Научная статья на тему 'МЭМС-ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛИ В РАДИОЧАСТОТНОЙ ЭЛЕКТРОНИКЕ II. СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК И ПЕРСПЕКТИВЫ'

МЭМС-ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛИ В РАДИОЧАСТОТНОЙ ЭЛЕКТРОНИКЕ II. СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК И ПЕРСПЕКТИВЫ Текст научной статьи по специальности «Электротехника, электронная техника, информационные технологии»

CC BY
394
16
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОЕ УПРАВЛЕНИЕ / ТЕПЛОВОЕ УПРАВЛЕНИЕ / РЕЖИМЫ РАБОТЫ "HOT" И "COLD" / УЛЬТРАНАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ АЛМАЗНЫЕ (UNCD) ПЛЕНКИ / НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МЕТАЛЛ-УГЛЕРОДНЫЕ ПЛЕНКИ (НМУП) / НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ УГЛЕРОДНЫЕ АЛМАЗОПОДОБНЫЕ ПЛЕНКИ (НУАПП) / БИМОРФНЫЙ ЭЛЕМЕНТ / ПЛАЗМОТРОН / ПОЛУИЗОЛИРУЮЩИЙ АРСЕНИД ГАЛЛИЯ

Аннотация научной статьи по электротехнике, электронной технике, информационным технологиям, автор научной работы — Беспалов Владимир Александрович, Ильичев Эдуард Анатольевич, Кулешов Александр Евгеньевич, Набиев Ринат Мухамедович, Петрухин Георгий Николаевич

Представлен обзор существующих разработок радиочастотных микроэлектромеханических переключателей (РЧ МЭМС). Особо выделен класс РЧ МЭМС-переключателей, подвижные элементы которых выполнены с использованием нанокристаллических алмазных и углеродных алмазоподобных пленок. Показано, что низкие температуры осаждения углеродных алмазоподобных пленок позволяют интегрировать РЧ МЭМС-переключатели с КМОП-схемами (либо MESFET), что значительно уменьшит мощность управления и время, требуемое на переключения.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по электротехнике, электронной технике, информационным технологиям , автор научной работы — Беспалов Владимир Александрович, Ильичев Эдуард Анатольевич, Кулешов Александр Евгеньевич, Набиев Ринат Мухамедович, Петрухин Георгий Николаевич

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

MEMS SWITCHES IN RADIOFREQUENCY ELECTRONICS (PART 2) STATE OF DEVELOPMENTS AND PERSPECTIVES

A review of the existing developments of radio frequency micro-electromechanical switches has been presented. A category of the RF MEMS switches with the moving elements, which are made using the nanocrystal diamond and, also, metal-carbon “diamond-like films, has been emphasized. It has been shown that the low temperatures of the deposition of the carbon diamond-like films permit to integrate RF MEMS switches with CMOS (or MESFET) circuits, which will significantly decrease both the controlling power and the period of switching.

Текст научной работы на тему «МЭМС-ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛИ В РАДИОЧАСТОТНОЙ ЭЛЕКТРОНИКЕ II. СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК И ПЕРСПЕКТИВЫ»

ставляет ~ 9-1011 циклов. Фирма MEMTronics Corp. занимается исключительно РЧ МЭМС-переключателями с емкостной связью. В режиме «hot», при котором переключение ключа происходит при наличии на его входной шине СВЧ-сигнала, РЧ МЭМС-переключатели имеют ресурс в 1011 циклов переключений при коммутируемой СВЧ-мощности ~ 10 мВт. Интенсивно занимаются разработкой и производством МЭМС-переключателей фирмы Raytheon, Lincoln Labs и др.

Надежность переключений - одно из основных и наиболее трудно выполнимых требований, предъявляемых к РЧ МЭМС-переключателям. Потому работы в этом направлении посвящены изучению причин деградации РЧ МЭМС-переключателей. В работе [2] подробно исследуются явления нестабильности и выясняются причины деградаций РЧ МЭМС-переключателей. Показано, что нестабильность работы возникает в основном из-за эффекта «залипания» электродов и их разрушения. Причина «залипа-ния» - в захвате заряда в диэлектрических покрытиях, упрочняющих силовые электроды. Процессы разрушений электродов обусловлены электрическими микроразрядами, сопровождающими переключения.

Особое место в разработках, связанных с повышением надежности, занимают исследования фирмы MEMTronics. В ноябре 2010 г. MEMTronics заключила с U.S. Missile Defence Agency (MDA) очередные контракты на работы в рассматриваемой области (Программа «High-Power X-Band MEMS Phase Shifters», 2011 г.). Важным моментом в разработанной данной фирмой уникальной технологии формирования РЧ МЭМС-переключателей является использование в качестве покрытия нижнего силового электрода пленки из ультрананокристаллического алмаза (UNCD). Разработки фирмы MEMTronics удостоены престижной премии 2011 R&D 100 Award. При присуждении премии отмечен выполненный комплекс работ по интеграции CMOS-, MEMS- и UNCD-технологий.

