Научная статья на тему 'Подсистема диагностирования производственных дефектов аппаратуры'

Подсистема диагностирования производственных дефектов аппаратуры Текст научной статьи по специальности «Компьютерные и информационные науки»

CC BY
113
109
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по компьютерным и информационным наукам , автор научной работы — Ботнев В. В., Иванов И. А., Сулейманов С. П., Увайсов Р. И.

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Текст научной работы на тему «Подсистема диагностирования производственных дефектов аппаратуры»

Ботнев В.В., Иванов И.А., Сулейманов С.П., Увайсов Р.И.

ПОДСИСТЕМА ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ПРОИЗВОДСТВЕННЫХ ДЕФЕКТОВ АППАРАТУРЫ

В работе описан программный комплекс Diaterm, предназначенный для проведения диагностирования технического состояния печатных узлов радиоэлектронных средств и на основе теплового математического моделирования и результатов измерения температур корпусов комплектующих элементов выявлять наличие и виды производственных дефектов аппаратуры.

Неотъемлемой частью большинства радиоэлектронных средств (РЭС) являются печатные узлы (ПУ). Программный комплекс (ПК) Diaterm предназначен для диагностирования дефектов ПУ на различных стадиях жизненного цикла РЭС по их тепловому полю. ПК позволяет выявлять так называемые производственные дефекты (ПД), связанные с нарушениями технологии производства ПУ, а также дефекты, приводящие к нарушению тепловых режимов работы электрорадиоэлементов (ЭРЭ) в ПУ. Например: отсутствие пасты между ЭРЭ и теплоотводом, неправильная установка ЭРЭ с теплоотводом, отсутствие контакта ЭРЭ с теплоотводом и д.р. Ряд дефектов, которые возможно выявить с помощью Diaterm, сложно определить другими средствами диагностирования. Поэтому метод теплового диагностирования, положенного в основу ПК дополняет другие широко известные методы электрического, вибрационного, визуального диагностирования ПУ.

Суть метода теплового диагностирования, заключается в построении на этапах проектирования справочника термограмм в виде электронной базы неисправностей (БН). Отдельная термограмма отражает тот или иной дефект. Одним из главных отличий данного метода от хорошо известного метода сравнения с «эталонным образцом» является применение математического моделирования тепловых процессов ПУ вместо проведения серии экспериментов для формирования искомой БН.

Таким образом, для проведения диагностирования производственных дефектов необходимо сформировать базу неисправностей (БН). База неисправностей представляет собой множество термограмм ПУ, полученных путем моделирования тепловых процессов. Каждая термограмма соответствует какому-то производственному дефекту. Формирование базы неисправностей должно проводиться на этапе обеспечения тепловых режимов при проектировании ПУ. Существует возможность создать БН и на последующих стадиях жизненного цикла.

При формировании БН для ПУ необходимо реализовать следующие операции:

открытие и сканирование входного файла программы моделирования;

определение контрольных точек;

выбор видов дефектов, которые необходимо диагностировать;

сохранение в файле подробного описания выбранных дефектов;

получение из программы моделирования тепловых процессов данных по тепловым полям ПУ для различных дефектов;

ввод данных по рассчитанным тепловым полям в ПК Diaterm;

построение причинно-следственных связей;

сохранение БН.

ПК Diaterm обеспечивает гибкое взаимодействие с другими программами моделирования тепловых процессов, например: АСОНИКА-Т, ТРИАНА, Pilot и др. Это возможно благодаря реализованному в Diaterm конечному автомату. КА обеспечивает сканирование входных и выходных файлов программы моделирования. Другими словами программа Diaterm не привязана жестко к конкретной программе моделирования.

При диагностировании накладываются требования к выбираемым контрольным точкам. Программа позволяет целенаправленно выбирать места размещения контрольных точек и их количество. Выбор производится на основе данных о коэффициентах нагрузки, показателей надежности ЭРЭ, коэффициентов тепловой нагрузки элементов.

Комплекс Diaterm позволяет автоматически формировать «список дефектов», возможных в данном ПУ. Формирование выполняется на основе полученных данных из входного файла программы моделирования и имеющейся в Diaterm базе неисправностей.

