Научная статья на тему 'Анализ передаточных характеристик КМОП инвертора на карбиде кремния'

Анализ передаточных характеристик КМОП инвертора на карбиде кремния Текст научной статьи по специальности «Электротехника, электронная техника, информационные технологии»

CC BY
488
41
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Текст научной работы на тему «Анализ передаточных характеристик КМОП инвертора на карбиде кремния»

Рис. 3. Вид волновых функций 4*j(y)

ЛИТЕРАТУРА

1. Пожала Ю. К, Физика быстродействующих транзисторов: Монография. Вильнюс: Моноклас, 1989. 264 с.

2. Самарский А. А. Теория разностных схем. М.: Наука, 1977. 656 с.

3. Loret D. Two - dimensional numerical model for the High Electron Mobility Transistor. Solid- State Electronics. 1987. Vol. 30. № 11. P. 1197 - 120.3.

УДК 621.3.049.77

Р.Ю. Бабков

АНАЛИЗ ПЕРЕДАТОЧНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК КМОП ИНВЕРТОРА НА

КАРБИДЕ КРЕМНИЯ

Таганрогский государственный радиотехнический университет,

347928, г. Таганрог, ГСП-17А, пер.Некрасовский, 44, тел.: (86344) 61767, e-mail: fep(wtsure.ru

В работе рассматриваются особенности проектирования, анализируются передаточные характеристики КМОП инвертора на карбиде кремния (6H-SiC) и проводится их сравнение с кремниевым аналогом.

Для расчетов использовалась методика, приведенная в [1]. Разработанные на основе данной методики алгоритм и программа позволяют проводить расчет геометрических параметров инвертора и допустимых отклонений напряжения относительно его номинальных значений.

Для проведения расчетов использовалось выражение для тока стока [2]:

где С3 ~ Бо£дЛд ~ удельная емкость диэлектрика; — относительная диэлектриче-

ская проницаемость диэлектрика; - толшина диэлектрика; ц - подвижность; 'Л\ Ь — ширина и длина канала МОП-транзистора; из, ис, ип — напряжения на затворе, стоке и подложке соответственно; фмдп ~ потенциал, соответствующий разности работ выхода из диэлектрика и полупроводника; - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника; е0 — диэлектрическая проницаемость вакуума; q - заряд электрона; 0лд„ - эффективный заряд поверхностных состояний на границе раздела полупроводник - диэлектрик; ~ 2<рР - потенциал на поверхности слоя объемного заряда, при котором концентрация подвижных дырок в канале преобладает над концентрацией электронов и ионизированных атомов донорной примеси.

На рис. 1 представлены расчетные статические характеристики инвертора на кремнии и карбиде кремния.

Риг I. Передаточная характеристика инвертора

Расчет передаточной характеристики выполнялся для напряжения питания 9,8 В и температуры +27°С. Длина каналов п- и р-канальных транзисторов Ьп р = 1 мкм, ширина каналов для п-канальных транзисторов 4 мкм, для р-канальных 12 мкм, концентрация примеси в п-подложке ^ = 5-10ь см"3, концентрация примеси в р-кармане Ка = 3 -1016 см 3. Такие концентрации примерно соответствуют концентрациям в реальных МСП-транзисторах на основе 5(С [3-5]. При этом пороговые напряжения для п-канальных транзисторов на кремнии и на карбиде кремния составили 0,83В и 2,93В, а для р-канальных 1,23В и 3,54В соответственно.

Вид передаточной характеристики инвертора определяется отношением ширины каналов транзисторов \VpZW,, и отношением подвижностей цп/(д.р носителей заряда.

Динамические характеристики инвертора, в частности время установившейся задержки распространения сигнала в последовательной иепочке инверторов, определяются следующим выражением [1]:

= а С -Е„

1 + п

Р„-(Е,-иа„)г ' •(£„ -и„р)

(2)

где а ~ 0,9 - постоянный коэффициент; С = Сум + Снагр; СуМ - узловая емкость на выходе инвертора; Скаф - внешняя нагрузочная емкость [1].

При Снагр » Су,л полагаем С * Снагр. В расчетах величина нагрузочной емкости - 0,8 пФ. При этом время установившейся задержки распространения сигнала для инверторов на кремнии и карбиде кремния составило 1.03 не и 3,15 не соответственно.

Ширина каналов транзисторов р- и п-типа проводимости определяется исходя из требований, предъявляемых к инвертору по помехоустойчивости и быстродействию при заданной величине нагрузочной способности. В ряде случаев дополнительно накладывается требование по потребляемой мощности в динамическом режиме [1].

Исходя из условия симметрии передаточной характеристики и, следовательно, равенства помех в состояниях логической 1 и 0 (без учета разброса параметров и0р, и0п, (Зр, рп, ЕД относительно АУр имеем [1]:

^ =£рКЛ] + /7р)-а-С-Еп

УУр

1

__________Мі)2

(е, -ио У {Е„-и0„У

(3)

где

^ор ~ ^оп ; (^дХал - задаваемое время задержки на один инвертор.

На рис.2 отображены графики значений ширины канала р-канального МОП-транзистора, обеспечивающего задаваемое значение времени задержки. Значение ширины канала п-канального МОП-транзистора находятся из соотношения:

IV,

(4)

М,)

2

Ми

Графики значений ширины канала п-канального МОП-транзистора приведены на рис.З.

Рис. 2

Рис.З

Основное влияние на передаточные характеристики инвертора как на кремнии, так и на карбиде кремния оказывают пороговое напряжение, удельная кру-

тизна и напряжение источника питания. Меньшие рабочие токи транзисторов на карбиде кремния объясняются меньшей подвижностью основных носителей в канале. При заданном времени задержки для инверторов на Si и SiC ширина канала р-канального транзистора на SiC в ~4 раза больше, чем у кремниевого, ширина канала n-канального транзистора на SiC в ~2 раза больше.

ЛИТЕРАТУРА

1. Гусаков В.М., Шарапов Б.Н. Проектирование интегральных схем на МДП-транзисторах с дополнительными типами проводимости и их основные эксплуатационные характеристики//Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. 1972. Вып. 6.С.56.

2. Валиев К.А., Кармазинский А.Н., Королев М.А. Цифровые интегральные схемы на МДП-транзисторах.М.:Советское радио, 1971. С. 384.

3. Properties and Specifications for 50.8 mm (2 inches) SiC Wafer, http ://www. cree.com

4. Carrier mobilities and concentrations in SiC. G.L. Harris, H.S. Henry, A. Jackson/ Materials Science Research Center of Excellence. Howard University, Washington, DC, USA. 1995.

5. Planar depletion-mode 6H-SiC MOSFETs. V.Krishnamuthry, D.M. Brown, M. Ghezzo, J. Kretchmer, W. Hennessy, E. Downey, G. Michon/ Paper presented at the 5th SiC and Related Materials Conf., Washington, DC, 1993.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.