Поскольку электрическая прочность алмаза почти на порядок выше, чем у других диэлектриков, то из соображений увеличения коэффициента развязки интересно исследовать работу РЧ МЭМС-ключа при толщинах диэлектрического покрытия нижних силовых электродов меньше ~ 0,1 мкм, при которых покрытия из Si3N4 подвержены значительной деградации. Однако попытки получить сплошные поликристаллические пленки UNCD при таких толщинах пока не дали удовлетворительных результатов. Отметим, что до толщин ~ 0,3 мкм UNCD-пленки показывают приемлемую стабильность.

Использование ультрананокристаллических алмазных пленок в РЧ МЭМС-переключателях с электростатическим управлением. В последнее время с целью повышения надежности переключателей и увеличения их ресурса некоторые исследовательские группы стали успешно применять UNCD-пленки в различных конструкциях РЧ МЭМС-переключателей [3-7]. В первую очередь UNCD-пленки показали свои хорошие качества как диэлектрические покрытия нижнего силового электрода. Помимо высокой твердости при использовании UNCD-пленок отсутствуют паразитные эффекты, связанные с перезарядкой ловушек объема диэлектрического покрытия. Однако температура формирования тонких 3-5 нм UNCD-пленок (доминируют ¿р3-связи) составляет 500-680 °С, что препятствует их интегрированию в технологию ИС на наиболее подходящих для обсуждаемого частотного диапазона материалах AIIIBV. В качестве возможных подложек при формировании РЧ МЭМС-ключей используются также кварц и сапфир, а для исключения паразитного влияния диффузии металлов применяются высокотемпературные материалы Cr/W/Gr. Данные материалы совместимы с высокотемпературными процессами (более 450 °C), причем использование сапфира позволяет осуществить интеграцию МЭМС-технологий c КМОП-технологией на КНС (кремний

на сапфире). Так, для РЧ МЭМС-переключателей (рис.1), изготовленных указанным образом, управляющее напряжение ир находится в диапазоне 30-45 В, максимальная емкость (ключ замкнут) составляет 0,65-0,8 пФ, а минимальная (в разомкнутом состоянии) не превышает 90-105 фФ. Потери на частотах 20 ГГц составляют 0,25 дБ, а ослабление сигнала ~ 7,7 дБ.

-40 -35 -30 -25 -20 -15 -10 -5 0

Напряжение, В

Рис. 1. C - F-кривая и типичный ВЧ МЭМС ключ с UNCD-диэлектриком (Up~38 B)

Другим потенциальным преимуществом UNCD-слоев может стать их использование в качестве основы подвижного элемента РЧ МЭМС-переключателей. Высокое значение модуля упругости снимает проблему эффектов «залипания» контактов РЧ МЭМС-ключа при его переключениях.

Использование ультрананокристаллических алмазных пленок в «резистивных» РЧ МЭМС-переключателях с тепловым (токовым) управлением. Отличия конструкции «резистивных» РЧ МЭМС-переключателей, спроектированных и исследованных в лаборатории University of South Florida, от рассмотренных переключателей с электростатическим управлением обусловлены разными физическими эффектами, лежащими в основе их работы. В активное состояние резистивные ключи переводятся посредством термических воздействий на биморфный подвижный элемент при пропускании по резистивной шине управляющего тока (потребляемая мощность составляет ~ 10 мВт).

Принципиальная конструкция ключа и реальный экспериментальный образец представлены на рис.2 и 3 соответственно.

Характеристики «резистивных» ключей исследованы в работе [8] в частотном диапазоне 1-30 ГГц. Результаты измерений в состояниях «включено» и «выключено» представлены на рис.4 и 5 соответственно.

В малосигнальном режиме работы «ре-зистивные» МЭМС-переключатели с би-морфными подвижными элементами (одной из пары пленок которых являлась пленка на-нокристаллического алмаза) показали хорошие характеристики: подавление паразитного сигнала в состоянии «выключено» на частоте 20 ГГц составило 20 дБ, а потери в состоянии «включено» - 0,6 дБ.

