CC BY
47
УДК 681.326
ГЕНЕРАЦИЯ ТЕСТОВ ДЛЯ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТНЫХ СХЕМ, ИМЕЮЩИХ ТРИГГЕРНЫЕ СТРУКТУРЫ
ХАХАНОВ В.И., СКВОРЦОВА О.Б., ПУДОВ В.А., МАСУДМД. МЕХЕДИ_______________________
Предлагается информационное обеспечение систем логического моделирования и генерации тестов для цифровых устройств, ориентированное на обработку программируемых логических интегральных схем до 200 тыс. вентилей, включающих более 25 типов триггерных структур. Язык описаниия проектов — VHDL, поддержка систем проектирования фирм Aldec и Xilinx.
Введение
Наряду с интенсивным усовершенствованием технологий интегральных схем, позволяющим реализовывать все большее число компонентов на одном чипе, цифровые системы стали более сложными, а процесс детализированной разработки систем на уровне вентилей и триггеров превратился в рутинный и трудоемкий. Поэтому стало актуальным использование языков аппаратного описания в процессе разработки цифровых устройств. Эти языки помогают проектировщику разрабатывать и отлаживать цифровые системы вплоть до их реализации на вентильном и триггерном уровнях. Применение систем автоматизированного проектирования для такого преобразования становится все более распространенным. Это аналогично написанию программных средств на высокоуровневом языке, таком, как Си, с использованием компилятора для перевода программы в машинный код. На сегодняшний день существует два наиболее популярных языка аппаратного описания— VHDL и Verilog. Многие известные в мире фирмы, такие как ALTERA, XILINX и ALDEC, используют язык VHDL для описания поведения и структуры цифровых систем в своих программных продуктах. VHDL является классическим языком описания аппаратуры, который может быть использован для описания функционирования и моделирования широкого ряда цифровых систем, колеблясь в сложности от нескольких вентилей до совокупности большого количества сложных интегральных микросхем. Однако в настоящее время большинство программных продуктов известных фирм имеют важный недостаток — отсутствие автоматической генерации тестов, что приводит к большим трудностям для проектировщиков при отладке схем. Наличие такой генерации привело бы к обнаружению ошибок на этапе проектирования, а значит, к экономии времени проектирования, что во много раз бы повысило производительность и себестоимость проекта.
1. Требования, предъявляемые к структуре данных
Для программной реализации генерации теста необходимо иметь математическую модель схемы, позволяющую обрабатывать ее без дополнительной обработки данных [ 1].
96
Информационное обеспечение подразумевает предоставление полной информации о функциональных и структурных моделях цифрового устройства для применения в программных реализациях логического моделирования, алгоритмов генерации тестов и поиска неисправностей [2].
Исходя из этого, к структуре данных предъявляются следующие требования:
1. Минимум необходимой информации. Так как структура данных используется для решения специфических задач, то она должна содержать только используемую информацию.
2. Упорядочивание информации. Вся информация о структуре схемы должна быть упорядочена, чтобы свести дополнительные обработки данных к минимуму при ее использовании.
3. Простой доступ к информации. Подразумевает легкий доступ к отдельным элементам данных.
4. Минимальное время получения информации. Так как структура данных получается путем конвертирования из кода VHDL(k™ какого-нибудь другого формата данных), то, учитывая большой размер современных проектов, время получения информации должно быть минимальным.
2. Структура данных “Формат SCH”
Разработанная структура данных “Формат SCH” отвечает всем этим требованиям и призвана облегчить задачи моделирования и диагностики. Формат SCH состоит из четырех основных частей:
S={ Sh,Ss,Sl,Sn}, (1)
где Sh — раздел заголовка; Ss — структура схемы; Sl — библиотека примитивов; Sn — таблица соответствий линий.
Раздел заголовка. Включает общую информацию о схеме: количество линий, входов, выходов и т.д. Размер этого заголовка всегда одинаковый и не зависит от размера схемы:
Sh={N,Nfb,Ninp,N out,Ntyp}, (2)
здесь N — общее количество линий в схеме; Nfb — количество обратных линий; Ninp — количество входных линий; Nout — количество выходных линий; Ntyp — количество типов примитивов.
Структура схемы. Дает представление о построении схемы. Включает список всех линий (кроме входных), номер примитива, формирующего ее, и схему включения. Линии пронумерованы по следующему принципу: первыми идут так называемые линии памяти, потом внутренние и последние выходные линии. Нумерация линий должна отвечать правилу ранжирования: численное значение номера выхода каждого элемента должно быть больше значения номера любого из входов данного элемента:
Ss = {n,T5Narg,a} , (3)
где n — номер линии; T — тип примитива (номер кубического покрытия, формирующего данную линию); а — вектор-список аргументов (линий), формирующих данную линию.
