Научная статья на тему 'Формирование регулярных микрорельефов на поверхности твердых тел остросфокусированным пучком тяжелых ионов'

Формирование регулярных микрорельефов на поверхности твердых тел остросфокусированным пучком тяжелых ионов Текст научной статьи по специальности «Физика»

CC BY
153
80
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
ФОРМИРОВАНИЕ РЕГУЛЯРНЫХ МИКРОРЕЛЬЕФОВ / REGULAR MICRORELIEF FORMATION / ОСТРОСФОКУСИРОВАННЫЙ ПУЧОК ТЯЖЕЛЫХ ИОНОВ / SHARPLY FOCUSED BEAM OF HEAVY IONS / ПРОФИЛЬ КАНАВКИ / GROOVE PROFILE / КОЭФФИЦИЕНТ ИОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ / ION SPRAY COEFFICIENT

Аннотация научной статьи по физике, автор научной работы — Медунецкий Виктор Михайлович, Шмидберская Анна Алексеевна

Рассмотрен процесс формирования профиля канавки для обеспечения регулярного микрорельфа на поверхности твердых тел остросфокусированным пучком тяжелых ионов. Определены основные параметры технологического процесса, влияющие на геометрические характеристики профиля формируемой канавки.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Formation of regular microrelief on solid surface with sharply focused beam of heavy ions

The process of groove profile formation on solid surface under the action of sharply focused beam of heavy ions is studied. Main parameters of the process affecting the formatted grove geometry characteristics are determined.

Текст научной работы на тему «Формирование регулярных микрорельефов на поверхности твердых тел остросфокусированным пучком тяжелых ионов»

список литературы

1. Каракулев Ю. А. Измерение отклонения от соосности деталей в регулировочных клапанах турбин // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 2. С. 27—30.

2. Бронштейн И. Н., Семендяев К. А. Справочник по математике для инженеров и учащихся вузов. М.: Наука, 1986. 544 с.

Юрий Александрович Каракулев

Сведения об авторе канд. техн. наук, доцент; Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, кафедра компьютеризации и проектирования оптических приборов; E-mail: yura1946@yandex.ru

Рекомендована кафедрой компьютеризации и проектирования оптических приборов

Поступила в редакцию 26.04.11 г.

УДК.621.384

В. М. Медунецкий, А. А. Шмидберская

ФОРМИРОВАНИЕ РЕГУЛЯРНЫХ МИКРОРЕЛЬЕФОВ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ ОСТРОСФОКУСИРОВАННЫМ ПУЧКОМ ТЯЖЕЛЫХ ИОНОВ

Рассмотрен процесс формирования профиля канавки для обеспечения регулярного микрорельфа на поверхности твердых тел остросфокусированным пучком тяжелых ионов. Определены основные параметры технологического процесса, влияющие на геометрические характеристики профиля формируемой канавки.

Ключевые слова: формирование регулярных микрорельефов, остросфокусиро-ванный пучок тяжелых ионов, профиль канавки, коэффициент ионного распыления.

Повышение качества приборов и машин непосредственно связано с важнейшей научной проблемой — оптимизацией свойств поверхности и приповерхностного слоя деталей. Именно эти факторы в большинстве случаев определяют такие важнейшие эксплуатационные характеристики приборов, как износостойкость, коррозионная стойкость, сопротивление схватыванию, электро- и теплопроводность, контактная жесткость и др. Одна из задач этой проблемы — оптимизация геометрических параметров поверхностного слоя материала деталей.

Основными аспектами этой задачи являются:

— выявление взаимосвязи микрогеометрии поверхностей с их служебными свойствами;

— определение микрогеометрических параметров поверхностей, наиболее полно и точно отражающих их взаимосвязь со служебными свойствами деталей;

— создание методов обработки, позволяющих точно и в широких пределах воспроизводить микро- и нанорельеф поверхностей с учетом параметров, заданных конструктором (как согласно ГОСТ 2789-73, так и вне его рамок).

Регулярный микрорельеф, характеризующийся, в отличие от шероховатой поверхности, одинаковой формой, размерами и взаимным расположением микронеровностей, является, в связи с тенденцией к миниатюризации в приборостроении, неотъемлемой конструктивной особенностью деталей приборов. В качестве примера можно привести тонкие элементы растровых систем, магнитные и оптические диски, дифракционные решетки, конструкционные элементы деталей микроэлектроники, детали микромеханики.

Возможности известных способов регуляризации микрогеометрии (вибрационное накатывание, гравировка, литография, лазерная обработка и т.д.), однако, ограниченны, поэтому в настоящее время актуальной является разработка новых технологических способов регуляризации, дополняющих и расширяющих область применения уже известных.