Медный

медь

Рис.2. Эскиз термически активируемого UNCD-ключа

1

БП 511 521 521

ел ю

ы

(71

Рис.4. ^-параметры алмазного ключа в неактивном состоянии (копланарная линия не замкнута)

Рис. 5. ^-параметры алмазного ключа в активном состоянии (копланарная линия замкнута)

Однако поддержание такого ключа во включенном состоянии требует мощности 60 мВт, что недопустимо велико, особенно для использования в АФАР, полотно которых включает десятки и сотни тысяч таких ключей. Уменьшить потребляемую энергию можно посредством использования смешанного режима управления, при котором быстрое включение осуществляется термическим воздействием протекающего по шинам тока, а поддержание ключа во включенном состоянии осуществляется подачей на управляющие электроды удерживающего напряжения. Схематическое изображение такой конструкции показано на рис.6. Испытания таких ключей проводились при питающем напряжении 3 В и потребляемом токе 20 мА (режим переключения). Удержание перемычки ключа во включенном состоянии осуществлялось электростатически (ток потребления менее 1 нА, напряжение 28-30 В). Экспериментальные зависимости потерь и характеристики подавления СВЧ-сигнала для частотного диапазона 1,9 ГГц изображены на рис.7 и 8. При испытании таких РЧ МЭМС-переключателей в течение 4-106 циклов включений-выключений заметных деградаций характеристик не наблюдалось.

Возможности переключений СВЧ-сигналов большой мощности (~ 7 Вт) с помощью МЭМС-ключей в Х-диапазоне подробно исследованы в работах [7, 8].

Рис.6. Конструкция с введенными дополнительными конденсаторами для увеличения надежности включения ключа: а - термически активируемый интегральный ключ; б - электрическая защелка для поддержания ключа в активированном состоянии

■0,2

I[икл 1 Цикл 6

х Цикл 2 - Цикл 7

> Цикл 3 * Цикл 8

Цикл 4 • Цикл 9

-*- Цикл 5 -*— Цикл 10

■0,8 -

...................................................

20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 Потери мощности, дБм

Рис. 7. Передача СВЧ-сигнала с частотой 1,9 ГГц при изменении мощности от 20 до 40 дБм

Рис. 8. Подавление СВЧ-сигнала после разного времени непрерывной работы ключа

Линейки РЧ МЭМС-переключателей известных зарубежных фирм представлены на рис.9, а в таблице приведены сравнительные характеристики РЧ МЭМС-переключателей, выпускаемых наиболее известными фирмами.

Рис.9. Конструкции РЧ МЭМС-переключателей ряда известных фирм: DelfMEMS, RADANT и Raytheon

Сравнительные характеристики РЧ МЭМС-переключателей различных фирм

Параметры DelfMEMS (2005 г.) RADANT (2005-2007 гг.) Raytheon (1995 г.) ФГУП НИИФП, Россия (2005-2006 гг.) MEMSTromcs, США (1999 г.) Omron, Япония (2006 г.) TeraVicta TT1244, США (2006 г.)

Изоляция (DC), нА 1-5 1-3 5-10 ~ 1 1-5 30 10

Управляющая мощность Рупр, мкВт - 30 10 ~ 30 - 10 <10

Последовательное сопротивление ключа Rn, Ом 5 4 - 7 (гальваническая связь) Емкостная связь Емкостная связь -

Предельные частоты ^пред, ГГц 40 36 35 1,5 35 10 26,5

Коэффициент развязки Кразв, дБ 25 (при 40 ГГц) 19 (при 10 ГГц); 12 (при 35 ГГц) 35 20 (при 1 ГГц) 25 20 -

Потери мощности Рп, дБ -0,3 (включение) -25,0 (выключение) Включение -0,45 (10 ГГц) -0,8 (35 ГГц) Включение -0,1 (35 ГГц) -1,5 (включение); -20 (выключение) -0,3 (включение); -25,0 (выключение) -1,0 -

Управляющее напряжение ^WTO В 20-25 90-100 30-35 23-25 30-40 40-45 4-6

Переключаемая мощность Р, Вт 0,05-0,1 0,1 4,0 0,01 0,005 0,05-0,07 -

Время переключения т, мкс 5 (при 18 В), 2 (при 25 В) 10 (включение), 2 (выключение) - <100,0 (включение) 5 (при 18 В), 2 (при 25 В) 100,0 (включение) -

Число циклов переключений N (рабочий ресурс в режиме «hot» при частоте 10-35 ГГц) 1,5108 (при 10 мА) гальваническая связь 1011 (при 10 мВт) 103 (при 100 мВт) 31011 108 (при 10 мВт) 1,5108 (при 10 мА) гальваническая связь 108 108

