа ДФС-458: Расширение возможностей атомноэмиссионного спектрального анализа // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 212-219.
14. Лабусов В.А., Путьмаков А.Н., Бехтерев А.В. Новый многоканальный спектрометр для атомно-эмиссионного спектрального анализа в диапазоне длин волн 190-450 нм // Аналитика и контроль. 2005. Т. 9, № 2. С. 135-140.
15. Лабусов В.А. Комплексы приборов для атомно-эмиссионного спектрального анализа на основе спектрометра «Гранд» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74, № 4. С. 21 -29.
© В.А. Лабусов, Д.О. Селюнин, И.А. Зарубин,
С.А. Бабин, З.В. Семёнов, 2011