В основу одного из таких новых способов — технологии ионного форматирования — положен процесс распыления материала поверхности твердого тела при бомбардировке его ускоренными ионами. Количественно этот процесс характеризуется коэффициентом ионного распыления У, который определяется как среднее число атомов, удаляемых с поверхности твердого тела одним падающим ионом (атом/ион). Коэффициент ионного распыления зависит от энергии ускоренных ионов, заряда и массы ионов, угла падения ионов на поверхность и дозы облучения; энергии связи атомов мишени, их массы и заряда ядра; наличия примесей на поверхности и приповерхностном слое; температуры обрабатываемой поверхности и ряда других параметров облучения.

Формирование регулярных микро- и нанорельефов остросфокусированным пучком тяжелых ионов обладает, по сравнению с существующими методами, рядом достоинств:

— диапазон дискретных значений следа пучка от 10 нм и выше;

— отсутствие ограничений по виду обрабатываемых материалов и их твердости;

— хорошая воспроизводимость и контролируемость параметров обработки;

— возможность поддержания на низком уровне тепловых эффектов в зоне воздействия пучка.

При этом наибольший интерес представляет режим работы в области нелинейного распыления, который характеризуется значительными коэффициентами ионного распыления и высокой линейной скоростью движения пучка по поверхности обрабатываемого материала, а следовательно, малым временем экспозиции. Следует отметить, что нелинейное распыление материалов при воздействии пучков тяжелых ионов начинается при достижении определенного предела по энерговыделению [1]. Существенное влияние на процесс распыления оказывает также структура материала: при уменьшении размеров зерен нанокристаллических материалов до 10—15 нм в приповерхностном слое происходит резкое увеличение коэффициента распыления.

Обработка поверхности пучком ионов осуществляется в вакууме. Форма микрорельефа в поперечном сечении определяется распределением плотности тока пучка ионов в зоне обработки. Сформированный пучок ионов сканируется по поверхности заготовки в импульсном или постоянном режиме, при этом, в зависимости от типа создаваемого микрорельефа, осуществляется перемещение самой заготовки. Возможность использования пучков тяжелых ионов с разной массой, а также модуляции тока и распределения плотности тока пучка ионов в зоне обработки позволяет формировать регулярные микрорельефы нового типа, которые нельзя получить другими способами.

Практически допустимым, относительно сложности создания инжектора ионов, ионно-оптической системы и других узлов установки ионного форматирования, а также обеспечения приемлемых значений коэффициентов ионного распыления, является использование тяжелых ионов с энергией 50—80 кэВ [2]. Указанный диапазон значений энергии пучков тяжелых ионов выбран на основе проведенных различными авторами экспериментальных исследований [1].

Форма канавки в поперечном сечении, получаемая в результате ионного распыления, — одна из основных характеристик создаваемого микрорельефа. Поэтому исключительно важным является исследование процесса формирования канавки и определение основных параметров, влияющих на ее геометрию.

Для исследования процесса формирования канавки разработана математическая модель на основе рекомендаций, приведенных в работах [1—3]. Рассмотрим исходные аналитические зависимости, определяющие процессы ионного распыления и формирования рельефа канавки на поверхности мишени из титана. Распыление осуществляется остросфокусирован-

ным пучком ионов висмута с нормальным распределением плотности тока в плоскости обработки при диаметре пучка 0,5 и 0,1 мм.

Скорость распыления материала поверхности мишени определяется зависимостью [1]

Ж = 1,04-10-5 уУМ2/р,

(1)

где у — плотность тока пучка ионов; М2 — массовое число атомов мишени; р — плотность материала мишени.

Для оценочных расчетов коэффициентов распыления в линейной области использовалась формула Смита [1] на основе теории Зигмунда:

У = ^ г2 М

Е

Е,

'суб

М2 (Е - 5ог1 г2)2

(2)

где Есуб — энергия сублимации; М1 — массовое число иона; г1, г2 — атомные номера иона и атома мишени соответственно; Е — энергия иона; при расчетах области распыления в данную формулу вводятся поправочные коэффициенты, полученные на основе экспериментальных исследований.

В общем случае коэффициент ионного распыления У зависит от угла 0 между направлением падения ионного пучка и нормалью к поверхности. Согласно работе [1] эту зависимость можно представить в следующем виде:

У = У0 Бее" 0, (3)

где У0 — коэффициент распыления при нормальном падении пучка, определяемый по формуле (2); и=1,5...2.

Плотность тока у в плоскости обработки имеет распределение, близкое к нормальному [2, 3] (рис. 1), и характеризуется зависимостью

у = — ехр а

( 2 ^ Г

(4)

где а, у0 — экспериментально определяемые параметры; г — радиус кольца мишени.

