CC BY
45
ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ФРАКТАЛЬНО-МАТРИЧНОГО РЕЗОНАТОРА НА ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ДИСТИЛЛИРОВАННОЙ ВОДЫ
И.Е. Скалецкая Научный руководитель - д.т.н., профессор В.Т. Прокопенко
Прямыми экспериментами с дистиллированной водой с использованием явления поляризации света обнаружена зависимость ее оптических свойств от нахождения или отсутствия в экспериментальной установке фрактально-матричного резонатора (ФМР). Обнаружено явление гистерезиса оптических свойств воды при введении и удалении ФМР. Наблюдения проведены с помощью поляризационного метода на приборе эллипсометрического типа.
Введение
Вода все еще таит в себе множество загадок. Благодаря особой конфигурации молекулы и наличию водородных связей вода может принимать сложную упорядоченную структуру и быть восприимчивой к внешним воздействиям и информации. Установлено, что вода из природных источников обычно структурирована, но по-разному.
В работе выполнен анализ принципов исследования аномальных свойств реструктуризации чистой воды, индуцированной информативными потоками психотропных генераторов электромагнитного смога (ЭМС). Рассмотрены возможности и способы использования эллипсометрических приборов в системах экологического мониторинга патологического действия ЭМС на медико-биологические объекты по коррелированным откликам на него некоторых аномальных характеристик воды, в том числе ее динамической реструктуризации.
Выполнены пробные эллипсометрические измерения состояния поляризации света в отраженных от водной поверхности световых полях. Проверена принципиальная возможность использования приборов эллипсометрического типа для изучения оптических параметров жидкостей.
Показана недостаточность теоретических представлений однослойного приближения при анализе оптических параметров (толщины эффективного слоя и составляющих его комплексного показателя преломления) приповерхностных структур самоорганизации воды в жидкой фазе. В соответствии с этим разработана программа физически более адекватного и математически корректного поиска оптимальной модели, описывающей поверхность воды. В качестве рабочей оптической модели приповерхностной структуры планарных водных зеркал выбран алгоритм трехслойной системы над изотропной подложкой объема чистой воды.
Объектом исследования в данной работе является вода - с одной стороны, хорошо изученное, широко распространенное в природе вещество с уникальным набором аномальных, но, с другой стороны, не всегда объяснимых свойств. На современном уровне знаний все больший интерес вызывают вторичные (кристаллоагрегатные) и третичные (полимерные) модификации структуры воды, отвечающие за ее поведение в слабых электромагнитных полях с эффектами реструктурирования и памяти к ним, имеющие чрезвычайно важное медико-биологическое значение для экозащиты человека в индустриально патогенной среде.
Наиболее поразительным является факт того, что «мысленное воздействие на воду в жидком состоянии регистрируемо научными методами посредством, например, контроля физических и химических свойств жидкости». Такое свойство может успешно применяться для хранения цифровой информации. Это удивительное свойство можно назвать «памятью» воды, очевидным проявлением которой может быть реструктуризация молекулярных образований, особенно на поверхностных, информационно значимых структурах. Таким образом, одними из наиболее перспективных методов изучения
аномального феномена «памяти» воды являются методы исследования поверхностного разнообразия ее структур.
Пассивные генераторы (Г) индуктивного реструктурирования воды представлены четырьмя образцами кремниевых пластин с нанесенными на них рисунками в виде регулярных Фурье-решеток (ФМР) для построения сложных интерференционных полей ЭМ волн отражения и переизлучения, часть из которых сведена на нет (в белый шум) грубой переполировкой (рис. 1).
Рис. 1. Пассивные генераторы индуктивного реструктурирования воды
В рамках работы были проверены принципиальные возможности использования приборов эллипсометрического типа для изучения оптических констант жидкостей. Перспективность рассматриваемого метода исследования обусловлена высокой чувствительностью приборов эллипсометрического типа к амплитудно-фазовым характеристикам поля отраженной световой волны, определяемым приповерхностными структурами, отвечающими за многие свойства изучаемых объектов, в частности индуцированных их взаимодействиями с внешней средой и не обнаруживаемых прямыми энергетическими способами исследования.
