CC BY
22Космическое и специальное электронное приборостроение
и 3,78 Вт/(м-К); магний МА2-1 - 6,19 и 6,19 Вт/(м-К); цирконий Э110 - 1,53 и 1,53 Вт/(м-К).
3. Коэффициент температуропроводности. Именно этот коэффициент определяет термическое сопротивление слоев и способность уменьшать теплообмен. Коэффициенты температуропроводности для образцов с покрытием и образцов без покрытия соответственно, (толщина образцов 4 мм), толщина покрытия 20 мкм: алюминий Д16 - 15,4-10-6 и 15,6-10-6 м2/с; титан ВТ1-0 - 2,81 10-6 и 2,91 10-6 м2/с; магний МА2-1 -3,58• 10-5 и 3,7510-5 м2/с; цирконий Э110 - 1,1910-5 и 1,3410-5 м2/с. Максимальное отличие достигает 0,25 10-5 м2/с, то есть 7,5 %.
Таким образом, возможность изменения в широком диапазоне состава покрытий позволяет изменять функциональные свойства сформированных слоев. В этой части наиболее важным является продолжение теоретических работ по выявлению механизма образования слоистых материалов в плазменном режиме в растворах и способов управления процессом, составом и строением покрытия.
В настоящий момент работы в области создания покрытий методом микроплазменного оксидирования посвящены нанесению однослойных покрытий [2; 3]. Но, несмотря на хорошие физико-механические и электрофизические свойства, в изделиях требуются покрытия, обладающие совокупностью свойств, которые распределены неравномерно по объему слоистого материала.
Библиографические ссылки
1. Механизм моделирования нагрузок деформации и разрушения слоистых неметаллических неорганических материалов с нано- и микроразмерным волновым текстурированием поверхности / А. И. Мамаев,
B. А. Мамаева, Т. И. Дорофеева и др. // Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55, № 9/3.
C. 78-86.
2. Мамаев А. И., Мамаева В. А., Дорофеева Т. И., Бориков В. Н. Формирование наноструктурных неме-
таллических неорганических покрытий путем локализации высокоэнергетических потоков на границе раздела фаз : учеб. пособие / Том. гос. ун-т. Томск, 2010. 360 с.
3. Мамаев А. И., Мамаева В. А. Сильнотоковые процессы в растворах электролитов. Новосибирск : СО РАН, 2005. 255 с.
4. Зиновьев В. Е. Теплофизические свойства металлов при высоких температурах : справ. издание. М. : Металлургия, 1989. 384 с.
5. Физические величины : справ. / под ред. И. С. Григорьева, Е. З. Мейлихова. М. : Энергоиздат, 1991. 1232 с.
References
1. Mamaev A. I., Mamaeva V. A., Dorofeeva T. I., Emel'yanova E. Yu. [Mehanizm modelirovanija nagruzok deformacii i razrushenija sloistyh nemetallicheskih neor-ganicheskih materialov s nano- i mikrorazmernym vol-novym teksturirovaniem poverhnost]. Izvestiya vysshih uchebnih zavedenii. Phizika. 2012, Vol. 55, no 9/3, p. 78-86 (In Russ.)
2. Mamaev A. I., Mamaeva V. A., Dorofeeva T. I., Borikov V. N. [Formirovanija nanostrukturnyh nemet-allicheskih neorganicheskih pokrytij putem lokalizacii vysokojenergeticheskih potokov na granice razdela faz: ucheb. posobie]. Izd-vo Tom. un-ta, 2010, 360 p. (In Russ.)
3. Mamaev, A. I., Mamaeva, V. A. [Sil'notokovye processy v rastvorah jelektrolitov]. Novosibirsk, SO RAN, 2005, 255 p. (In Russ.)
4. Zinov'ev V. E. [Teplofizicheskie svojstva metallov pri vysokih temperaturah. Spravochnoe izdanie]. Moscva, Metallurgija, 1989, 384 p. (In Russ.)