у, мА/см2

120 100 80 60 40 20

0 0,05 0,1 0,15 0,2 0,25 г, мм

Рис. 1

Для расчета формы канавки поверхность мишени условно разделена на кольца толщиной Аг (рис. 2). Если плотность тока ионного пучка у(г) в плоскости обработки задается зависимостью (4), то можно считать, что на поверхность каждого кольца площадью А? по нормали за время Аt падает АМш ионов.

Согласно определению коэффициента ионного распыления У на каждый падающий ион приходится У распыленных атомов. Следовательно, за время Аt с поверхности каждого кольца распыляется АМ атомов мишени.

Рис. 2

На рис. 3, а, б представлены результаты расчета по разработанной математической модели для мишени из титана, облучаемой ионами висмута. Штриховой линией показана форма канавки, получаемая при независимости коэффициента У от угла 0 при фиксированном времени экспозиции. Она практически полностью повторяет форму распределения плотности тока ]. Если учитывать, что в процессе ионного распыления угол падения ионов на поверхность подложки изменяется, то формируемый рельеф канавки приобретает вид, показанный на рис. 3 сплошной линией.

а) 0мм

-0,05 -0,1

-0,15 -0,2 г, мм

б) 0 10 20 30 40 50 г, мкм

-10

-20

г, мкм

Рис. 3

Таким образом, как показывают результаты расчета, распределение плотности тока в пучке ионов является основным параметром, определяющим форму канавки на поверхности

Механолюминесценция кварца и органического стекла

69

металлической подложки при воздействии сфокусированного пучка тяжелых ионов. При увеличении времени экспозиции необходимо учитывать изменение угла падения ионов на поверхность канавки, что приводит к увеличению коэффициента ионного распыления и существенно влияет на форму канавки.

список литературы

1. Плешивцев Н. В., Бажин А. И. Физика воздействия ионных пучков на материалы. М.: Вузовская книга, 1998. 392 с.

2. Шмидберский П. А. и др. НИР по разработке ионно-лучевой установки для травления поверхности металлической подложки (УИФ) / Сибирский физ.-техн. ин-т: Отчет. Томск, 1991.

3. Шмидберский П. А., Саметова А. А. Получение пучков тяжелых ионов нанометрического размера // Теплофизика, гидрогазодинамика, теплотехника: Сб. статей. Тюмень: Изд-во ТГУ , 2005. Вып. 4.

Сведения об авторах

Виктор Михайлович Медунецкий — д-р техн. наук, профессор; Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, кафедра технологии приборостроения; E-mail: vm57med@yandex.ru Анна Алексеевна Шмидберская — магистр; Тюменский государственный университет, кафедра микро- и

нанотехнологий; E-mail: polovinca777@rambler.ru

Рекомендована кафедрой Поступила в редакцию

технологии приборостроения СПбНИУ ИТМО 22.01.13 г.

УДК 535.378

Р. И. Мамалимов, И. П. Щербаков, Р. К. Мамедов

МЕХАНОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ КВАРЦА И ОРГАНИЧЕСКОГО СТЕКЛА

ПРИ УДАРНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ

Исследуется динамика вспышек механолюминесценции кварца и органического стекла при ударном воздействии. Описана установка, разработанная для регистрации и компьютерной обработки сигналов механолюминесценции твердых тел.

Ключевые слова: механолюминесценция, разрушение твердых тел.

Введение. Кварцевые и органические стекла широко используются в оптико-механической промышленности и, в частности, в деталях и узлах прецизионных механизмов, эксплуатируемых под воздействием механических напряжений и радиации. Такие условия эксплуатации вызывают образование дефектов в массиве и на поверхности изделий, что приводит к уменьшению их пропускания в видимой области спектра. Исследования природы дефектов и механизма их образования в кварце и органическом стекле (полиметилметакрила-те — ПММА) проводятся с использованием различных физических методов, в том числе методов люминесценции. Так, в работах [1—5] установлено, что люминесценция возникает между локальными возбужденным и основным электронными уровнями в радикале БЮ (в кварце) и ион-радикале —С+Н (в ПММА) при разрывах —О—Бь и С—С-связей.

Однако до последнего времени оставалось неясным, располагаются ли „разорванные" связи на границах трещин или образуются в объеме вещества. Кроме того, неясно, к какому виду люминесценции — флуоресценции или фосфоресценции — следует отнести свечение при разрушении кварца и органического стекла. Для ответа на эти вопросы авторами настоящей статьи были проведены исследования механолюминесценции (МЛ) монокристаллов

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.