Научная статья на тему 'Метрологическое обеспечение цифровых рентгеновских микротомографов'

Метрологическое обеспечение цифровых рентгеновских микротомографов Текст научной статьи по специальности «Прочие технологии»

CC BY
318
105
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ / МЕТОДЫ ПОВЕРКИ / РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОТОМОГРАФ / СРЕДСТВА НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ / СТАНДАРТИЗАЦИЯ / METROLOGICAL SUPPORT / VERIFICATION METHODS / X-RAY COMPUTED MICRO TOMOGRAPHY SYSTEM / STANDARDIZATION

Аннотация научной статьи по прочим технологиям, автор научной работы — Сырямкин Владимир Иванович, Казтаев Айдос Жасланович, Жданов Дмитрий Сергеевич, Бразовский Василий Владимирович, Глушков Глеб Сергеевич

Рассмотрены основные принципы работы разрабатываемого рентгеновского дефектоскопа (применимые к рентгеновскому томографу), проведен анализ современного состояния нормативной и законодательной базы метрологического обеспечения рентгеновского микротомографа

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по прочим технологиям , автор научной работы — Сырямкин Владимир Иванович, Казтаев Айдос Жасланович, Жданов Дмитрий Сергеевич, Бразовский Василий Владимирович, Глушков Глеб Сергеевич

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Metrological Support for X-ray Computed Microtomography Systems

This article describes the basic principles of the developed X-ray computed tomography system and the current state of normative and legislative base of metrological support for X-ray computed micro tomography system.

Текст научной работы на тему «Метрологическое обеспечение цифровых рентгеновских микротомографов»

УДК 006.053

В.И. Сырямкин, А.Ж. Казтаев, Д.С. Жданов, В.В. Бразовский, Г.С. Глушков, С.И. Бурмантов, С. О. Лунев, В.А. Бородин Метрологическое обеспечение цифровых

*

рентгеновских микротомографов

V.I. Syryamkin, A.Zh. Kaztaev, D.S. Zhdanov, V.V. Brazovsky, G.S. Glushkov, S.I. Burmantov, S.O. Lunev, V.A. Borodin Metrological Support for X-ray Computed Microtomography Systems

Рассмотрены основные принципы работы разрабатываемого рентгеновского дефектоскопа (применимые к рентгеновскому томографу), проведен анализ современного состояния нормативной и законодательной базы метрологического обеспечения рентгеновского микротомографа.

Ключевые слова.. метрологическое обеспечение, методы поверки, рентгеновский микротомограф, средства неразрушающего контроля, стандартизация.

This article describes the basic principles of the developed X-ray computed tomography system and the current state of normative and legislative base of metrological support for X-ray computed micro tomography system.

Key words: metrological support, verification methods, X-ray computed micro tomography system, standardization.

Введение. Неразрушающий контроль и рентгеновская микротомография, в частности, применяются в тех областях, где метрологическое обеспечение является законодательно обязательным, имеет большое значение обеспечение единства и достоверности измерений с применением средств неразрушающего контроля, позволяющих получить при проведении контроля количественную информацию

о параметрах или характеристиках объекта, прямо или косвенно влияющих на качество контроля. При этом технические средства, применяемые рентгеновские микротомографии позволяют оператору определиться с выбором того или иного своего решения (выявление дефекта, его развитие, выбор метода устранения дефекта и т.д.) при проведении контроля и диагностики.

Наиболее важное требование к техническим средствам неразрушающего контроля - предоставление дефектоскописту объективной, достоверной и точной информации об интересующих параметрах или характеристиках диагностируемого объекта. Получение недостоверных сведений может привести к порче оборудования, авариям и катастрофам в технических системах.

Принцип получения изображения в рентгеновском микротомографе. При прохождении через контролируемое изделие ионизирующего излучения оно поглощается и рассеивается. Степень ослабления зависит от толщины д и плотности р контролируемого объекта, а также интенсивности М

и энергии Е излучения. При наличии в изделии внутренних дефектов размером Ад изменяются интенсивность и энергия пучка излучения. Рисунок 1 иллюстрирует общие принципы получения изображения в рентгеновских методах неразрушающего контроля и рентгеновской микротомографии.

Из рисунка 1 видно, что засветка детектора (более темный участок) происходит больше в том месте, куда попало больше квантов ионизирующего излучения (в месте дефекта изделия 2), так можно определить размеры и локализацию дефекта в рентгеновской микротомографии [1].

Физические характеристики дефекта определяются тем, что при прохождении через вещество интенсивность рентгеновского излучения уменьшается по общему закону, характерному для электромагнитных волн (закон Ламберта-Бугера):

I = 1о ехр(-мх), (1)

где I и 10 - конечная и начальная интенсивности излучения соответственно; ^ - полный линейный коэффициент ослабления; х - толщина слоя вещества.

