Учет априорной информации о надежности элементов сложной технической системы на стадии разработки опытных образцов Текст научной статьи по специальности «Строительство и архитектура»

_МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ ЖУРНАЛ «СИМВОЛ НАУКИ» №1/2016 ISSN 2410-700Х_

предложенный оптический способ связи позволяет эффективно перестраивать внутреннюю структуру сети для решения сложных вычислительных задач. Список использованной литературы:

1. Васильев А.Н., Тархов Д.А. Принципы и техника нейросетевого моделирования. - СПб.: Нестор-История, 2014. - 218 с.

2. Кащенко С.А., Майоров В.В. Модели волновой памяти. Изд. стереотип. - М.: Книжный дом «ЛИБРОКОМ», 2014. - 288 с.

3. Н. Джон, М. Роберт, В. Брюс, Ф. Пол. От нейрона к мозгу / Пер. с англ. П.М. Балабана, А.В. Галкина, Р.А. Гиниатуллина, Р.Н. Хазипова, Л.С. Хируга. - М.: Едиториал УРСС, 2003. - 672 с.

© Ю Н. Лавренков, 2016

УДК 623.452

Лебедев Вадим Владимирович

канд. техн. наук, доцент ВУНЦ ВВС «ВВА»,

г. Воронеж, РФ E-mail: [email protected] Сухарев Владимир Александрович канд. техн. наук, ст. преподаватель ВУНЦ ВВС «ВВА»,

г. Воронеж, РФ

УЧЕТ АПРИОРНОЙ ИНФОРМАЦИИ О НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ СЛОЖНОЙ ТЕХНИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ НА СТАДИИ РАЗРАБОТКИ ОПЫТНЫХ ОБРАЗЦОВ

Аннотация

Рассматривается задача обеспечения заданной достоверности принимаемых решений с использованием данных испытаний элементов сложной технической системы

Ключевые слова

Сложная техническая система, структурная схема надежности, автономные испытания элементов

Подтверждение надежности дорогостоящих сложных технических систем (СТС) экспериментальным методом по результатам приемо-сдаточных испытаний на основе классических соотношений математической статистики затруднено из-за малого объема выборки.

Одним из путей решения этой задачи является переход к исследованию составных частей (отдельных узлов) с использованием для подтверждения надежности СТС дополнительной информации и данных автономных испытаний элементов [1, с. 26].

Необходимый объем выборки при проведении испытаний в нормативных условиях без привлечения какой-либо дополнительной информации:

n (1)

In Ртр

При планировании испытаний на надежность практический интерес представляют безотказные испытания. При всех безотказных испытаниях элементов получим:

Р\хк) = nfi^r , (2)

где n* = minn - эквивалентное n (i = \...m) испытаниям элементов число испытаний СТС;

\<i<m

_МЕЖДУНАРОДНЫЙ НАУЧНЫЙ ЖУРНАЛ «СИМВОЛ НАУКИ» №1/2016 ISSN 2410-700Х_

у - доверительная вероятность нижней доверительной границы.

При этом требуемый объем автономных испытаний должен удовлетворять условию n > n0, (/ = 1,..., m) , что не реализуемо в условиях выпуска СТС ограниченной партии и высокой стоимости проводимых испытаний. Так, для случая, характерного при испытаниях СТС, Р = 0,99 и Дои = 0,1 при безотказных

испытаниях n0 = 230 .

Для системы с резервированием, состоящей из v параллельно соединенных элементов, нижняя доверительная граница ее вероятностного показателя надежности определяется по формуле:

Р(хн) = 1 - (1 - ^Р(хн))v, (3)

где Р (хн) - нижняя доверительная граница вероятностного показателя надежности ассоциированной системы, составленной из v параллельно соединенных элементов.

Для случая безотказных испытаний с учетом (2) получим:

Р(хн) = 1 -(1 -n*VT-7)v , К = 5,916; (j = 1,...,v) . (4)

Тогда из условия соответствия Р( хк) > Р с учетом (4) получим соотношение для требуемого числа автономных испытаний:

nj >п> = 1 :;(1 -,у)» v (j=1,.,v)- (5)

v • ln(1 - vi1 - Ртр )

где n - минимально необходимое число автономных испытаний для элементов резервированной системы.

Анализ (5) показывает, что с ростом структурной избыточности необходимый объем автономных испытаний резко уменьшается.

Данные автономных испытаний элементов параллельной системы можно представить эквивалентным им с точки зрения достоверности числом комплексных испытаний системы n **. Переписав (4) в виде n**1 -у = 1 - (1 -n 1 — у )v, получаем:

ln(1 -у)

n* * = ^--- -|. (6)

ln [ 1 - (1 -n* J)v J

Если систему составляют m однотипных элементов, к из которых должны быть работоспособны, то вероятностный показатель надежности системы при биномиальном плане испытаний определяется зависимостью:

m-к

Рит (Хн)=Е с: [1 - р(хн Я p(xH )m-r. (7)

r=0

Заменив неравенство Р(хн) > Р на равенство и решая его с помощью уравнения (7), можно

определить требуемое значение показателей надежности элементов СТС.

Таким образом, переход в целях подтверждения надежности сложных технических систем к использованию данных испытаний элементов в значительной мере решает проблему обеспечения заданной достоверности принимаемых решений. Однако требуемые объемы автономных испытаний, особенно для элементов, имеющих последовательное соединение в системе, также велики, что требует обобщения методов объединения данных комплексных испытаний системы и автономных испытаний ее элементов.

Список использованной литературы:

1. Теоретические основы испытаний и экспериментальная отработка сложных технических систем / Л.Н. Александровская и др.: Учебное пособие. - М.: Логос, 2003. - 736с.

© В.В. Лебедев, В.А. Сухарев, 2016