Метод эллипсометрии
Метод эллипсометрии относится к наиболее прогрессивным нанотехнологиям в оптическом материаловедении благодаря физической простоте работы с простейшей формой когерентного поляризованного света при эллиптической аппроксимации его амплитудно-фазовых характеристик. Его принципиальное преимущество перед энергетическими методами состоит в уникально высокой чувствительности измерений амплитудно-фазовых соотношений полей световых волн, испытавших взаимодействие с исследуемым веществом.
В основе метода эллипсометрии лежит теория бесконечнократной интерференции поляризованного света в средах их распространения безотносительно к значениям размеров их толщин между границами раздела фаз от атомно малых (идеальных границ Френеля) до макроразмеров плоскопараллельных изделий.
Теория эллипсометрии восходит к решениям задач максвелловской электродинамики в краевой постановке для плоских волн, известным как граничные уравнения Френеля и удачно обобщенным Эри и Друде в виде основного уравнения эллипсометрии (ОУЭ). Эллипсометрические параметры у и А при заданных 0; (угол падения) и X (длина волны инициирующего излучения) являются характеристиками поверхности и определяются природой вещества, из которого состоит образец, структурой приповерхностного слоя, качеством поверхности (средней высотой шероховатостей, струк-
турными нарушениями, обусловленными полировкой, и т. д.), наличием на ней какой-либо пленки той или иной толщины, свойствами среды, в которой находится образец. Эти параметры у и А входят в основное уравнение эллипсометрии (ОУЭ) [1]:
tg^Y■ егЛ= ЯР / ,
(1)
и описываются обобщенными комплексными коэффициентами Френеля ^(ф, п, к, ё/Х). Их явный вид для формул (1) известен только для частных моделей взаимодействия ортогональных р- и Б-компонент поля световой волны с веществом, оптические параметры которой задаются комплексными показателями преломления т и толщинами соответствующих слоев ё. Это уравнение устанавливает связь между микроскопическими и макроскопическими характеристиками образца и эллипсометрическими параметрами поверхности.
Величину р = 1§уе'А называют относительным коэффициентом отражения поляризованного излучения.
При исследовании отражающих систем методом эллипсометрии приходится решать следующие три основные задачи:
1) вычисление поляризационных углов у и А на основе той или иной модели отражающей системы, характеризующейся определенным набором параметров;
2) экспериментальное определение поляризационных углов у и А;
3) сравнение вычисленных значений поляризационных углов у и А (для набора моделей отражающих систем при изменении одного или нескольких параметров этих моделей) с экспериментальными значениями углов у и А, полученными при изменении тех же параметров реальной отражающей системы, и установление модели, адекватной исследуемой отражаемой системе.
После того, как адекватная модель той или иной отражающей системы установлена, эллипсометрия может быть применена для контроля над параметрами этой системы, для исследования изменений этих параметров под влиянием тех или иных внешних воздействий и т.д. [2].
Приборное обеспечение
В качестве прецизионных приборов для определения оптических констант воды использовались эллипсометры серии ЛЭФ-2 и -3М.
ОКГ
ФЭУ
ОИ (линия горизонта с нормалью с)
базовая линия прибора (с нормалью в)
Рис. 1. Схема скрещенных поляризаторов при косом падением света на ОИ
На рис. 1 введены следующие обозначения: ОКГ - источник когерентного монохроматического излучения (Х=632.8 нм); М - низкочастотный модулятор-прерыватель светового пучка 1 мм апертуры; П, А - кристаллические поляризаторы Глана-Томсона; С - компенсатор (Х/4); а, е - реальные лучи падения и отражения на строго горизонтальном участке ОИ; в - базовая линия симметрии между плечами падения (а) и реги-
страции (д) ФЭУ; ОИ - объект исследования (зеркальная поверхность дисциллирован-ной воды). ОК - расположение возможного коллиматора тонких пучков. Источники неустранимых систематических погрешностей ЛЭФ-2:
• значительная апертура светового пучка для непланарных ОИ;
• конечная расходимость лучей светового пучка ОКГ;
• неполное совпадение базовой нормали (в) с линией отвеса (с);
• вибронезащищенность ОИ от индустриальных помех;
• низкая частота селекции механического модулятора (М).