Габариты, мм - 1,5x1,5x0,6 - 3,5x5x1,5 - 5,2x3,0x1,8 3,8x5,1x1,25

Интегрируемость Нет данных Нет Нет данных Да Нет Нет данных Нет

Разработка РЧ МЭМС-переключателей с использованием UNCD-пленок для покрытий электродов силовой цепи, а также в качестве основы подвижного элемента переключателя имеет один технологически трудно устраняемый недостаток. Заключается он в том, что температуры процесса осаждения UNCD-слоя превышают ~ 500 °С. Это препятствует использованию UNCD-пленок в технологических маршрутах на материалах AIIIBV, которые в области СВЧ представляют наибольший интерес. Более того, для приложений, использующих большие массивы переключателей, например при разработках АФАР, весьма актуальна проблема отвода рассеиваемой мощности. Поэтому возникают жесткие требования к минимизации мощности на управление РЧ МЭМС-переключателями, а значит и к минимизации реактивных параметров управляющих це-

| * кЖ*

г— I

пей. Решить эту проблему можно только при однокристальном исполнении, т.е. посредством интеграции РЧ МЭМС-переключателей в кристалл функциональной ИС. В частности, для интегральных схем на КНС это можно выполнить посредством интеграции РЧ МЭМС- и КМОП-элементов, а для ИС на AIIIBV и твердых растворах на их основе - посредством интеграции РЧ МЭМС- и MESFET-элементов в рамках единого кристалла.

Традиционная технология изготовления РЧ МЭМС-ключей удовлетворительно совмещается с КМОП-технологией [9]. На рис.10 представлена фотография чипа, в котором копланарная линия коммутируется «электростатическим» РЧ МЭМС-ключом, имеющим напряжение включения ~ 40 В. Ключ управляется КМОП-схемами с типичными напряжениями 3-4 В. Нет принципиальных проблем и в разработке сложных схем фильтров, фазовращателей и модулей для управления антенными решетками с использованием технологий и конструкций РЧ МЭМС-ключей и КМОП-схем. Технические трудности заключаются в отсутствие у современных РЧ МЭМС-ключей необходимой надежности, которая обусловлена рассмотренными негативными явлениями. Однако по мере совершенствования технологий микроэлектроники надежность МЭМС-ключей растет. На рис. 11 показана тенденция увеличения с годами продолжительности надежной работы РЧ МЭМС-ключей вплоть до ~ 1011 циклов переключений.

Рис.10. РЧ МЭМС-ключ (справа) с электростатическим управлением и КМОП-схемы управления на одном кристалле

10е 10* 10й' 1011 101 Циклы

Рис.11. Тенденции увеличения временного ресурса работы электростатических РЧ МЭМС по сравнению с «язычковым» реле

Особого внимания заслуживает интегрирование в одном чипе МЭМС и GaAs-конструкций и технологий. На рис.12 представлена фотография чипа, в котором усилитель выполнен на GaAs MESFET, а согласующие входные и выходные цепи для частот ~ 18 ГГц - на РЧ МЭМС-ключах.

Успешному применению в радарах на материалах ABV РЧ МЭМС-ключей с емкостной связью мешает паразитная зарядка традиционных диэлектриков. Решение данной проблемы посредством использования для покрытия нижнего электрода UNCD-слоя невозможно ни в рамках КМОП-технологии на кремнии, ни с использованием арсенидгаллиевой технологии. Причина - высокая температура технологического процесса выращивания UNCD-пленок на приборной структуре.

Для решения проблемы интеграции РЧ МЭМС, GaAs и углеродных технологий в [10] предложен и реализован подход, связанный с использованием в качестве основы для подвижного элемента РЧ МЭМС-переключателя и упрочняющего покрытия силовых электродов нанокристаллических углеродных алмазоподобных пленок (НУАПП). Температура осаждения такой пленки на приборную структуру не превышает 70 °С. В [11] показано, что при разработках РЧ МЭМС-переключателей НУАПП осаждались на приборную структуру посредством плазменной полимеризации паров жидких силоканов. Метод не только допускает использование низкой температуры осаждения НУАПП без потери качества приборной структуры, но и позволяет управлять модулем упругости получаемых пленок. В силу низкой температуры осаждения таких пленок, высокой адгезионной способности, крайне малого размера кристаллитов (1 -5 нм), чрезвычайно высокой твердости, а также термической и химической стойкости эффективность их использования в РЧ МЭМС-технологиях и конструкциях неоспорима. Технология осаждения НУАПП на приборные структуры совместима как с КМОП-технологией, так и с арсенидгаллиевой технологией. При одновременном распылении плазмотроном в рабочей камере силоканов и магнетронном распылении металлов можно получать низкоомные композитные нанокристаллические металл-