Причем коэффициент ^ зависит от длины волны и плотности поглощающего материала.

Основываясь на зафиксированной прибором томограмме, известных зависимостях ^ = /(Л, р) материала, размерах и других параметрах изделия, а также с учетом уравнения 1, удается получить максимальную информацию о дефекте.

* Работа выполнена по госконтракту «Разработка и организация опытного производства рентгеновского микротомографа для исследования органических и неорганических объектов» (проект №6.523.11.3009) Федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 гг».

Рис. 1. Схема просвечивания и получения изображения в рентгеновской микротомографии: 1 - источник; 2 - изделие; 3 - детектор

Источники возникновения погрешностей рентгеновской микротомографии. Суммарная погрешность рентгеновской микротомографии складывается из параметров рентгеновской трубки (размера фокусного пятна) и разрешающей способности детектора (для томографа добавляется еще и погрешность системы позиционирования объекта). Поэтому суммарную погрешность дефектоскопов и томографов иногда называют степенью геометрической нерезкости [2]. Для расчета геометрической нерезкости рентгеновской микротомографии нужно знать: ё - размер источника излучения; - рас-

стояние от элемента объекта контроля до детектора; Г0 - расстояние от источника излучения до объекта контроля; Г - фокусное расстояние (рис. 2).

Рис. 2. Схема формирования геометрической нерезкости от фокусного расстояния: 1 - источник излучения;

2 - элемент объекта контроля; 3 - матрица детектора

Если детектор помещать в непосредственной близости от объекта контроля, то д* можно считать равной толщине объекта д. Тогда условие соразмер-

ности геометрической и внутренней нерезкости определяют из неравенств: иг < ив - при просвечивании тонкостенных изделий; иг < ир - при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляе-мость дефектов.

Для уменьшения геометрической нерезкости следует применять источники излучения с малым фокусным пятном, что конструктивно и достигается рентгеновской микротомографией.

Фокусное расстояние Г следует выбирать таким образом, чтобы геометрическая нерезкость иг была соизмерима со значением внутренней нерезкости ив (ие ~ иг).

Для определения фокусного расстояния в рентгеновской микротомографии используют соотношение 2:

й

■11.

(2)

Увеличение фокусного расстояния Г позволяет уменьшить нерезкость, но при этом снижается интенсивность излучения и увеличивается время экспозиции, поэтому в рентгеновской микротомографии этим параметрам уделяется основное внимание. Они же являются и главными источниками возникновения погрешности метода.

Нормативная и законодательная база для метрологического обеспечения рентгеновской микротомографии. Развитие и повышение уровня надежности средств неразрушающего контроля и рентгеновской микротомографии, в частности, невозможны без создания высокоразвитой нормативно-технической базы, которая должна быть взаимоувязана и с законодательной, и с правовой базой методов неразрушающего контроля [3].

Анализ зарубежного (страны ЕС) опыта в области неразрушающего контроля показывает, что нормативное обеспечение этой сферы деятельности охватывает полный «жизненный цикл» средства

неразрушающего контроля - стадию разработки, производства, размещения на рынке, обслуживания в процессе эксплуатации изделия - и гарантирует соблюдение всех требуемых характеристик, обусловливающих функциональное назначение изделия [4].

К сожалению, на сегодняшний день нормативнотехническая база метрологического обеспечения в России в области неразрушающего контроля и рентгеновской томографии недостаточно полна и рассредоточена по отдельным областям промышленности в виде инструкций, предписаний и других регламентирующих документов.

Так, методики поверки средств неразрушающего контроля на уровне ГОСТов имеются только на ультразвуковые дефектоскопы (ГОСТ 23667-85), ультразвуковые толщиномеры (ГОСТ 8.495-83), электромагнитные дефектоскопы (ГОСТ 8.273-78), радиационные толщиномеры (ГОСТ 8.112-74), структуроскопы (ГОСТ 8.518-84), рентгенорадиометрические дефектоскопы (ГОСТ 8.452-82).

В последнее время в неразрушающем контроле все больше находят применение такие приборы, как феррозондовые, акусто-эмиссионные, приборы для оптических методов контроля и т.д., на которые не существовало и не существует ГОСТ-ированных методик проверки ни в СССР, ни в Российской Федерации [3].

Существуют ГОСТы и на рентгеновские томографические методы и средства неразрушающего контроля (ГОСТ 29025-91, ГОСТ 25113-86 и др.), однако они не распространяются на дефектоскопы с устройствами цифровой обработки изображения.