В простейшей модели плоской границы раздела фаз эти обобщенные коэффициенты переходят в классические коэффициенты Френеля для идеальных границ, из которых, в частном случае диэлектриков без поглощения, при углах фбр выводится закон Брюстера:
п = tg^). (2)
В более общем случае комплексного описания показателя преломления (2) теория обобщенных коэффициентов Френеля значительно усложняется и теряет аналитическую простоту интерпретации свойств решений прямой и обратной задач эллипсомет-рии. При этом только оптическая модель раздела сред в виде плоской математической границы раздела приводит к строгим аналитическим решениям обратной задачи при оценке оптических констант материала.
Предварительный эксперимент
В результате ряда предварительных установочных экспериментов были выполнены оценки значения показателя преломления чистой воды.
Амплитудная функция при угле Брюстера
1,05 0,95 0,85 0,75 0,65 0,55 0,45 0,35 0,25
52,5 52,7 52,9 53,1 53,3 53,5
Рис. 2. Амплитудная функция эллипса поляризации светового поля, отраженного от воды
Здесь по поведению амплитудной функции графическим способом находим угол Брюстера и оцениваем показатель рефракции 1§(53.13°)=1.333328, который с большой точностью воспроизводит значение п = 4/3, хотя сами измерения по модели идеальных границ Френеля варьируются уже с третьего знака после запятой.
Этот факт высокой точности оценки вещественной части показателя преломления до пяти знаков после запятой по методу Брюстера можно объяснить хорошей статистикой измерений (18 точек) вблизи угла Брюстера фбр = 53.13°, при котором сами эллип-сометрические измерения в принципе проводить невозможно из-за потери Б-луча в компонентах поля. При этом статистический закон увеличения точности при многократных измерениях 1/л/18, более чем вчетверо, улучшает точность однократных измерений, разброс которых начинается с третьего знака после запятой.
Обоснование выбора физических моделей
При использовании модели идеальных границ Френеля для зеркально гладкой поверхности чистой воды получается, что среднее групповое значение показателя преломления для углов от 80° до 90° проявляет тенденцию к завышению их значений и как бы характеризует аномальную поляризуемость воды в верхнем слое сил поверхностного натяжения, который захватывают скользящие по поверхности лучи света.
1,38 1,375 1,37 1,365 1,36 1,355 1,35 1,345 1,34 1,335 1,33 1,325
Показатель преломления
среднее =
1,3396±0,0033
среднее =
среднее = 1,3340±0,0011
1 ЧЧЧЧ 1 П ПП1?
1,3333±0,0012 л * л . . -4--* /
♦V-——
50
54 58 62 66 70 74
78 , 82 86 90 Угол падения (град.
Рис. 3. Зависимость показателя преломления от угла падения света
На рис. 3 представлено поведение показателя преломления воды от углов падения. Ожидается, что материальные константы не должны зависеть от углов падения, однако на графике наблюдается 3 характерных зоны в окрестности угла Брюстера, до и после него. Усредненные для этих участков показатели преломления представляют значения, существенные отличные друг от друга в 3 знаке (1,3335; 1,3340; 1,3396). Эта возрастающая последовательность числовых значений п при переходе от добрюстеровских к послебрюстеровским углам отражает типичное явление эллипсометрии, известное как парадокс Васичека [3]: константы - регулярные функции углов. Более того, в скользящих лучах проявляется феномен аномального отражения (в рентгеновской оптике -эффект Ионеды). Отличие этих показателей в 3 знаке можно проинтерпретировать следующим образом:
• при малых углах падения световые лучи проникают в более глубокие слои жидкости и отражают информацию о как бы заниженных усредненных показателях преломления, т.е. отражают информацию о менее оптических плотном, разрыхленном переходном приповерхностном слое воды, что можно объяснить скоплением под слоем сил поверхностного натяжения, растворенных в воде газов.