Ф«»с>м4-З№аш«ы>пц И»0<М1«»МП¥] СликЭРЭ <(5Г-3 НИ1

Кмметм КГ. М

ВЧ1(И«4*Ч I Оое**. н ОвРМ. н О«**. >

28.39 28.Э5 28-33

Я.12 25.12 ЯП Я.0Г

28132 28.02 2802 28.02

МЛ 26.«3 КДв 26.«

31 .С 31.42 31«

в Ржчоты... Рвзупьмты НапрсгКи

Э ФайлПМ 9 Смдагь/оп ■ ВтРЭС

*й^

<1а | И»(м«**«ПН | Сч*#.ЭТ ЛН | НомиИ | ВмтлодамЛД Б“"

ИС1Ч.1С»«~|^ яй.|а..|» Уи |Л.Гвтп____________________

Иоскиитеяиия»^ |Рстпа.а мпинь вАССНИКе-ТМ Отгсгвп мло 6Н: У\$1*-1МЬ**|Ти»(1У_5«Г»_\5_1)ич*1*Чв_Сш«В|Ч>50Н1И-С' |[)|41<ип№лус»л«т**_н(мк1№««^««_(5$5.1я>

IV 12. и 1*: 15 1Ь 1?. 1а 1а га п. а 23. гч а 26 гг. га

»в 10 бдов в I Обдов в 10 бдов в 10 бдав в I Обрыв в 10 бдав в 10&ыв в IО бдав в I Обрыв в I Обгыв в I Обсыв в I Обрыв в 1061%« в I Обрыв в I Обрыв в I Обрыв в I Обрыв в I Обрыв

ы| Рн».15| Дяф 1б| Диф.1у| Диф.1з| д»*19| дн*д| д#л| Дн»а| д»*.гз| ач-а| д»фд| Дн»ж| а#.27| ьч-а| д*.в| ь*.л| д»».31| Ди»:

1Эт1огт

Подсистема

АСОНИКА-Д

Программа разработанна в МИЭМ каФ. РТУиС Авторы:

У вайсов С. У., Сулейманов С.П., У вайсов Р. И., Долматов А.В.

23.« 23.® ¡3«

ли 24.07 г«га 24.гс и.я ил ли

б)

а)

Рис.1. Окна ПК Diaterm: а) таблица базы неисправностей; б) таблица построенных причинно-

следственных связей

Далее проводится заполнение таблицы базы неисправностей (рис.1.а), где в столбцах располагаются значения температур в контрольных точках для различных дефектов. В программе моделирования в математическую модель ПУ вносится изменение, соответствующее возможному дефекту, после чего проводится моделирование тепловых процессов ПУ с получением термограммы и значений температур в контрольных точках. Такие итерации выполняются для всех дефектов, описанных в «списке дефектов».

После формирования БН ПК Diaterm выполняет построение причинно-следственных связей (рис.1). Использование причинно-следственных связей позволяет повысить достоверность диагностирования дефектов, а также позволяет диагностировать кратные дефекты (в БН содержатся одиночные дефекты). Теперь БН считается завершенной и ее можно использовать для мониторинга дефектов на последующих стадиях жизненного цикла ПУ РЭС.

Диагностирование производственных дефектов может проводиться на основе: статистического анализа

серии измерений значений температур в контрольных точках; измерений значений температур в контрольных точках; тепловизионной термограммы.

Diaterm дает возможность проводить статистический анализ измеренных значений температур наблюдаемого ПУ, вычисляя математическое ожидание и определяя распределение измеренных значений температур.

Диагностирование производственных дефектов можно проводить, например, используя термограмму, полученную с помощью бесконтактных средств измерения температуры. На основе термограммы определяются значения температур в контрольных точках, которые вводятся в окне ПК Diaterm (рис.2).

Рис.2. Мониторинг производственных дефектов в программе Diaterm

Измеренные значения температур исследуемого ПУ, могут передаваться из программного модуля, в котором проводился статистический анализ, или вводиться вручную при непосредственном измерении значений температур. После ввода измеренных знасений температур можно провести мониторинг дефектов, нажав на кнопку «Диагноз» (рис.2), в результате чего появится окно с диагнозом. Для подробного ана-

лиза сложившейся в ПУ ситуации можно просмотреть значения рассчитанных критериев, на основе которых был сформулирован диагноз.

Помимо диагностирования производственных дефектов комплекс Diaterm позволяет рассчитывать диапазоны допусков на значения температур ЭРЭ для отбраковочного контроля ПУ. Расчет диапазона допусков на значения температур ЭРЭ проводится, исходя из разброса значений электрических, геометрических и теплофизических параметров ПУ. Допуски рассчитываются методом Монте-Карло.

Программный комплекс Diaterm может быть использован промышленными предприятиями, занимающимися разработкой, производством, испытаниями или эксплуатацией радиоэлектронных средств. Применение ПК в промышленной практики позволит повысить процент выхода годных РЭС и их эксплутационную надежность за счет своевременного выявления производственных дефектов.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.