Из сказанного можно сделать вывод о необходимости разработки и представления в Госстандарт проекта нормативно-технического документа для рентгеновской микротомографии.

Методики контроля ПО для цифровой обработки изображений рентгеновской микротомографии. В настоящее время для использования в рентгеновской микротомографии можно рекомендовать следующие методики контроля программного обеспечения, используемого для визуализации и обработки результатов измерений - метрики Холстеда и Тейнера [5].

Метрика Холстеда характеризуется следующими параметрами: п - число уникальных, различных операторов программы, включая символы-разделители, знаки операций, имена процедур и функций (словарь операций); щ2 - число уникальных, различных операндов программы (словарь операндов); щ = щ + щ2 - словарь модуля; N - общее количество операторов в программе; N - общее количество операторов в программе.

Метрика использует следующие параметры: информационная длина программ модуля: N = = П11°ё2 П + П21°ё2 П2; информационный объем моду-

2Л2

ля: V = Mog2 п; уровень записи модуля: Ь =

где Ь - уровень концентрированности вычислений; сложность модуля по Холстеду:

N 1^2 у-уі • N2

Е = V/Ь; Е =■

У2

Метрика Тетера включает в себя показатель логической сложности, состоящий из N - общего количества операторов; ЬЪоо1 - общего количества логических операторов; Ь1оор - показателя сложности циклов, рассчитываемого по уравнению

ш°і , где Q - наивысший уровень вло-

женности цикла в модуле; шг - количество циклов в модуле, имеющих г-й уровень вложенности; тг -

3 ^ е

весовой множитель

о, = 4'

4Q -

ті; 5°'=1’

Ь$ - показатель сложности условных операторов

е

= X ; п - количество условных операторов

г=1

г-го уровня вложенности; Ьвя - количество ветвлений в условных операторах (обычно это 0,001).

Общий показатель логической сложности в метрике Тейнера Ьтот ЬЪоо1 ■/ N + Ь1оор + ЬТГ + ЬВЯ.

Показатель сложности взаимосвязи: СТМР = = АР + 0,5 * 575”, где АР - количество связей с прикладными программами; 575 - количество связей с системными программами или утилитами.

А показатель сложности вычисления:

СС =

где ЬВЕСН - количество

N X

по модулям

операторов вычислительного характера в конкретном модуле; N - общее количество операторов этого модуля; Ь575 - суммарная логическая сложность всех модулей; X ЬКЕСН - сумма вычислитель-

по модулям

ных операторов по всем модулям.

Метрика также характеризуется показателями:

5 Ь

Г ТО 575

. . . . ю =------

N 5

где 8Ю - количество операторов ввода-вывода в конкретном модуле;

- удобочитаемости: иКЕАВ = N , гдЄ С0М

количество строк комментариев; N - общее количество строк;

- и, наконец, общим показателем метрики

Сп

I Ьтот + 0,1 С™* + 0,2СС + 0,4Со - 0,1

Приведенная метрика имеет коэффициент корреляции с метрикой Холстеда в интервале от 0,6 до 0,9.

Заключение. В работе были описаны принцип получения изображения, источники возникновения ошибок метода, рассмотрены методики контроля, рентгеновской микротомографии, а также проведен анализ современного состояния нормативной и за-

'=1

конодательной базы метрологического обеспечения рентгеновского микротомографа.

Установлено, что методики поверки в виде нормативных документов существуют только для некоторых видов неразрушающего контроля, за исключением рентгеновской микротомографии, в которых используются устройства цифровой обработки изображения.

Многие из имеющихся метрологических ГОСТов не соответствуют уровню используемого

оборудования в рентгеновской микротомографии, так как в настоящее время рынок насыщен импортными автоматизированными приборами ведущих фирм, а имеющиеся методики поверки не способны в полной мере осуществить контроль всех характеристик приборов неразрушающего контроля.

Полностью отсутствуют и требуют разработки нормативно-технические документы на методики поверки рентгеновской микротомографии.

Библиографический список

1. Промышленная радиационная интроскопия / В.В. Клюев, Б.И. Леонов, Е.А. Гусев и др. - М., 1985.

2. Поверка и калибровка средств измерений ионизирующего излучения: учеб. пособие / В.К. Кулешов, Ю.И. Сертаков. - Томск, 2009.

3. Клюев С.В., Коновалов Н.Н., Копытов С.Г., Соловьева М.О. Аттестация персонала в области неразрушающего контроля. - М., 2011.

4. ГОСТ Р 1.2-92. Порядок разработки государственных стандартов.

5. Томография плазмы. Т. 13: Низкотемпературная плазма / В.В. Пикалов, Т.С. Мельникова. - Новосибирск, 1995.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.