• в противоположной зоне на скользящих лучах свет отражает информацию об известном более плотном ПП слое, так называемом слое проявления сил поверхностного натяжения, где естественно ожидать более плотной упаковки молекулярных кластеров воды.
• пик аномального отражения выходит за рамки обсуждения.
Возможность того, что это является измерительным артефактом, связанным с погрешностью измерений, исключается в силу оценки средней теоретически допустимой погрешности измерений путем дифференцирования формулы (2): Ди=(1+и2)Дф, при Дф « 10- для ЛЭФ2, которая более чем на порядок ниже, чем размахи приведенных средних значений. Следовательно, высказанная гипотеза является правомочной - на скользящих лучах доминирует информация о слоях сил поверхностного натяжения, на
малых же углах падения - о более глубоких аномальных структурах типа конденсаторного слоя с газовой диэлектрической прослойкой.
В представленных данных, рассчитанных по модели идеальных границ Френеля для зеркально гладкой поверхности чистой воды, нет информации о толщинах возможных приповерхностных слоев чистой воды, которые можно получить усложнением оптической модели системы путем введения эффективного однородного слоя. Чистая вода на поверхности раздела фаз (на воздухе) должна обладать значительными по толщине переходными приповерхностными слоями d0 (1111С) в силу аномально высокой электрической поляризуемости ее молекул и наличия газовых накоплений. Следовательно, в первом приближении оптическая модель зеркала воды может представлять собой некий однородный слой (do) с известным средним для него значением показателя преломления по или эффективным значением, которые можно оценить по амплитудно-фазовым параметрам (Р, А) эллипса поляризации отраженного под произвольным углом (ф) монохроматического света путем решения соответствующего основного уравнения эллипсометрии (ОУЭ) Эйри-Друде.
Возникает вопрос об адекватности модели однородного слоя.
Авторы склоняются к мысли, что данная модель будет недостаточной для корректного описания полученных экспериментальных данных. Требуется еще более глубокое усложнение оптической модели отражающей системы.
В жидком состоянии вода доступна для проникновения в дефекты ее структуры газов внешней среды, равно как и наоборот - испарению молекул (даже на морозе). Эти обстоятельства важно учитывать при построении оптической модели поверхностных слоев воды, определяющих ее отражательную способность для монохроматического (Х=632.8 нм) поляризованного света, по которой обычно и проводится диагностика ее транспортных и информационно значимых свойств.
Анализ физико-химических свойств воды показывает, что оптической моделью ее приповерхностных структур на воздухе может служить оптимальная и наиболее адекватная трехслойная система в пяти средах - от полубесконечной воздушной до полубесконечной чистой водной подложки:
• внешний - паровой молекулярный слой;
• средний - слой сил поверхностного натяжения воды;
• внутренний - тонкий газовый слой аут-диффузии растворенных в воде газов.
Таким образом, оценка оптических констант этих образцов воды по модели идеальной границы Френеля отражает только рассмотренную выше тенденцию роста показателя преломления на скользящих лучах и наблюдение оптической плотности разреженной среды при более глубоко проникающих относительно небольших углах падения.
Эксперименты с системой кремниевых экранов
Задача экспериментального исследования принципиального факта реструктуризации воды в присутствии внешних генераторов или пассивных индукторов (Г) состоит в том, чтобы обнаружить статистически значимые различия параметров переходных приповерхностных структур (1111С) чистой воды в отсутствии и присутствии этих индукторов при прочих равных условиях измерений (температуре, давлении, углах падения света и пр.) и единой методологии анализа экспериментальных данных.