углеродные пленки (карбиды молибдена, титана, хрома и т.д.). Это позволяет

12

увеличить диапазон изменений удельных сопротивлений получаемых пленок от 1012 до 10-5 Омхм, что значительно расширяет функциональные возможности разрабатываемых на основе этих пленок РЧ МЭМС-приборов и устройств. В работе [12] описаны технологические процессы низкотемпературного осаждения на приборные структуры как высокоомных (до 10 Омхм) НУАПП, так и низкоомных (до 10- Ом см) композитных металл-углеродных пленок. Фазовый состав таких пленок исследован методами рентгеновского микроанализа и электронной микродифракции. Морфология пленок изучалась с использованием метода сканирующей атомно-силовой микроскопии. Доминирующий характер атомарных связей в высокоомных нанокристаллических углеродных алмазоподобных пленках изучался методом комбинационной спектроскопии. Электрофизические характеристики пленок измерялись с использованием приборного измерительного комплекса фирмы Adjelent. В результате исследований установлено:

- в высокоомных НУАПП присутствует несколько углеродных модификаций при

3 2

доминировании - и -связей;

- в низкоомных нанокристаллических металл-углеродных пленках доминирует фаза карбида металла (например, МоС);

- характерные размеры нанокристаллитов в пленках в зависимости от технологических режимов изменяются в диапазоне 1-5 нм;

Рис. 12. Интеграция ВЧ МЭМС-ключей и GaAs FET в чипе усилителя на 2 - 18 ГГц

12

- максимальные значения удельного сопротивления НУАПП достигают 10 Омхм;

- минимальные значения удельного сопротивления проводящих нанокомпозитных металл-углеродных пленок достигают 10-5 Омхм.

Технологии осаждения НУАПП совместимы с технологиями осаждения на приборные структуры металлических и диэлектрических покрытий. При этом установлено, что можно управлять толщинами осаждаемых при низких температурах (70-100 °С) углеродных пленок в дипазоне от 10 нм до 2 мкм.

В работах [10, 13] экспериментально исследованы сравнительные потери СВЧ-мощности в НУАПП, металл-углеродных пленках и подложках из материала Si и GaAs в полосе частот до 7 ГГц. Установлено, что высокоомные НУАПП, так же как и подложки из полуизолирующего арсенида галлия, практически не поглощают радиочастотное излучение в указанном диапазоне частот. Кроме того, кремниевые подложки, начиная с частот ~ 1,7 ГГц, интенсивно поглощают излучение, что значительно снижает спектр радиочастотных задач, решаемых на кремниевых либо SiGe ИС при использовании РЧ МЭМС-элементов и технологий. В ряде случаев посредством значительного усложнения технологического маршрута все же возможны решения, позволяющие использовать широкополосные РЧ МЭМС-переключатели, интегрированные в КМОП ИС на кремниевых подложках.

Цель работ [11-13] - отработка технологий низкотемпературного осаждения на приборные структуры нанокристаллических углеродных и металл-углеродных алма-зоподобных пленок. Осаждение проводилось на подложки Si/SЮ2/Si3N4, что определило частотный диапазон экспериментальных исследований и конструкцию РЧ МЭМС-переключателей. На рис.13,а,б представлены результаты морфологических исследований обсуждаемых нанокристаллических углеродных и металл-углеродных алмазопо-добных пленок. Значения шероховатости Яа (определяется как среднеарифметическое локальное отклонение по высоте абсолютных значений от среднего), а также максимального ^тах и среднеарифметического ^теап отклонений для высокоомных углеродных алмазоподобных пленок следующие: ^тах = 2,49 нм; ^теап = 1,21 нм; Яа = 0,22 нм. Параметры сканирования: размер 1200*1200 нм, шаг ~ 81 А, скорость ~ 14500 А/с. Для нанокристаллической металл-углеродной пленки: ^теап = 1,06 нм; Яа = 0,17 нм; Ятах = 1,95 нм. Параметры сканирования: размер 1200*1200 нм, шаг ~ 81 А, скорость ~ 12300 А/а На основе полученных углеродных алмазоподобных пленок авторами [10-13] изготовлены МЭМС-переключатели различных конструкций, РЭМ-изображения которых представлены на рис.14. Площадь занимаемая собственно переключателем составляет ~ 500x500 мкм. При этом толщина балки (моста) ~ 1 мкм, ширина балки (моста) ~ 40 мкм,

а б

Рис.13. Топология поверхности: а - образца № 1 (ультрананокристаллическая алмазоподобная углеродная пленка); б - образца № 2 (нанокристаллической металл-углеродной пленки)

Рис.14. РЭМ-изображения сдвоенных РЧ МЭМС-переключателей различных конструкций (полная релейная пара): а, б - балочная конструкция; в, г - мостовая конструкция с «гасителями» упругих напряжений в форме меандра; д, е - коммутирующий узел переключателя мостовой конструкции с четырьмя и двумя подвесами