5. Grigorev I. S., Meilihov E. Z. [Spravochnik. Fizicheskie velichiny]. Moscva, Jenergoizdat 1991, 1232 p.
© Мамаев А. И., Константинова Т. А., Чубенко А. К., Мамаева В. А., 2015
УДК 629.78.066:621.37/.39.001.4
ЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ БЛОКОВ АППАРАТУРЫ РАДИОНАВИГАЦИИ ДЛЯ КОСМИЧЕСКОГО АППАРАТА МЕТОДОМ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ
ПО ИНТЕРФЕЙСУ JTAG
А. И. Михайлов, О. И. Цветкова
АО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнева» Российская Федерация, 662972, г. Железногорск Красноярского края, ул. Ленина, 52
E-mail: [email protected]
Рассмотрено тестирование блоков бортовой аппаратуры космических аппаратов методом периферийного сканирования через интерфейс JTAG. Приведен пример реального внедрения в производство. Описаны перспективы применения.
Ключевые слова: периферийное сканирование, JTAG, ПЛИС, аппаратура радионавигации, бортовая аппаратура, космический аппарат.
Решетнеескцие чтения. 2015
ELECTRICAL TESTING RADIONAVIGATION EQUIPMENT UNITS FOR SPACECRAFT BY BOUNDARY SCAN METHOD VIA JTAG INTERFACE
A. I. Mikhaylov, O. I. Tsvetkova
JSC "Information satellite systems" named after academician M. F. Reshetnev" 52, Lenin Str., Zheleznogorsk, Krasnoyarsk region, 662972, Russian Federation E-mail: [email protected]
Testing radionavigation equipment units for spacecraft by boundary scan method via JTAG interface is considered. The actual example of implementing into production is given. The prospects of application are described.
Keywords: boundary scan, JTAG, FPGA, radionavigation equipment, onboard equipment, spacecraft.
В последнее время как в мировой практике, так и в российской в частности, для разработки бортовой аппаратуры (БА) космических аппаратов (КА) все чаще применяются электрорадиоизделия (ЭРИ) в корпусах с большим количеством выводов: программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС), микроконтроллеры (МК).
Применение таких ЭРИ влечет за собой усложнение процесса проверки качества их монтажа на печатную плату (ПП), особенно если речь идет о корпусах поверхностного монтажа, таких как BGA, CF, к выводам которых отсутствует прямой доступ.
Для проведения электрического тестирования корректности монтажа в вышеуказанных ЭРИ производителем, как правило, закладывается модуль периферийного сканирования, доступный по интерфейсу JTAG (IEEE 1149.1) [1].
Суть работы такого модуля при тестировании внешних цепей заключается в отключении ядра от портов ввода/ вывода соответствующей ПЛИС или МК и предоставление доступа на чтение и запись значений в эти порты через интерфейс JTAG [2]. Сам проект тестирования разрабатывается и исполняется на персональном компьютере (ПК).
Сопряжение ПК с ПП осуществляется при помощи специального интерфейсного модуля. В качестве исходных данных для разработки теста могут использоваться файлы проектов (список цепей (netlist) и топология ПП) большинства современных систем автоматизированного проектирования (САПР).
В конечном итоге тестирование проводится выставлением и считыванием множества различных комбинаций состояний на портах микросхем с учетом безопасных состояний для всех ЭРИ на блоке.
В АО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнёва» тестирование ме-
тодом периферийного сканирования через интерфейс JTAG было внедрено и отработано при изготовлении аппаратуры радионавигации (АРН).
В АРН применены ПЛИС фирм Xilinx и Actel, в корпусах CF1140 и CQ208. Электрическое тестирование производилось через модули периферийного сканирования ввышеуказанных ПЛИС, а также, для увеличения тестового покрытия, через интерфейсные разъемы блоков прибора. Благодаря внедрению данной технологии были оперативно выявлены и устранены дефекты, допущенные при изготовлении блоков прибора.
В связи с все больше расширяющейся на российском рынке номенклатурой микросхем с большим количеством выводов тестирование методом периферийного сканирования через интерфейс JTAG позволит улучшать качество и эффективность изготовления БА КА путем осуществления возможности электрической проверки корректности монтажа таких микросхем, а также повышения тестового покрытия 1111.
Библиографические ссылки
1. IEEE Standard 1149.1-2001. Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture: technical report. IEEE Standards Board, 2001.
2. Рустинов В., Городецкий А. Принцип граничного сканирования // ChipNews. M., 2001. № 6. С. 14-19.
References
1. IEEE Standard 1149.1-2001, "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture," technical report, IEEE Standards Board, 2001.
2. Rustinov V., Gorodetskiy A. Printsip granichnogo skanirovaniya // ChipNews, Moscow, 2001, № 6, p. 14-19.
© Михайлов А. И., Цветкова О. И., 2015