Была проведена серия измерений с выбранными объектами исследования - кремниевыми пластинами, помещенными внутрь водной среды, с Фурье-трансформаторными покрытиями (и без), служащих для компенсации внешних информационно-значимых воздействий электромагнитных полей на объект исследований. Была исследована пространственная зависимость индукции реструктуризации отражающего слоя воды путем погружения экрана на разную глубину под отражающей поверхностью воды.
Полученные предварительные данные измерений на приборе ЛЭФ-2 со значительной неустранимой систематической составляющей погрешности юстировки совпадения нормали к линии горизонта в вершине капли и оси симметрии угла падения и отражения позволяют оценить относительные вклады на вариации оптических параметров поверхностных слоев в зависимости от глубины погружения фрактально-матричных резонаторов. Сравнение разностей оптических параметров воды в присутствии и отсутствии переизлучателей на разных глубинах позволяет сделать вывод о том, что структурирование поверхности ослабляется по мере удаления генерирующего их экрана. Убедительной проверкой этой гипотезы были измерения на микрокапле воды на экране.
Наиболее резонным способом минимизации рассмотренной систематической неустранимой составляющей погрешности является помещение воды под прозрачную призму (например, из стекла марки К8). В этом случае юстировка осуществляется перемещением трехкоординатного стола. Такая схема эксперимента обеспечивает адекватность описания трехслойной модели оптической системы приповерхностных слоев воды и исследования воздействия резонатора. Кварцевая призма позволяет устранить паровой слой, уменьшить слой адгезионного контакта сил поверхностного натяжения га границе вода-стекло и вывести газы третьего слоя вне зоны контакта призмы с водой. Таким образом, оптическая система переходит в однослойную структуру с оптическим доступом контроля ее оптических параметров при падении света под углом призмы (ф=65°) при нормальном входе и выходе лучей через ее боковые грани.
На длине волны Не-Ые-лазера (Х=632.8 нм) вода [4] имеет показатель преломления
%
порядка п=4/3=1.333 и поглощения к=—к^0.00304(6.328/12.56)10"5=1.5-10"8. Показа-
4п
тель преломления столь же прозрачного, как и вода, оптического стекла марки К-8 близок к 3/2 п = 1.514.
На рис. 4, а, б представлены аналитические решения для (1) в воздушной и водной средах под призмой из кварцевого стекла К-8. Эти решения не противоречат эксперименту при к$ю2 > кН20 и полностью подтверждают теоретическую гипотезу [5] о расположении аномальной части фазовой функции под углами 2п, а не 0, как это предполагалось в [1].
Согласно расчетным данным (см. рис. 6а), фазовые функции А эллипса поляризации отраженного света при угле падения ф=65° для воды и воздуха по методу НПВО отличаются более, чем на 20°, тогда как амплитудные функции ¥ при этих углах ПВО практически неразличимы.
Эксперимент хорошо согласуется с этим теоретическим положением.
Действительно, по данным измерений в п. 1, 2 (табл. 1) эта разность «фаз» составляет 22°45'. При повторных измерениях (п. 17, 18) на свежей порции воды для исследования образца №4 в дополнительных эллипсометрических зонах, эта разность оказалась равной 22°52'. Семь минут разницы между ними можно объяснить разницей объемов этих порций воды.