длина балки ~ 230 мкм, длина моста ~ 440 мкм. Электроды управления, шины питания и сигнальные шины выполнены на основе пары Сг/Аи (толщина 0,02 мкм и 0,5 мкм соответственно). Электрод подвижной перемычки с целью исключения его возможного коробления, а также улучшения плоскостности выполнен в форме овального кольца на основе пары Сг/Аи. Разработанная топологическая схема позволяет реализовать на основе РЧ МЭМС-переключателя полную релейную пару, что дает возможность испытать эффективность переключателей как коммутатора СВЧ-сигнала в антенной цепи приемопередающей схемы (/н~1,5 ГГц), так и в качестве амплитудного модулятора (/м ~ 10 кГц при /н ~ 1,5 ГГц). По результатам исследований и оптимизации технологических маршрутов и конструкций РЧ МЭМС-переключателей выбраны топологические и геометрические характеристики элементов. Управляющие напряжения изготовленных РЧ МЭМС-переключателей не превышают 20-25 В, что при выбранной геометрии позволяет оценить модуль Юнга НУАПП величиной 0,81012 Н/м. Коэффициент развязки РЧ МЭМС-переключателя не хуже 20 дБ, а токи утечки не превышают 1 нА. Мощность на переключение в импульсе (длительностью 10 мкс) не превышает 10 мкВт/ключ. Резонансные частоты балок составляют ~ 170 кГц, что примерно соответствует выбранной геометрии, а

максимальная величина добротности достигает ~ 150 и определяется уровнем маршрутной технологии. Как показали исследования, расчетные и экспериментальные значения характеристик РЧ МЭМС-переключателей с подвижными элементами на основе НУАПП достаточно близки.

Таким образом, анализ динамики развития РЧ МЭМС показывает, что разработки, связанные с использованием классических конструкций и материалов, неэффективны. Очевидна необходимость применения для разработки РЧ МЭМС-переключателей новых материалов и конструкций. Агентство по перспективным оборонным научно-исследовательским работам в США (DARPA) инициировало программу по разработке научных основ технологии микро- и наномеханических устройств (NEMS/MEMS Scince and Technology Fundamenals - N/MEMS S&T Fundamentals). В программе участвуют 6 крупнейших научных центров: Carnegie Mellon University, Harvard University, Stanford University, UC Berkeley, UC San Diego, University of Colorado. В частности, университет UC San Diego проводит разработки РЧ МЭМС-переключателей с выходом на производство. В настоящее время, по заключению специалистов фирмы Raytheon, реальная стадия развития РЧ МЭМС-переключателей оценивается как стадия лабораторных исследований. Фирма MEMTronics, профессионально разрабатывающая МЭМС-переключатели, признана в 2011 г. лучшей. Инновация заключается в использовании фирмой ультрананокристаллических алмазных пленок в качестве защитного слоя нижнего электрода силовой шины.

Сравнительный анализ характеристик позволяет выявить ряд важных преимуществ РЧ МЭМС-переключателей перед их твердотельными аналогами:

- высокие значения добротности и радиационной стойкости РЧ МЭМС-ключей и перестраиваемых конденсаторов на основе РЧ МЭМС-технологий и конструкций;

- широкая полоса пропускания (до 110 ГГц), недоступная полупроводниковым переключателям;

- низкий уровень суммарных потерь мощности при использовании в «больших» ФАР, улучшенные показатели РЧ-систем по уровню шума и чувствительности;

- малые энергии на переключение в силу электростатического характера управления РЧ МЭМС-переключателями дают возможность использовать их в бортовых, спутниковых и космических системах;

- чрезвычайно высокая линейность, которая дает возможность применения РЧ МЭМС-переключателей в широкополосных системах связи.

Анализ результатов разработок РЧ МЭМС-переключателей для радиочастотных применений позволяет сделать ряд важных рекомендаций, связанных с выбором оптимальных материалов, конструкций и технологий:

- приемлемый срок работы РЧ МЭМС-переключателя возможен только в условиях их вакуумирования (вакуум не хуже 10-8 мм рт.ст.). С учетом необходимости в вакуу-мировании переключателей и с целью уменьшения габаритов устройства в целом рекомендуется корпусировать и вакуумировать РЧ МЭМС-переключатели в составе приемопередающего модуля;

- для работы в области частот больше 2 ГГц кремний не может быть ни основой материала подвижного элемента РЧ МЭМС-переключателя, ни несущей подложкой в силу значительного поглощения им СВЧ-сигнала;

- в качестве материала для подвижных элементов РЧ МЭМС-переключателей предпочтительными являются высокоомные НУАПП и высокоомные нанокристалли-ческие алмазные пленки;

- в качестве гальванических шин управляющих электродов эффективным представляется использование нанокристаллических металл-углеродных пленок (например, карбида молибдена), осажденных по рассмотренной технологии;