РИ, 2001, № 1
Размер данного раздела определяется количеством невходных линий схемы.
Раздел описания примитивов. Включает библиотеку примитивов, содержащую информацию о примитиве и его функциональное описание, заданное в виде кубического покрытия. Библиотека примитивов содержит описание элементов, содержащихся в схеме. Преимущество такого представления заключается в том, что при использовании нескольких элементов одного типа мы храним только одно описание. Поэтому размер библиотеки определяется не общим количеством элементов в схеме, а количеством типов в ней:
Sl = {T,Narg,Nvec,C}, (4)
где T — тип примитива(порядковый номер элемента в библиотеке); N^g—количество аргументов—число входов элемента данного типа; Nvec — количество векторов в кубическом покрытии—определяет размер кубического покрытия; C — кубическое покрытие.
Кубическое покрытие записывается символами четырехзначного алфавита {0, 1, X, Uj.Ero размер равен:
z: out STD_LOGIC
);
end test8;
architecture arch of test8 is
begin
process
constant t : STD_LOGIC :=’1';
Begin if s =t then z<=t and a; end if;
End process; end arch;
Схему, описанную в листинге 1, можно представить в виде системы булевых уравнений (7) и схематично, как показано на рис.1:
C = s
D = s & (a) ___________________ (7)
z(t) = (D &C) |((C&D)&z(t-1)). ()
LSl=Narg*Nvec. (5) Рассматриваемая схема хранится в формате SCH
таким образом:
Размер раздела определяется количеством типов
Примитивов и размером их кубических Покрытий. Раздеё Загоёовок схемы’:
Раздел имен линий. Включает список имен линий и Sh - N Ninp Nfb Nout Ntyp
их соответствующие номера. 6 2 1 1 3
Известно, что легче работать с переменными целого типа, чем с переменными строкового или символьного типа. Переменные целого типа требуют также меньше памяти. Поэтому в самом начале обработки схемы строковые имена линий заменяются уникальным числовым номером. Соответствия значений имен линий записываются в таблицу и хранятся в отдельном разделе:
Раздел ‘Структура схемы’:
Ss =
n T N arg a
2 0 1 5
3 1 2 0,1
4 0 1 1
5 2 3 4,3,2
Раздел ‘Соответствия линий’:
(8)
(9)
Sn ={V,n}, (6)
где V — имя линии; n — номер линии.
Размер раздела зависит от количества линий и от длин их имен.
Рассмотрим подробнее формат SCH на примере простой схемы (рис.1), описанной на языке VHDL и представленной в листинге 1.
Рис.1. Пример схемы триггера
Листинг 1
Пример схемы триггера, описанной на языке VHDL entity test8 is port (
a,s: in STD_LOGIC;
V a s z(t -1) D C z
n 0 1 2 3 4 5
(10)
Раздел ‘Библиотека примитивов’:
Sl
T Narg Nvec C
0 1 2 00 11
0X0
1 2 3 X 0 0 1 1 1
10X0 0X00
2 3 6 X 0 0 0 11X1 0X11 X 1 1 1
(11)
Исходя из изложенного материала, можно сделать вывод, что формат SCH соответствует требованиям, выдвинутым в начале этой статьи. Разработана программа Conversion, конвертирующая систему логических уравнений, описанных при помощи языка VHDL, в формат SCH. На рис.2 изображен пример использования программы в системе Test Builder, генерирующей тесты для О КН комбинационных схем.
РИ, 2001, № 1
97
Test:
a b c d
012345 012345
0: 01X010 1..1.1 25.00%
— 1..1.1 = 25.00%
1: 110111 00.000 41.67%
— Х0.Х0Х = 66.67%
2 : 11X111 0..0.0 25.00%
— Х0.Х0Х = 66.67%
3: 001001 010010 50.00%
— ХХ0ХХХ = 91.67%
4 : 01X010 1..1.1 25.00%
— ХХ0ХХХ = 91.67%
5 : 100000 1111.1 41.67%
— ХХХХХХ =100.00%
Рис.2. Результат генерации тестов для ОКН комбинационной схемы
Программа TestBuilder разработана на основании использования модифицированного К-алгоритма [2]. Из рис. 2 видно, что построенный программой TestBuilder тест покрывает 100% неисправностей в схеме. Столбец ‘а’ содержит пронумерованные линии из рис.1. Столбец ‘b’ - это входные тестовые воздействия. В ‘с’ показаны неисправности, проверяемые построенным тестом. И, наконец, ‘d’ содержит процент неисправностей, проверяемых конкретной тестовой последовательностью. Для того чтобы сделать полученный тест читабельным в среде VHDL, необходима его конвертация в требуемый формат. Полученный TestBentch представлен в листинге 2.