№ Объект измерения Pi Ai Р2 А2 Примечания
1 контроль воздуха 71040'0" 18004'0" 341046'0" 9201'0" ¥0~45°,А0=325°
2 контроль воды 70047' 169030' 341005' 79050' ¥°~450,А°=3470 А=596041'-А1- А2
3 пластина № 6 в воде 70046'30" 169045' 340048' 79035' А1+А2=249020'
Таблица 1. Протокол первичных азимутальных измерений на 650 призме К-8
№ Объект измерения Р1 А1 Р2 А2 Примечания
4 вода без пласт. №6 70046' 70043'30" 169047' 169041'15" 340045' 340049' 79031' 79024' юстировка юстировка юстировка юстировка
70044'30" 169042'30" 340040' 79025' А1+А2=249007'
5 модификация воды пласт. №1 вне К-8 70040'30" 169049'0" 340032' 79015' А1+А2=249004'
6 вода+пласт. №1 под К8 70035'15" 169055'0" 341034' 79014'30" А1+А2=249009'
7 пласт. №1 снова вне К-8 70036'30" 169049' 340031'30" 79012' А1+А2=249001'
8 вода без пласт. № 1 340030' 79008' переюстировка
9 вода с №2 вне К-8 70037' 169049' 340040' 79003'30" А1+А2=248053'
10 вода+пласт. №2 под К8 70036' 169048' 340038' 79005'15" А1+А2=248053'
11 контроль воды без №2 70038'45" 169050'30" 340039' 79012'15" А1+А2=249003'
12 пластинка №3 вне К-8 70039'30" 169052' 340042' 79002' №3 плавает А1+А2=248054'
13 пластинка №3 под К-8 70043' 169051' 340038'30" 79011' А1+А2=249002'
14 контроль воды без №3 70044'30" 169053' 340048' 79004' А1+А2=248057'
15 пластинка №5 вне К-8 70047' 169056'30" 340049' 79008' №5 плавает А1+А2=249004'
16 пластинка №5 под К-8 70035' 169056'30" 340047' 79009' А1+А2=249005'
17 контроль воздуха в смежных зонах 71018' 182008' 161009' 90056'30" смена зон измерений Д0=323°37'
18 контроль воды 70041' 170027' 160039' 79045' Д0=346029'
19 пластинка №4 вне К-8 70047' 170024' 160041' 79030'30" А1+А2=249054'
20 пластинка №4 под К-8 70041' 170021' 160045' 79035' А1+А2=249052'
Таблица 1 (продолжение). Протокол первичных азимутальных измерений на 650
призме К-8
Фазовые функции (град.)
360 340 320 300 280 260 240 220 200 180
-
К8/воздух К8/вода
Угол падения (град.)
15 25 35 45 55 65 75 85
5
а)
Амплитудные функции (град.) на границе К-8/воздух и К-8/вода
б)
Рис. 4. Машинные решения прямой задачи эллипсометрии НПВО на призме К-8 Интерпретация данных эксперимента
Введение чистой кремниевой пластины (п. 3) не изменило стартовое значение фазовой характеристики чистой воды (А1+А2=249°20'), хотя азимуты анализатора сильно перестроились (±15').
Выведение этой пластины (п. 4 измерений в сводной таблице №2) незначительно изменило азимуты (до момента переюстировки луча на диафрагме ФЭУ) - около 6', однако это отразилось и на сдвиге фазовой функции, которая после переюстировки все-таки изменилась на 13'. Скорее всего, неустойчивость этих измерений связана с кинетикой (за время около 3 мин) перестройки внутренних конденсаторов системы после удаления пассивного экрана.
Введение (п. 5) новой пластины №1 с затертым (шероховатым) Фурье-узором несущественно модифицировало фазовую функцию на 3'. Шаги по п. 6 и п. 7 показывают реактивность системы на движение экрана (пластины №1) в воде с размахами перестройки и восстановления до 7', причем наибольшая амплитудная перестройка возникает при расположении диэлектрического и полупроводникового экранов друг против друга. Боковые модификации слабее - до 4', но они говорят о проявлении коллективного дальнодействия в воде даже при нахождении кремниевого экрана на плаву (на слое аномально высоких сил поверхностного натяжения воды).
Пункты 9 и 10 показывают, что вода насытилась воздействиями родственных экранов, на объекте №2 фаза минимизировалась, упав на очередные 8', и не менялась в зависимости от положения его в воде.