- в качестве материала несущей подложки предпочтительным является использование подложек из арсенида галлия либо сапфира, на использование подложек из поликора ограничения возникают из-за пористости этого материала, препятствующего не только качественному изготовлению схем, но и их эффективному использованию в условиях вакуумирования;

- уменьшение времени переключения до значений ~ 10-7 с невозможно без использования для подвижных элементов РЧ МЭМС-переключателей пленок с модулем Юнга ~ 1012 Н/м2 (например, нанокристаллических алмазных либо углеродных нанокристал-лических алмазоподобных пленок), при этом необходимо уменьшение длины балки до размеров ~ 50 мкм;

- с целью устранения возможной «неплоскостности» (коробления) перемычек РЧ МЭМС-переключателя, связанной с наличием локальных упругих напряжений в мультислойной пленочной конструкции балки РЧ МЭМС-переключателя, перемычку необходимо формировать в форме двусвязного элемента (например, в виде «эллипсо-образного» кольца из проводящей пленки), в частности для этой цели оптимальным представляется использование нанокристаллической металл-углеродной пленки (например, пленки карбида молибдена), коэффициент теплового расширения и температура осаждения которой примерно равны аналогичным параметрам УНАПП;

- для уменьшения управляющих напряжений при сохранении достаточной жесткости подвижного элемента переключателя, исключающей его коробление, рекомендуется на стадии формирования многослойной приборной структуры закладывать в локальных участках чипа РЧ МЭМС-переключателя гофрированный профиль поверхности;

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.

- для увеличения рабочего ресурса РЧ МЭМС-коммутатора представляется эффективным использовать РЧ МЭМС-переключатели с емкостной связью; оптимальным представляется использование высокоомных НУАПП для локального покрытия контактных поверхностей сигнальных шин, образующих разъемный контакт с подвижной перемычкой;

- для увеличения рабочего ресурса РЧ МЭМС-переключателя рекомендуется применять холодный режим («cold») включения, если режим работы схемы либо устройства допускают это;

- эффективное использование РЧ МЭМС-переключателей требует их интеграции c КМОП-схемами либо MESFET, что связано с необходимостью уменьшения управляющей мощности и времени переключения;

- с точки зрения создания единого технологического маршрута, включающего в свой состав мембранные и углеродные МЭМС- и КМОП- или GaAs-технологии, представляется наиболее эффективным использование УНАПП, температура осаждения которых на приборную структуру не превышает 70 °С.

Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации (ГК N16.513.11.3143) с использованием оборудования ЦКП «Микросистемная техника и электронная компонентная база Национального исследовательского университета «МИЭТ».

Литература

1. МЭМС-переключатели в радиочастотной электронике. I. Актуальность, проблемы реализации, предварительные оценки / В.А. Беспалов, Э.А. Ильичев, А.Е. Кулешов и др. // Изв. вузов. Электроника. -2013. - № 3(101). - С. 64-72.

2. Ruan J.J. Investigation and modeling of the impact of electrostatic discharges on capacitive RF MEMS switches: Doctorate de L'universite De Toulouse LAAS-CNRS. - Le 2 juillet 2010.

3. Diamond high speed and high power MEMS switches / J. Kusterer, E. Kohn, P. Kirby et al. // 4th EMRS DTC Technical Conference (Edinburgh 2007). - 2007. - A26.

4. Diamond and diamond - like carbon MEMS / J.K. Luo, Y.Q.Fu, H.R.Le et al. // J. Micromech Microeng. - 2007. - N 17. - P. 147-163.

5. Thermally Actuated Nanocrystalline Diamond Micro-Bridges for Microwave and High Power RF Applications / S. Balachandran, J. Kusterer, R. Conrick et al. // IEEE. - 2007. - P. 367-370.

6. High power nanocrystalline diamond RF MEMS - A combined look mechanical and microwave properties / S. Balachandran, J. Kusterer, D. Maier et al. // Authorized licensed use limited to; KIZ Abt Liberatarverwaltung. Downloaded on February Z, 2009 at 05:44 from IEEE Xplore. Restrictions apply.

7. Reliability modeling of capacitive RF MEMS / S. Melle, D. De Conto, D. Dubuo et al. // IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. - 2005. - Vol. 53, N 11. - P. 3482-3488.

8. Muldavin J.B. Design and analysis of series and shunt MEMS switches: Ph. D. dissertation. - Department of Electrical Engineering and Computer Science, The University of Michigan at Ann Arbor, Ann Arbor, M1. - 2001.

9. Hwang J.C.M., Goldsmith C.L. Robust RF MEMS switches and phase shifters for aerospace applications / // IEEE Intern. Symposium on Radio-Frequency Integration Technology. - 2009. - P. 245-248.