Листинг 2
Файл VHD, содержащий тестовые воздействия entity test8_tb is end test8_tb;
architecture TB_ARCHITECTURE of test8_tb is — Component declaration of the tested unit component test8 port(
a : in STD_LOGIC; s : in STD_LOGIC; z : out STD_LOGIC); end component; signal a : STD_LOGIC; signal s : STD_LOGIC; signal z : STD_LOGIC; begin
— Unit Under Test port map UUT : test8 port map (a => a, s => s, z => z); process begin
a<=’0'; s<=’1'; wait for 5 ns; a<=’1'; s<=’1'; wait for 5 ns; a<=’0'; s<=’0'; wait for 5 ns; wait;
end process;
end TB_ARCHITECTURE;
configuration TESTBENCH_FOR_test8 of test8_tb is for TB_ARCHITECTURE for UUT : test8
use entity work.test8(arch); end for; end for;
end TESTBENCH_FOR_test8;
Total checked 12 of 12 SF (100.00%):
На рис. 3 показан результат генерации тестов для рассматриваемой схемы, представленный в виде диаграммы.
Name Value Stimulator | і . ip . 10.9 ns | 2.0 ■ i ■ 30
^ a 1 | |
s 1 z 1
~I I I
Рис.3. TeCT Bentch (диаграмма)
Заключение
Таким образом, предложенное информационное обеспечение производит логическое моделирование и генерацию тестов для цифровых устройств, ориентировано на обработку программируемых логических интегральных схем и имеет реальную возможность интегрирования в области CAD-систем. Что касается практического применения полученных результатов, то с появлением научного и практического интереса к языку VHDL предлагаемое информационное обеспечение реализовано в качестве базового для тестирования схемных реализаций структурно-функционального уровня описания (примитивные элементы, 25 типов триггеров, вентильные схемы, функциональные комбинационные примитивы, заданные покрытиями).
Литература: 1. Хаханов В.И. Техническая диагностика элементов и узлов персональных компьютеров. К.: I3MH. 1997.308 с. 2. Хаханов В.И., Ковалев Е.В., Ханько В.В., Масуд Мд. Мехеди. Система генерации тестов для проектирования цифровых автоматов в среде VHDL-Active. АСУ и ПА. Выл. 111. 2000. с. 15-21. 3. Ashenden, Peter. Designer's Guide to VHDL. Morgan Kaufman, 1994. 500p.
Поступила в редколлегию 14.01.01
Рецензент: д-р техн. наук, проф. Кривуля Г.Ф.
Хаханов Владимир Иванович, д-р техн. наук, профессор кафедры автоматизации проектирования вычислительной техники ХТУРЭ. Научные интересы: техническая диагностика вычислительных устройств, систем, сетей. Увлечения: баскетбол, горные лыжи. Адрес: Украина, 61166, Харьков, пр. Ленина, 14, тел. 40-93-26. E-mail: Hahanov@kture.kharkov.ua
Скворцова Ольга Борисовна, аспирантка кафедры автоматизации проектирования вычислительной техники ХТУРЭ. Научные интересы: техническая диагностика вычислительных устройств, систем, сетей. Увлечения: аэробика, иностранные языки, музыка. Адрес: Украина, 61166, Харьков, пр. Ленина, 14, тел. 40-93-26. E-mail: <o_skv2000@mail.ru>
Пудов Виталий Анатольевич, соискатель кафедры автоматизации проектирования вычислительной техники ХТУРЭ. Научные интересы: техническая диагностика вычислительных устройств, систем. Увлечения: программирование. Адрес: Украина, 61166, Харьков, пр. Ленина, 14, тел. 40-93-26. E-mail:<vapudov@mail.ru>
Масуд Мд. Мехеди, аспирант кафедры автоматизации проектирования вычислительной техники ХТУРЭ. Научные интересы: техническая диагностика вычислительных устройств, систем, сетей. Увлечения: путешествия. Адрес: Украина, 61166, Харьков, пр. Ленина, 14, тел. 40-93-26.
РИ, 2001, № 1
98