Общее свойство, которое следует из количественного анализа всех вариаций наиболее информативной здесь фазовой функции с шестью экранами, включая пп.11-16, состоит в том, что среднее значение 10.4±3.6 размахов ее вариаций (максимум до 18') при введении экранов вдвое выше средних значений 5±1 размахов ее вариаций при выведении этих экранов. Исходя из этого можно сделать статистически значимый вывод о том, что в воде существует гистерезис восстановления оптических свойств приповерхностных слоев воды на границе с кварцевой призмой при удалении индуцирующих их вариации кремниевых экранов.
Дальнейшие исследования и перспективы
Дальнейшая работа по данному направлению предполагает проведение темпера-турно-зависимых измерений вариаций свойств воды. Из известных аномалий достаточно отметить тот факт, что свойства воды четко специфицируются по ряду температурных интервалов.
Планируется более тщательное исследование обнаруженного феномена «памяти» воды, в основе которого может лежать физико-химический механизм гистерезиса, и более глубокая интерпретация на основе оптико-физических данных эксперимента на примере сравнения действия различных переизлучателей, способных резонансно переизлучать (отражать) в противофазе информационно значимые волновые поля, способные по механизму интерференции погасить внешние волны слабых электромагнитных полей.
Рассмотренные выше экспериментальные данные позволяют предположить, что проведение работы с прямым «раздавливанием» капли воды на фрактально-матричных элементах окажется наиболее информативным и целесообразным исследованием аномальных свойств воды.
Выполненные первые постановочные эксперименты с водой в поляризованном свете при нормальных условиях раскрывают сложную картину динамических свойств воды, детальное изучение которых требует более тщательного планирования кинетического, термодинамического и поляризационно-оптического комплексного эксперимента.
Заключение
Рассмотренная в работе проблема включает в себя ряд последовательных задач, таких как выяснение принципиальной возможности использования поляризационных методик для изучения свойств и оптических параметров (комплексных показателей преломления и толщин структурирования) слоев жидких сред; исследование динамики изменения свойств воды под действием внешних факторов, электромагнитных полей и реструктурирующих объектов; обнаружение и объяснение таких аномальных свойств воды, как «память» и способность к перестройкам под действием различных причин; изучение транспортно-информационных свойств воды посредствам высокочувствительных поляризационно-оптических методик современной нанотехнологической диагностики.
На данный момент получены удовлетворительные результаты в пользу использования поляризационно-оптической диагностики для изучения оптических свойств жидкостей:
• выполнены пробные эллипсометрические измерения состояния поляризации света в отраженных от водной поверхности световых полях;
• рассчитаны характеристики эллипсометрических параметров в поле отраженной световой монохроматической волны на длине 632,8 нм для модели сверхтонкого
слоя сил поверхностного натяжения и показана недостаточность подобного моделирования приповерхностных структур чистой воды;
разработан алгоритм многослойного моделирования оптических слоев для воды.
Литература
1. Горшков М.М. Эллипсометрия. М.: Сов. радио, 1974. 200 с.
2. Ржанов А.В., Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко Л.В., Соколов В.К. Основы эллипсометрии. Новосибирск: Наука, 1978.
3. Алексеев С.А., Прокопенко И.Т., Скалецкий Е.К. и др. Введение в прикладную эл-липсометрию. СПб: СПбГУ ИТМО, 2005. 196 с.
4. Алексейцев А.В., Серов И.Н., Слесарев В.И., Шабров А.В. Структурно-информационное состояние воды и воздействие на него фрактально-матричных структуризаторов «Айрэс». // Вестник СПбГМА им. Мечникова. 2002. № 3. С. 124131.
5. Скалецкая М.И., Петровский Г.Т. и др. О нетрадиционной интерпретации решений прямой задачи эллипсометрии для двух простейших моделей. // ДАН СССР. 1979. Т.249. № 2. С. 355-358,