10. Микроэлектромеханические переключатели на основе аморфных алмазоподобных углеродных пленок / С.Н. Беляев, В.А. Власенко, А.В. Горячев и др. // Письма в ЖТФ. - 2009. - Т. 35. - Вып 15. -С. 105-109.

11. Сидоров Л.П., Дмитриев В.К., Инкин В.Н. Гетероструктура для фотокатода // Патент РФ № 2355031. - 2006.

12. Thermostable resistors based on diamond-like carbon films deposited by CVD method / V.K. Dmitriev, V.N. Inkin, E.A. Il"ichev et al. // Diamond and related materials. - 2001. - N 10. - P. 1007-1010.

13. Микроэлектромеханические коммутаторы для радиочастотных устройств / В.А. Власенко, А.В. Горячев, А.Г. Ефимов и др. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 10 (111). - С. 30-34.

Статья поступила 8 ноября 2012 г.

Беспалов Владимир Александрович - доктор технических наук, заведующий кафедрой проектирования и конструирования интегральных микросхем, первый проректор МИЭТ. Область научных интересов: технология интегральных схем на основе сложных полупроводников, фотоэлектроника, зондовая микроскопия, инновационная деятельность в научно-технической сфере.

Ильичев Эдуард Анатольевич - доктор физико-математических наук, профессор, ведущий научный сотрудник НИИФП им. Ф.В. Лукина (г. Москва). Область научнъгх интересов: микроэлектроника, оптоэлектроника, радиочастотная эмиссионная электроника на основе углеродных материалов. E-mail: edil44@mail.ru

Кулешов Александр Евгеньевич - аспирант кафедры квантовой физики и наноэлектро-ники МИЭТ. Область научнъа: интересов: микроэлектроника, радиочастотная эмиссионная электроника на основе углеродных материалов.

Набиев Ринат Мухамедович - аспирант НИИФП им. Ф.В. Лукина (г. Москва). Область научный интересов: микроэлектроника, радиочастотная эмиссионная электроника на основе углеродных материалов.

Петрухин Георгий Николаевич - кандидат технических наук, начальник отдела НИИФП им. Ф.В. Лукина (г. Москва). Область научных интересов: микро- и наноэлек-троника, в частности область углеродной электроники.

Рычков Геннадий Сергеевич - доктор физико-математических наук, начальник лаборатории НИИФП им. Ф.В. Лукина (г. Москва). Область научных интересов: микроэлектроника, радиочастотная эмиссионная электроника на основе углеродных материалов, качественная теория дифференциальных уравнений.

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

УДК 004.272.2

Аппаратная реализация операции нахождения остатка целочисленного деления для входных данных большой разрядности в модулярной арифметике

Р.А. Соловьев, Д.В. Тельпухов

Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН

Проведено исследование различных методов и алгоритмов аппаратной реализации модуля нахождения остатка от целочисленного деления. Предложен асинхронный метод реализации, ориентированный на входные данные большой разрядности и большие значения модулей, основанный на идее разложения исходного числа на маленькие составные части. Проведены серии экспериментов, получены оценки эффективности различных методов по быстродействию, мощности и занимаемой площади.

Ключевые слова: система остаточных классов, модулярная арифметика, прямые преобразователи, вычет.

Система счисления в остаточных классах (СОК), лежащая в основе модулярной арифметики и адаптированная для машинных вычислений, широко применяется в специализированных аппаратных решениях [1], в приложениях, критичных к быстродействию и потребляемой мощности, а также в устройствах, предъявляющих повышенные требования к помехоустойчивости и надежности вычислений [2]. Одной из основных операций модулярной арифметики в кольце Zp является нахождение остатка от целочисленного деления (вычета) x = a(mod p). Эта операция применяется в прямых преобразователях из позиционной системы счисления в модулярную систему счисления. Обычно в большинстве приборов используются модули малой разрядности или модули специального вида, такие как 2" — 1, для которых известны эффективные методы реализации. Однако в некоторых случаях при разработке сверхскоростных параллельных вычислителей возникает необходимость нахождения вычета по большому модулю p [3]. Поскольку модуль и разрядность входных данных обычно известны на этапе проектирования, то существует возможность разработки эффективного алгоритма для создания такого модуля. При этом возможно его создание в виде комбинационной схемы, т.е. схемы, которая выдает результат за один такт. Для реализации на языке описания аппаратуры в настоящей работе используется Verilog HDL [4].

Теоретические основы нахождения остатка целочисленного деления. Пусть задано простое число p и соответствующее ему конечное поле целых чисел Z . Для любого целого числа q из интервала 0 < q < 2N требуется найти такое х eZ , что

© Р.А. Соловьев, Д.В. Тельпухов, 2013

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.